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            以品質(zhì)樹立品牌 南京芯測(cè)專注半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備
            2022年09月27日 11:23:06 來(lái)源:化工儀器網(wǎng) 作者:羊舌木 點(diǎn)擊量:7296

            南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司專注打造半導(dǎo)體晶圓級(jí)測(cè)試及芯片檢測(cè)等系統(tǒng)集成平臺(tái)。

              【化工儀器網(wǎng) 本站速遞】芯片的電路與各類印制板電路一樣,PCB在制作過程中不同廠家,不同生產(chǎn)設(shè)備,都存在生產(chǎn)差異,甚至存在瑕疵或者缺陷。然而,芯片電路相比PCB電路,可以認(rèn)為是微觀電路,在制造過程中,采用了更加微觀的印制刻蝕技術(shù),存在制造缺陷與瑕疵也是在所難免。因此,芯片測(cè)試十足重要,甚至能夠影響芯片最終的成品。
             
              南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司(以下簡(jiǎn)稱:南京芯測(cè))專注打造半導(dǎo)體晶圓級(jí)測(cè)試及芯片檢測(cè)等系統(tǒng)集成平臺(tái)。目前南京芯測(cè)主要研發(fā)在片測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷與晶圓在片測(cè)試軟件,產(chǎn)品包括手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)、硅光探針臺(tái)、射頻探針臺(tái)、高低溫探針臺(tái)、除此之外涉及經(jīng)銷ESD測(cè)試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測(cè)設(shè)備等。南京芯測(cè)服務(wù)的領(lǐng)域涵蓋半導(dǎo)體晶圓級(jí)在片測(cè)試、射頻微波器件測(cè)量,大功率器件測(cè)試、微組裝封裝工藝檢測(cè)、失效分析、材料測(cè)試等應(yīng)用行業(yè)。
             
              GP2000探針臺(tái)
             
            GP2000探針臺(tái)
             
              GP2000探針臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測(cè)量,能夠提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測(cè)試系統(tǒng)方案。一臺(tái)機(jī)器即可適配垂直探卡、裂片后的藍(lán)膜或多Site芯片測(cè)試。并且具有多孔吸附式載物臺(tái)設(shè)計(jì),更好地兼容薄晶圓固定。
             
              產(chǎn)品特點(diǎn):
             
              1.高品質(zhì)顯微鏡搭配高分辨率CCD系統(tǒng),可直觀了解扎針情況,提高扎針的準(zhǔn)確性和效率;
             
              2.可升級(jí)的高低溫系統(tǒng),為芯片提供更 加成熟穩(wěn)定的老化測(cè)試環(huán)境;
             
              3.緊湊且可靠的機(jī)械設(shè)計(jì) ,更適用于芯的測(cè)試及建模系統(tǒng)升級(jí);
             
              4.能夠根據(jù)未來(lái)需求,可提供多種升級(jí) 模塊,輕松實(shí)現(xiàn)功能升級(jí);
             
              5.短軸式拉桿設(shè)計(jì),將更加符合新一 代芯片系統(tǒng)測(cè)試的需求。拉桿在任 意位置可停留、極限位置能快速鎖 定、分離位可固定,將進(jìn)一步防止誤操作,提高測(cè)試效率,節(jié)省成本。
             
              TS2000-IFE8英寸全自動(dòng)RF|硅光|直流探針臺(tái)
             
            TS2000-IFE8英寸全自動(dòng)RF|硅光|直流探針臺(tái)
             
              TS2000-IFE8英寸全自動(dòng)RF|硅光|直流探針臺(tái)是一個(gè)自動(dòng)化探針臺(tái),可以從使用一開始或在測(cè)試領(lǐng)域內(nèi)任何需要時(shí)轉(zhuǎn)換為帶有 Waferwallet MAX 的全自動(dòng)探針臺(tái)。主要應(yīng)用在負(fù)載拉動(dòng)、RF、mmW、硅光子學(xué)、設(shè)計(jì)驗(yàn)證(產(chǎn)品工程)或在定義的測(cè)試環(huán)境中測(cè)試MEMS和其他傳感器。
             
              產(chǎn)品特點(diǎn):
             
              1. 集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證,在-60~300°C寬溫度范圍內(nèi)的失效分析;
             
              2.晶圓級(jí)可靠性擴(kuò)展靈活性;
             
              3.可編程顯微鏡運(yùn)動(dòng),以更自動(dòng)化和易于使用;
             
              4.最大限度地減少毫米W和探測(cè)與主動(dòng)探針的板到吸盤的距離;
             
              5.簡(jiǎn)單的晶片或單個(gè)DUT從前面加載;
             
              6.完全集成Prober控制,能夠用于更快、更安全、更方便的系統(tǒng)和測(cè)試操作。
             
              南京芯測(cè)的目標(biāo)是成為國(guó)內(nèi)晶圓級(jí)在片測(cè)試,器件測(cè)量系統(tǒng)軟硬件的相當(dāng)精良的供應(yīng)商,以滿足國(guó)內(nèi)用戶需求。在接下來(lái)的時(shí)間里,南京芯測(cè)也將繼續(xù)開發(fā)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù),為用戶帶來(lái)更好的產(chǎn)品體驗(yàn)。
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