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            SurPASS 3-固體表面 Zeta 電位分析儀

            2025-03-04

            產(chǎn)      地:
            奧地利
            所在地區(qū):
            上海
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            在表面分析中,固體表面 Zeta 電位分析儀SurPASS 3基于流動電勢和流動電流測量法,從而研究宏觀固體表面 Zeta電位。 它可以提供有關表面電荷和相關性質的信息,并可檢測表面性質中微小的變化。


            csm_SurPASS-3_perspective_2_d9a5e938b3.jpg

            Zeta電位:
            范圍:所用測量原理決定沒有限制
            再現(xiàn)性:+/-0.5 mV

            等電點:
            再現(xiàn)性:+/-0.1 pH

            平板固體:
            zui小 35 mm x 15 mm,厚度<20 mm,
            20 mm x 10 mm,厚度<2 mm,
            直徑為 14 mm 或 15 mm 的圓片

            纖維:
            zui少重量 100 mg

            粉末:
            zui小粒徑 25 μm

            膜和過濾材料
            生物材料
            半導體工業(yè)
            纖維、織物和無紡布
            化妝品和洗滌劑
            礦物

            針對各種形狀的固體
            各種不同的測量池適用于天然的和人造的纖維和織物、顆粒樣品、粗顆粒和平板樣品。

            突破極限-流動奧妙
            快速測量:
            Zeta電位測量少于2分鐘
            表面Zeta電位直接分析:
            適用于實際樣品,無需使用示蹤顆粒



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