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            產(chǎn)品展廳
            
			
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            化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)測量儀>橢偏儀>EP3  nanofilm呈像橢偏儀 
            
  
            
  
            
    
    
      
            

			
            EP3  nanofilm呈像橢偏儀
            
			
            
			
			
							
				
            
													
            
							    							
            具體成交價以合同協(xié)議為準
            
							
            
											
            
						
              
							
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								公司名稱
								源順科技儀器有限公司
							
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								品牌
								
							
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								型號
								EP3
							
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								產(chǎn)地
								德國
							
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								廠商性質(zhì)
								經(jīng)銷商
							
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								更新時間
								2018/5/14 9:00:00
							
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								訪問次數(shù)
								1789
							
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						產(chǎn)品標簽
						
            呈像橢偏儀橢偏儀nanofilm
            
					
            
										
            
						
																					
													
            聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
            
											
            
				
            
							
            
			
			
		
            
		
            
  
            
  
    
            
    
    
    
    
     
            
  
            
  	  	
            
  		
  		
            
  			
            
  			
            
	  			源順有限公司

                源順有限公司是一家專門從事納米科技，材料分析，光電產(chǎn)品檢測及生產(chǎn)設(shè)備銷售和技術(shù)咨詢的高科技公司。我們*代理具有*水平的分析儀器，產(chǎn)品涵蓋了微觀結(jié)構(gòu)觀察，物理性能，力學(xué)性能及電磁學(xué)性能。 
                 Total Solution ，為客戶提供整體解決方案，是源順公司一貫堅持的宗旨。 這個宗旨象征*、品質(zhì)與客戶服務(wù)，并將在新的世紀中，全面提升服務(wù)品質(zhì)以伴隨您的闊步發(fā)展。   
                源順公司秉持企業(yè)文化：『誠信』、『品質(zhì)』、『服務(wù)』、『團隊』、『創(chuàng)新』，本著其宗旨『Total Solution』，繼續(xù)將*的技術(shù)，以Z佳的成本效益，提供客戶*質(zhì)的精密分析儀器和生產(chǎn)設(shè)備，并堅持Z*的服務(wù)。 
                
            公司產(chǎn)品主要有： 
             LUM公司: 多功能的顆粒狀態(tài)與穩(wěn)定度分析儀 
             Qudix公司: 奈米 & 微米顆粒大小分析儀。 
             Scinco公司: 可見光及紫外光光度計(UV-Vis Spectrophotometer), Colormate。
             SOFRASER公司: 在線粘度計。
             ProRheo公司: 高階粘度計。
             Rame-hart公司: 接觸角及表面張力分析儀。 
            AET 公司: 微波誘電分析儀
             NANOFILM公司: 呈象橢偏儀，布氏角顯微鏡，LB 薄膜分析。
             UNIOPT公司: 雙折射分析儀。
             NonoInk: Dip Pen Nanolithography (DPN) 沾筆式納米制程技術(shù)。 
             ANASYS 公司: Nano-Thermal Analysis。 
             PNI公司: 原力顯微鏡(AFM) 
             Capres公司: MRAM,寫磁頭的MTJ 磁阻和隧阻&材料表面 Nano微區(qū)范圍的阻抗分析.
             LYNCEETEC公司: DHM (數(shù)字全析顯微鏡) 
             BEDE公司: 高分辨X射線衍射儀。 
             OMI公司: Solstice (晶圓或外延片的能階Bandgap分析，Strained Silicon 分析)。 
            Equinox (IC or MEMS封裝應(yīng)變,3D熱機械變形及CTE分析)。 
             Pascal公司: 脈沖雷射濺鍍MBE(PLD MBE) – ZnO, GaN, etc.。 
             Cambridge Nano Tech: 原子薄膜沉積儀 (ALD).
             EpiQuest公司: 研發(fā)型 MOCVD，MBE，VCSEL 氧化系統(tǒng)。 


                源順公司總部設(shè)在香港，在上海和北京設(shè)立了分公司，深圳和成都設(shè)立了辦事處，并有強大的技術(shù)和維修隊伍，為客戶提供Z高水平的產(chǎn)品和服務(wù)。

            
	  		
            
  		
            
		
  		
            
  		
            
  			
            
  			
            
  				
            公司產(chǎn)品主要有：X射線衍射系統(tǒng)；多功能穩(wěn)定度分析儀 ；奈米顆粒大小分析儀；光電制造和檢測系統(tǒng)；粘度分析系統(tǒng)；粒度及微流變分析系統(tǒng)；數(shù)字全析顯微鏡；呈象橢偏儀，布氏角顯微鏡，LB 薄膜分析；接觸角及表面張力分析儀；沾筆式納米制程技術(shù)；在線粘度計；原子薄膜沉積儀。
            
  			
            
  		
            
  		
            
		
		
  	
            
  	
            
  		
	    
            
      		
            
			        
            
	    	        	    	   	 
            
			
            
    					
    
            [EP3] 德國nanofilm公司于1991年開發(fā)出了世界上*臺Brewster角顯微鏡(BAM)，該儀器主要用于薄層膜的觀察。近幾年來，nanofilm又相繼推出了不同用途的BAM產(chǎn)品以及相應(yīng)的配套儀器，其款的EP3橢圓偏振成相系統(tǒng)把橢圓偏振法與顯微鏡法相結(jié)合，為其進入到生物分析和微電子等新的研究領(lǐng)域提供了可能。 應(yīng)用領(lǐng)域： 橢圓光度法是一種非破壞性和無需標記的、用于確定膜厚和材料光學(xué)特性的方法。通過把橢圓光度法與顯微鏡法相結(jié)合，影像橢圓光度儀不斷改進，平面精度已經(jīng)能夠達到1μm，立體精度已提高到1nm，為其進入到生物分析和微電子等新的研究區(qū)域提供了可能。EP3是德國nanofilm公司zui近推出的新一代橢圓光度儀產(chǎn)品。主要應(yīng)用于以下各種*領(lǐng)域： 生物芯片：同次性、膜厚、雜交、動力學(xué)等測量 LB/單層/自組合單層膜/活性劑：檢測LB膜的結(jié)構(gòu)、單層膜厚度、界面吸附等 接觸印刷：小于1μm微結(jié)構(gòu)的質(zhì)量控制、膜厚測量、測量折射率和吸附 磁盤：同次性、膜硬度 (油)膜厚度、光學(xué)產(chǎn)品磁光學(xué)結(jié)果的觀察 納米粒子：納米粒子上的一小塊區(qū)域、折射率和吸附的分布 聚合物：膜厚、折射率和吸附測量 主要特點 采用高精度回零橢圓光度法 出色的空間分辨率(1μm), 大面積圖像橢圓光度法（多達若干cm2） 單一或多重的激光波長 新穎的自動測角計，用于入射角調(diào)整n EP3View軟件，用于儀器控制和基于Windows?的數(shù)據(jù)分析 多重關(guān)注區(qū)域及Δ，Ψ繪圖n 可通過局部網(wǎng)絡(luò)實現(xiàn)遠程控制和服務(wù) 技術(shù)參數(shù) 原理 PCSA 配置的自動回零（ Auto-Nulling ）圖像橢圓光度法 橢圓光度分辨率 Delta/Psi 精度 0.001 deg 　　精度 0.01 deg （依賴于樣品與測量條件） 立體分辨率 1~35μm （平面解析精度： 1μm ，縱向解析精度： 1 nm ） 激光器波長 標準為 : 532 nm 　可選 405, 488, 514, 543, 594, 633, 650, 690, 785, 830, 905, nm 靈敏度 0.05~0.2nm 解析時間 快， 22×73mm 在 1.2μm 精度下只需不到一分鐘的時間 圖像系統(tǒng) 768 x 572 像素 CCD 照相機 電子組件 內(nèi)置基于 Pentium 芯片的控制器，帶 Matrox Meteor II 抓圖器； 內(nèi)置 Linux 操作系統(tǒng)；通過 100M 以太網(wǎng)與主機相連 電源 電壓： 100 – 240 VAC, 50/60Hz zui大電流 : 10 A
            
	    
            
		    
    
  	
            
  
            
  
            
    	
    
            
      
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