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            化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>X射線儀器>X射線熒光光譜儀(XRF)>EDX-9000B PLUS  EDX9000B PLUS X熒光光譜礦產(chǎn)礦石分析儀 
            
  
            
  
             
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            EDX-9000B PLUS EDX9000B PLUS X熒光光譜礦產(chǎn)礦石分析儀
            
		  蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司
		  																			   
									   									   
		  
            價格：面議 
            
		  
            所在地：英飛思科學(xué)儀器廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
            
		  
            品牌：英飛思型號：EDX-9000B PLUS
            
		  
            公司電話：86-0512-68635865
            
		  
            公司傳真：
            
		  		  
            
			
            
			  
            
				 18962188051				  
            張經(jīng)理(聯(lián)系我時，請說明是在化工儀器網(wǎng)上看到的，謝謝)
            		
			  
            
			
            
		  
            
		  		  在線詢價進(jìn)入展商展臺 
		  
            
     
            
     
            
  
            
    
    
    
    
     
            
  
            
    
    
            
      
            上市時間：2022-08-18
            
      
            創(chuàng)新點：帶樣品自旋平臺，可充氦氣，可抽真空。
            自旋平臺可增大樣品測試面積，降低基體效應(yīng)
            充氦氣樣品腔可分析粉末或者液體中輕元素。
            真空系統(tǒng)可提高鈉鎂鋁等輕元素測試效果和檢出限。
            
      
            
    
            
    
    
            ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，
            生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究，考古等。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動態(tài)范圍，可實現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行超高精度的過程控制和質(zhì)量控制。
            具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物
            
    
            
    
    
    
            EDX-9000B PLUS XRF Spectrometer
            能量色散X熒光光譜儀
            礦產(chǎn)礦石專用分析儀
             
             
            Simply the Best 
            >*制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器
            >真空光路配備薄膜濾光片技術(shù)，提高輕元素檢出限
            >可同時分析40種元素
            >可分析固體，液體，粉末和泥漿
            >進(jìn)口X光管管芯提供可靠樣品激發(fā)性能
            >無損檢測，快速分析（1-2分鐘出結(jié)果）
            >無需化學(xué)試劑，無耗材，更環(huán)保，更高效
             
            產(chǎn)品特點
            1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高靈敏度、高精度分析 
            2.可同時分析40種元素 
            3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)
            4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復(fù)性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
            5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計，雙真空抽速機(jī)構(gòu)，真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng) 
            6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件，多任務(wù)，多窗口操作
            7.薄膜濾光片技術(shù)，有效提高輕元素檢出限
             

            >儀器參數(shù)
            儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm
            超大樣品腔：465mm*330mm*110mm
            半封閉樣品腔（抽真空時）：Φ150mm×高75mm 
            儀器重量: 48Kg
            元素分析范圍：Na11-U92鈉到鈾
            可分析含量范圍：1ppm- 99.99%
            探測器：AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器
            探測器分辨率：122 eV FWHM at 5.9 keV
            處理器類型：全數(shù)字化DP-5分析器
            譜總通道數(shù)：4096道
            X光管：高功率50瓦光管（進(jìn)口管芯），冷卻方式：硅脂冷卻
            光管窗口材料：鈹窗
            準(zhǔn)直器：多達(dá)8種選擇，最小0.2mm
            濾光片：7種濾光片的自由選擇和切換
            高壓發(fā)生裝置：原裝美國高壓，電壓輸出：0-50kV；輸出電流：0-1mA
            高壓參數(shù)：最小5kv可控調(diào)節(jié)，自帶電壓過載保護(hù)，輸出精度：0.01%
            樣品觀察系統(tǒng)：500萬像素高清CCD攝像頭
            電壓：220ACV 50/60HZ
            環(huán)境溫度：-10 °C 到35 °C 
             



















            儀器配置
            >標(biāo)準(zhǔn)配置
            >可選配置
            純Ag初始化標(biāo)樣
            磨樣機(jī)
            真空泵
            壓片機(jī)
            礦石專用樣品杯 
            烘干箱
            USB數(shù)據(jù)線
            ESI-900型XRF專用全自動熔樣機(jī)
            電源線
            電子秤
            測試薄膜
            礦石標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
            儀器出廠和標(biāo)定報告
            交流凈化穩(wěn)壓電源
            保修卡
            150目篩子
             
             
             







            全新設(shè)計的XTEST分析軟件
            軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。
            *光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量
            *對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的*校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收。
            *譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖
            *可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。
            *可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的最小二乘擬合進(jìn)行定量分析。
            *基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。
             
            鋁土礦樣品10次連續(xù)測試穩(wěn)定性報告
            樣品
            氧化鎂
            MgO
            三氧化二鋁
            Al2O3  
            二氧化硅
            SiO2
            氧化鉀
            K2O
            氧化鈣
            CaO
            二氧化鈦
            TiO2
            氧化錳
            MnO
            三氧化二鐵
            Fe2O3
            Sample-1
            0.438
            84.577
            8.754
            0.196
            0.502
            3.753
            0.049
            1.966
            Sample-2
            0.442
            84.853
            8.88
            0.197
            0.522
            3.799
            0.052
            1.962
            Sample-3
            0.424
            84.508
            8.81
            0.197
            0.509
            3.852
            0.051
            1.983
            Sample-4
            0.427
            84.537
            8.636
            0.196
            0.513
            3.777
            0.051
            1.963
            Sample-5
            0.424
            84.501
            8.709
            0.197
            0.503
            3.791
            0.05
            1.973
            Sample-6
            0.415
            84.496
            8.737
            0.2
            0.513
            3.861
            0.051
            2.013
            Sample-7
            0.45
            84.818
            8.917
            0.197
            0.511
            3.854
            0.051
            1.966
            Sample-8
            0.423
            84.577
            8.689
            0.201
            0.501
            3.838
            0.05
            1.971
            Sample-9
            0.447
            84.381
            8.74
            0.199
            0.495
            3.853
            0.05
            1.971
            Sample-10
            0.453
            84.753
            8.893
            0.201
            0.517
            3.793
            0.052
            1.981
            Average         平均值
            0.434
            84.6
            8.776
            0.198
            0.509
            3.817
            0.051
            1.975
            Standard Deviation 
            標(biāo)準(zhǔn)偏差
            0.013
            0.155
            0.094
            0.002
            0.008
            0.039
            0.001
            0.015
            RSD
            相對標(biāo)準(zhǔn)偏差
            3.10%
            0.18%
            1.08%
            0.97%
            1.63%
            1.02%
            1.91%
            0.76%

            
  
            
  
                 
        
    
    
  
            

            

            

  
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