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英國新建散射掃描近場光學(xué)顯微鏡設(shè)施
2023年12月12日 10:53:55
來源：化工儀器網(wǎng) 作者：楊 點(diǎn)擊量：6212
近日，英國國家物理實(shí)驗(yàn)室(NPL)和曼徹斯特大學(xué)建立了新的聯(lián)合設(shè)施——散射掃描近場光學(xué)顯微鏡(s-SNOM)。
【化工儀器網(wǎng) 行業(yè)百態(tài)】現(xiàn)代科技的不斷進(jìn)步，包括微納加工技術(shù)和掃描探針顯微技術(shù)，極大的推動了近場光學(xué)顯微鏡的發(fā)展，出現(xiàn)各種反饋形式和工作方式的近場光學(xué)顯微鏡(反射式、透射式、多探針式等)。目前得到學(xué)術(shù)界認(rèn)可的近場光學(xué)顯微鏡是基于掃描探針顯微技術(shù)的。然而，基于掃描探針顯微技術(shù)得到的近場光學(xué)圖像的分辨率比較難于突破光的衍射極限。
自1984年來，科學(xué)家們(參見文章Phil. Trans. R. Soc. Lond. A (2004) 362, 787–805 [1])提出了通過金屬化的AFM探針，利用散射的方式得到了分辨率在~10nm左右或更好的近場光學(xué)圖像，從而推動的近場光學(xué)領(lǐng)域的研究。
散射式近場光學(xué)顯微鏡NeaSNOM，具有如下的特點(diǎn)：獨(dú)有的極高空間分辨率10nm；可適用于可見、紅外和太赫茲光譜范圍；近場振幅和相位分辨測量功能；納米尺度下，用于FTIR吸收光譜研究；極高的分辨率下，研究有機(jī)或無機(jī)樣品，整個操作僅需要常規(guī)的AFM樣品準(zhǔn)備過程。因此，推動了等離激元研究、 石墨烯研究和納米尺度(<20nm)FTIR等研究領(lǐng)域。
近日，英國國家物理實(shí)驗(yàn)室(NPL)和曼徹斯特大學(xué)建立了新的聯(lián)合設(shè)施——散射掃描近場光學(xué)顯微鏡(s-SNOM)。
該設(shè)施位于英國曼徹斯特大學(xué)，能夠在寬溫度范圍內(nèi)為產(chǎn)業(yè)界提供納米級、非接觸、非破壞性近紅外和可見光波長的多功能光電表征。該設(shè)施能夠提供詳細(xì)納米級信息的能力，對于增強(qiáng)或?qū)崿F(xiàn)依賴于各種低維和納米工程材料及其光電特性的量子技術(shù)至關(guān)重要。通過該設(shè)施，NPL和曼徹斯特大學(xué)將為英國工業(yè)界提供納米光電子學(xué)和納米光子學(xué)量子技術(shù)方面的戰(zhàn)略競爭優(yōu)勢。預(yù)計(jì)這些技術(shù)對于未來十年的數(shù)字基礎(chǔ)設(shè)施、醫(yī)療保健、能源和環(huán)境以及英國的安全和恢復(fù)能力至關(guān)重要。
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