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            產(chǎn)品展廳

            產(chǎn)品求購企業(yè)資訊會展

            發(fā)布詢價單

            化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>質(zhì)譜>有機質(zhì)譜儀(Organic-MASS)>德國STOE STADI P 粉末衍射儀

            德國STOE STADI P 粉末衍射儀

            具體成交價以合同協(xié)議為準
            • 公司名稱 源順科技儀器有限公司
            • 品牌
            • 型號 德國STOE STADI P
            • 產(chǎn)地 德國
            • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
            • 更新時間 2018/5/14 9:00:00
            • 訪問次數(shù) 2796
            產(chǎn)品標簽

            粉末衍射X射線衍射儀

            聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


            源順有限公司

            源順有限公司是一家專門從事納米科技,材料分析,光電產(chǎn)品檢測及生產(chǎn)設備銷售和技術咨詢的高科技公司。我們*代理具有*水平的分析儀器,產(chǎn)品涵蓋了微觀結構觀察,物理性能,力學性能及電磁學性能。
            Total Solution ,為客戶提供整體解決方案,是源順公司一貫堅持的宗旨。 這個宗旨象征*、品質(zhì)與客戶服務,并將在新的世紀中,全面提升服務品質(zhì)以伴隨您的闊步發(fā)展。
            源順公司秉持企業(yè)文化:『誠信』、『品質(zhì)』、『服務』、『團隊』、『創(chuàng)新』,本著其宗旨『Total Solution』,繼續(xù)將*的技術,以Z佳的成本效益,提供客戶*質(zhì)的精密分析儀器和生產(chǎn)設備,并堅持Z*的服務。

            公司產(chǎn)品主要有:
            LUM公司: 多功能的顆粒狀態(tài)與穩(wěn)定度分析儀
            Qudix公司: 奈米 & 微米顆粒大小分析儀。
            Scinco公司: 可見光及紫外光光度計(UV-Vis Spectrophotometer), Colormate。
            SOFRASER公司: 在線粘度計。
            ProRheo公司: 高階粘度計。
            Rame-hart公司: 接觸角及表面張力分析儀。
            AET 公司: 微波誘電分析儀
            NANOFILM公司: 呈象橢偏儀,布氏角顯微鏡,LB 薄膜分析。
            UNIOPT公司: 雙折射分析儀。
            NonoInk: Dip Pen Nanolithography (DPN) 沾筆式納米制程技術。
            ANASYS 公司: Nano-Thermal Analysis。
            PNI公司: 原力顯微鏡(AFM)
            Capres公司: MRAM,寫磁頭的MTJ 磁阻和隧阻&材料表面 Nano微區(qū)范圍的阻抗分析.
            LYNCEETEC公司: DHM (數(shù)字全析顯微鏡)
            BEDE公司: 高分辨X射線衍射儀。
            OMI公司: Solstice (晶圓或外延片的能階Bandgap分析,Strained Silicon 分析)。
            Equinox (IC or MEMS封裝應變,3D熱機械變形及CTE分析)。
            Pascal公司: 脈沖雷射濺鍍MBE(PLD MBE) – ZnO, GaN, etc.。
            Cambridge Nano Tech: 原子薄膜沉積儀 (ALD).
            EpiQuest公司: 研發(fā)型 MOCVD,MBE,VCSEL 氧化系統(tǒng)。


            源順公司總部設在香港,在上海和北京設立了分公司,深圳和成都設立了辦事處,并有強大的技術和維修隊伍,為客戶提供Z高水平的產(chǎn)品和服務。

            公司產(chǎn)品主要有:X射線衍射系統(tǒng);多功能穩(wěn)定度分析儀 ;奈米顆粒大小分析儀;光電制造和檢測系統(tǒng);粘度分析系統(tǒng);粒度及微流變分析系統(tǒng);數(shù)字全析顯微鏡;呈象橢偏儀,布氏角顯微鏡,LB 薄膜分析;接觸角及表面張力分析儀;沾筆式納米制程技術;在線粘度計;原子薄膜沉積儀。

            模塊化設計使同一光源可以提供給兩個獨立(相同或不同)的測角儀,即透射/德拜-謝樂模式和布拉格-布倫塔諾模式,而且測角儀可以采用立式和臥式。

            特點:
            透射/德拜-謝樂及布拉格-布倫塔諾模式
            高分辨衍射模式,使得峰形銳利
            Ge(111)單色器提供了純Kα1,可以供Fe, Co, Cu 和Mo靶自動或手動調(diào)整一個自由度即可以實現(xiàn)單色器的調(diào)整
            可以分析空氣敏感或濕度敏感以及微量樣品(0.01-0.1mg)
            高低溫附件
            樣品臺以及探測器的互換非常方便

            探測器:

            閃爍計數(shù)器
            位敏探測器
            影像板探測器(IP)



            軟件:
            STOE Win XPOW
            Search/Match物相分析軟件,支持 ICCD PDF2 /PDF4
            CSD Rietveld 精修
            LAYER反射分析

            選配:

            零散射箔透射模式樣品臺支架(適應厚度調(diào)整)
            開放式和封閉式毛細管樣品臺支架
            可調(diào)反射樣品(粉末或塊狀)支架
            高低溫附件臺,可調(diào)溫度在20K到2000K
            自動樣品轉(zhuǎn)換臺(透射模式30 /反射12)


            重量: 約350Kg
            尺寸: 1700*900*1900mm
            聚焦圓直徑: 130mm
            2范圍: 0-140
            掃描模式: 自由選擇
            角度重現(xiàn)性 0.0005
            zui小步長 0.0005
            探測器: 線性位敏探測器,固體探測器,
            閃爍計數(shù)器,IP探測器
            輻射防護: 全互鎖系統(tǒng)
            高壓發(fā)生器: 3.6KW,水冷
            計算機: PC,32位Windows OS


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