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 日本日置HIOKI發(fā)售SM7420高阻計：
 

HIOKI這次發(fā)售了高阻計SM7420，4ch同時測量大幅提高生產(chǎn)效率。
SM7420高阻計是用于評估和檢查智能手機、混動電動汽車中的電子元件性能的4ch測試儀器。而且，和我司之前的DSM-8542相比，檢查速度提高了1倍，測量的再現(xiàn)性和抗干擾性都有大幅提升，因此能大大的提高評估和檢查的效率。

SM7420高阻計開發(fā)背景

隨著智能手機、可穿戴設備、混動電動汽車（HV/HEV）等的普及，疊層陶瓷電容器、共模濾波器和SAW濾波器等電子元件市場也進一步擴大。在生產(chǎn)過程中需要測量這類電子元件的絕緣電阻值，并對其性能進行評估。
對于進行批量生產(chǎn)的廠家，如何大量并迅速的進行測量變得尤為重要。而且，由于汽車中所用的電容等元件都朝著高耐壓方向發(fā)展，在掌握其性能時就會需要測量高壓輸出的絕緣電阻。 HIOKI為了滿足此類生產(chǎn)廠家需求，著力開發(fā)了是以往產(chǎn)品的2倍測量速度的測量儀器。


SM7420高阻計主要用途

電子元件（層陶瓷電容器、共模濾波器和SAW濾波器等）的性能評估


SM7420高阻計產(chǎn)品特點

1.實現(xiàn)4ch測量
電子元件生產(chǎn)中，為了提高產(chǎn)量，有時需要并列同時測量多通道，SM7420繼承了之前機型DSM-8542的優(yōu)點，可以進行4ch的絕緣測量。
※用于測量的電源需要另外準備。
2.檢查速度是以往機型的2倍，縮短了檢查時間。
zui快檢查時間是6.7ms（0.0067秒），和以往機型的檢查速度相比提高了1倍。由于縮短了檢查時間，因此生產(chǎn)效率也會提升。
3.通過改善測量的再現(xiàn)性和抗干擾性，提高生產(chǎn)效率
和以往機型相比，測量的再現(xiàn)性和抗干擾性有大幅提升。在同一條件下進行反復測量時，測量值的變化程度降低為通常測量時的1/60。而且，混入50V干擾時，zui小能達到1/300，降低了變化幅度。
這樣，通過增強測量的穩(wěn)定性，從而提高檢查的效率。