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序號(hào)

采購(gòu)項(xiàng)目名稱(chēng)

采購(gòu)需求概況

預(yù)算金額（萬(wàn)元）

預(yù)計(jì)采購(gòu)日期

1

超分辨超快光譜系統(tǒng)

1.飛秒激光器光源；2.超快瞬態(tài)吸收顯微成像系統(tǒng)；3.超快電鏡；4.拉曼光譜儀；5.振動(dòng)切片機(jī)。

1300

2025年04月

2

光學(xué)遙感相機(jī)仿真設(shè)計(jì)與測(cè)試設(shè)備

采購(gòu)集成仿真系統(tǒng)、光學(xué)設(shè)計(jì)軟件、動(dòng)態(tài)干涉儀、600mm口徑平行光管、鏡頭智能化裝調(diào)測(cè)試系統(tǒng)等國(guó)產(chǎn)設(shè)備及軟件

1300

2025年04月

3

玻璃基加工設(shè)備

擬采購(gòu)濕法刻蝕機(jī)，電鍍機(jī)，CVS，電位滴定，涂膠機(jī)，去膠機(jī)，化鍍機(jī)，激光誘導(dǎo)機(jī)，研磨機(jī)，切割機(jī)（玻璃），印刷機(jī)，回流機(jī)，F(xiàn)lux清洗機(jī)，鍵合機(jī)（晶圓鍵合），解鍵合機(jī)用于玻璃基加工。

2353

2025年04月

4

先進(jìn)傳感測(cè)試系統(tǒng)

擬采購(gòu)FIB-SEM雙束電鏡 ，臺(tái)階儀 ，瞬態(tài)光致發(fā)光光譜測(cè)試儀，圓二色譜儀，532nm 脈沖激光器， 超景深光學(xué)顯微鏡，氣質(zhì)聯(lián)用儀，用于先進(jìn)傳感測(cè)試。

1755

2025年04月

5

先進(jìn)測(cè)試加工設(shè)備

擬采購(gòu)超連續(xù)譜光纖激光器，魯汶儀器Pishow電感耦合等離子體刻蝕平臺(tái)，超導(dǎo)磁體探針臺(tái)，物理氣相沉積設(shè)備（PVD）設(shè)備用于先進(jìn)測(cè)試加工。

1816

2025年04月

6

MEMS傳感器封裝測(cè)試設(shè)備

擬采購(gòu)MEMS晶圓片測(cè)試、封裝、MEMS傳感器芯片參數(shù)測(cè)試、可靠性測(cè)試等相關(guān)設(shè)備，用于驗(yàn)證MEMS傳感器芯片的各項(xiàng)性能與指標(biāo)。

3007

2025年04月

7

MEMS傳感器特種加工工藝設(shè)備

擬采購(gòu)摻雜設(shè)備、深硅刻蝕設(shè)備，用于MEMS傳感器摻雜，實(shí)現(xiàn)阻值調(diào)控；高質(zhì)量的通孔。

3100

2025年04月

8

光學(xué)遙感相機(jī)集成裝調(diào)相關(guān)設(shè)備

采購(gòu)氣浮光學(xué)平臺(tái)、焦面拼接儀、大口徑平行光管及平面鏡、光學(xué)相機(jī)智能集成測(cè)試系統(tǒng)等國(guó)產(chǎn)設(shè)備。

2700

2025年04月

9

MEMS傳感器制造設(shè)備

擬采購(gòu)管熱爐、濕法蝕刻、勻膠顯影、干法蝕刻、薄膜沉積等相關(guān)設(shè)備，用于MEMS傳感器加工制備。

4693

2025年04月

10

光學(xué)遙感相機(jī)高性能測(cè)試設(shè)備

采購(gòu)光譜反射率及發(fā)射率測(cè)試儀、高性能示波器和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、激光干涉儀等設(shè)備、紅外熱像儀、紅外光譜輻射計(jì)、可見(jiàn)近紅外光譜輻射計(jì)、可見(jiàn)短波紅外光譜輻射計(jì)、振動(dòng)模態(tài)測(cè)試分析系統(tǒng)、大氣傳輸軟件等進(jìn)口設(shè)備及軟件。

19000

2025年04月

11

光學(xué)遙感相機(jī)環(huán)境試驗(yàn)相關(guān)設(shè)備

采購(gòu)振動(dòng)臺(tái)、高低溫試驗(yàn)類(lèi)設(shè)備、真空罐、光學(xué)相機(jī)測(cè)控溫系統(tǒng)等國(guó)產(chǎn)設(shè)備。

1100

2025年04月

12

光學(xué)遙感相機(jī)成像性能測(cè)試相關(guān)設(shè)備

采購(gòu)輻射響應(yīng)測(cè)試裝置、光譜定標(biāo)、積分球光源、真空低溫黑體、相機(jī)地檢及成像測(cè)試系統(tǒng)、相機(jī)轉(zhuǎn)臺(tái)等國(guó)產(chǎn)設(shè)備。

1200

2025年04月

13

光電微納掃描測(cè)頭檢測(cè)與裝調(diào)設(shè)備

為滿(mǎn)足光電微納掃描測(cè)頭研制過(guò)程的檢測(cè)與裝調(diào)需求，采購(gòu)進(jìn)口設(shè)備包括LDLS高亮寬譜光源、LDLS光纖輸出光源、高精度六足并聯(lián)調(diào)整臺(tái)等，國(guó)產(chǎn)設(shè)備包括300mm離軸反射式平行光管、可見(jiàn)光平行光管等。

556.5

2025年04月

14

超分辨工業(yè)相機(jī)性能測(cè)試相關(guān)設(shè)備

為滿(mǎn)足超分辨工業(yè)相機(jī)性能測(cè)試需求，采購(gòu)進(jìn)口設(shè)備包括寬光譜MTF測(cè)量?jī)x等，國(guó)產(chǎn)設(shè)備包括可見(jiàn)光至短波紅外光譜掃描成像系統(tǒng)、中波紅外光譜掃描成像系統(tǒng)、小型六足并聯(lián)調(diào)整臺(tái)、多自由度雙工件臺(tái)系統(tǒng)等。

1162

2025年04月

15

顯微物鏡超精密檢測(cè)與裝調(diào)設(shè)備

為滿(mǎn)足顯微物鏡超精密檢測(cè)與裝調(diào)需求，采購(gòu)進(jìn)口設(shè)備包括中心偏差測(cè)量?jī)x、高精度折射率測(cè)量?jī)x、超精密定心車(chē)與單點(diǎn)車(chē)、紫外至近紅外分光光度計(jì)。

1398

2025年04月

16

晶圓缺陷檢測(cè)裝備研制項(xiàng)目

為滿(mǎn)足晶圓缺陷檢測(cè)裝備研制過(guò)程中的檢測(cè)、裝調(diào)、實(shí)驗(yàn)需求，采購(gòu)進(jìn)口設(shè)備包括266nm紫外干涉儀，采購(gòu)國(guó)產(chǎn)設(shè)備包括四維精密運(yùn)動(dòng)臺(tái)、高速旋轉(zhuǎn)掃描臺(tái)、高功率深紫外激光器、高功率紫外連續(xù)激光。

1165.5

2025年04月