DX60集成電路芯片精密檢測儀

OPLENIC為集成電路、半導體芯片的精密檢測提供質優(yōu)價廉的光學檢測手段，具有無限遠平場消色差大景深同軸光顯微物鏡，適合觀察各種半導體芯片、晶片、集成塊。成像均勻無畸變，可清晰辨別各種微小元件和線路走向及字符。機身結構舒適穩(wěn)重，超大操作平臺寬幅10英寸X10英寸，超大視野及低位同軸調焦手輪，符合人體工程學設計適合長時間操作，不易疲勞。配有高分辨率CCD數(shù)字化彩色圖像采集系統(tǒng)，可實時顯示及存儲測繪。選配自動聚焦成像裝置可使操作更加簡單輕松。

DX60集成電路芯片精密檢測儀標準配置：

光學部分：

目鏡：超寬視野：WF10X/22

物鏡：無限遠消色差物鏡組：4X、10X、20X、40X

工作距離：4X—25.4mm

10X—11.0mm

20X—6.0 mm

40X—3.7mm(超長工作距離)

照明：后置式20W鹵素燈，柯勒落射垂直照明系統(tǒng)，適合觀察不透明物體

內置式20W鹵素燈，柯勒透射照明系統(tǒng)，適合觀察透明物體

機械部分：

10英寸X 10英寸超大機械平臺，移動行程：250×250mm

超低位前置粗微動操作手輪，減輕使用者的疲勞，符合人體工程學設計

攝影裝置：200萬像素HPCCD數(shù)字攝影裝置（含動態(tài)/靜態(tài)測量軟件）

DX60可選附件：

MDAFC自動聚焦裝置

80 X無限遠消色差物鏡