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            助力提升芯片質(zhì)量和產(chǎn)量,半導(dǎo)體工藝監(jiān)測中的光譜應(yīng)用
            2022年09月16日 14:25:12 來源:愛蛙科技 點擊量:3789

            根據(jù)檢測工藝所處的環(huán)節(jié),IC集成電路檢測被分為設(shè)計驗證、前道量檢測和后道檢測。前道量測、檢測均會用到光學(xué)技術(shù)和電子束技術(shù)。

              【化工儀器網(wǎng) 行業(yè)百態(tài)】根據(jù)檢測工藝所處的環(huán)節(jié),IC集成電路檢測被分為設(shè)計驗證、前道量檢測和后道檢測。前道量測、檢測均會用到光學(xué)技術(shù)和電子束技術(shù),其中光學(xué)量測通過分析光的反射、衍射光譜間接進(jìn)行測量,其優(yōu)點是速度快、分辨率高、非破壞性。后道檢測工藝是芯片生產(chǎn)線的“質(zhì)檢員”,根據(jù)工藝在封裝環(huán)節(jié)的前后順序,后道檢測可以分為CP測試和FT測試。
             
              在以上測試中,光譜儀可以用于膜厚測量、蝕刻終點監(jiān)控等工藝中。
             
              (一) 膜厚測量
             
              半導(dǎo)體集成電路的生產(chǎn)以數(shù)十次至數(shù)百次的鍍膜、光刻、蝕刻、去膜、平坦等為主要工序,膜層的厚度、均勻性等直接影響芯片的質(zhì)量和產(chǎn)量,在加工中必須不斷地檢測及控制膜層的厚度。光學(xué)薄膜測厚儀是半導(dǎo)體生產(chǎn)流程中必不可少的設(shè)備之一,用于對芯片晶圓及相關(guān)半導(dǎo)體材料的鍍膜厚度等進(jìn)行檢測。
             
              半導(dǎo)體光學(xué)薄膜測厚儀技術(shù)主要有光譜反射儀和橢偏儀兩種。橢偏儀考慮了光的極化,采用P波和S偏振反射光之間的相位差異,適用于非常薄的薄膜,并可直接測試N,K值。光譜反射儀雖然沒有橢偏儀的這些性能,但也能測量數(shù)納米以下的薄膜厚度,測量精度高,而且測量速度較快。
             
              基于光波的干涉現(xiàn)象,光束照射在薄膜表面,由于入射介質(zhì)、薄膜材料和基底材料具有不同的折射率值和消光系數(shù)值,使得光束在透明/半透明薄膜的上下表面發(fā)生反射,反射光波相互干涉,從而形成干涉光,這些干涉光在不同相位處的強(qiáng)度將隨著薄膜的厚度發(fā)生變化。通過對干涉光的檢測,結(jié)合適當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)模型即可計算得到薄膜的厚度。
             
              海洋光學(xué)(Ocean Insight)膜厚儀檢測系統(tǒng),配置有采樣平臺、UV-VIS反射探頭,配置如下。
             
            圖1:薄膜厚度測量系統(tǒng)配置
             
              (二) 終點監(jiān)控
             
              在基于等離子體的蝕刻工藝中,等離子體監(jiān)測對工藝控制很重要。晶圓是用光刻技術(shù)制造和操作的,蝕刻是這一過程的主要部分,在這一過程中,材料可以被分層到一個非常具體的厚度。當(dāng)這些層在晶圓表面被蝕刻時,等離子體監(jiān)測被用來跟蹤晶圓層的蝕刻,并確定等離子體何時完全蝕刻了一個特定的層并到達(dá)下一個層。通過監(jiān)測等離子體在蝕刻過程中產(chǎn)生的發(fā)射線,可以精確跟蹤蝕刻過程。這種終點檢測對于使用基于等離子體的蝕刻工藝的半導(dǎo)體材料生產(chǎn)至關(guān)重要。
             
              等離子體監(jiān)測可以通過靈活的模塊化設(shè)置完成,使用高分辨率光譜儀,如海洋光學(xué)的HR或Maya2000 Pro系列(后者是檢測UV氣體的一個很好的選擇)。對于模塊化設(shè)置,HR光譜儀可以與抗曝光纖相結(jié)合,以獲得在等離子體中形成的定性發(fā)射數(shù)據(jù)。從等離子體室中形成的等離子體中獲取定性發(fā)射數(shù)據(jù)。如果需要定量測量,用戶可以增加一個光譜庫來比較數(shù)據(jù),并快速識別未知的發(fā)射線、峰和波段。
             
            圖2:模塊化的光譜儀設(shè)置可以配置為真空室中的等離子體測量。
             
            圖3:通過真空室窗口測量氬氣等離子體的發(fā)射。
             
              紫外-可見-近紅外光譜是測量等離子體發(fā)射的有力方法,以實現(xiàn)元素分析和基于等離子體過程的精確控制。這些數(shù)據(jù)說明了模塊化光譜法對等離子體監(jiān)測的能力。Maya2000 Pro在紫外光下有很好的響應(yīng)。另外,光譜儀和子系統(tǒng)可以被集成到其他設(shè)備中,并與機(jī)器學(xué)習(xí)工具相結(jié)合,以實現(xiàn)對等離子體室條件更復(fù)雜的控制。
             
              在半導(dǎo)體領(lǐng)域中的光譜應(yīng)用是海洋光學(xué)的未來業(yè)務(wù)側(cè)重點之一。從Ocean Optics更名為Ocean Insight,也是海洋光學(xué)從光譜產(chǎn)品生產(chǎn)商轉(zhuǎn)型為光譜解決方案提供商戰(zhàn)略調(diào)整的開始。海洋光學(xué)不僅繼續(xù)豐富擴(kuò)充光傳感產(chǎn)品線,且增強(qiáng)支持和服務(wù)能力,為需要定制方案的客戶提供量身定制的系統(tǒng)化解決方案和應(yīng)用指導(dǎo)。作為海洋光學(xué)官方授權(quán)合作伙伴,愛蛙科技(iFrog Technology)致力于與海洋光學(xué)攜手共同幫助客戶面對問題、探索未來課題,為打造量身定制的光譜解決方案而努力。
             
              本文資料來源-海洋光學(xué)/ 編輯整理-愛蛙科技
             
              關(guān)于海洋光學(xué)
             
              海洋光學(xué)(Ocean Insight)作為世界領(lǐng)先的光學(xué)解決方案提供商,應(yīng)用于半導(dǎo)體、照明及顯示、工業(yè)控制、環(huán)境監(jiān)測、生命科學(xué)生物、醫(yī)藥研究、教育等領(lǐng)域。其產(chǎn)品包括光譜儀、化學(xué)傳感器、計量檢測設(shè)備、光纖、透鏡等。作為光纖光譜儀的發(fā)明者,如今海洋光學(xué)在全球已售出超過40萬套的光纖光譜儀。
             
              關(guān)于愛蛙科技
             
              愛蛙科技(iFrog Technology)是海洋光學(xué)官方授權(quán)合作伙伴,提供光譜分析儀器銷售、租賃、維護(hù),以及解決方案定制、軟件開發(fā)在內(nèi)的全鏈條一站式精準(zhǔn)服務(wù)。
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