更高分辨率、更高襯度、更快速度

蔡司是的能在實驗室儀器中提供 50 nm 分辨率無損三維 X 射線成像解決方案的廠商。除吸收襯度和 Zernike 相襯技術外，蔡司 Xradia 810 Ultra 還運用了改裝自同步加速器的*光學器件，用以為研究提供業(yè)界出眾的分辨率和襯度。通過在傳統(tǒng)成像工作流程中加入關鍵的無損分析步驟，從而讓這款創(chuàng)新型儀器實現(xiàn)了研究領域的突破。

Xradia 810 Ultra 能夠利用 5.4 keV 下的更高襯度對大量難于成像的材料進行高分辨率 X 射線成像。借助吸收襯度和相襯技術來優(yōu)化大量材料的成像，如聚合物、氧化物、復合材料、燃料電池、地質樣品及生物材料等。在*的同步加速器實驗室內*引入納米級 X 射線成像技術，蔡司 XRM 開創(chuàng)性解決方案始終讓您走在科學研究的zui前列。

通過將納米級 X 射線成像的速度提升一個數(shù)量級，拓展了 XRM 在科學和工業(yè)領域中的應用。對于中心顯微實驗室而言，更快的工作流程意味著有更多的用戶能在更短的時間內綜合利用儀器，從而利于擴大 XRM 的用戶群。同樣，您也可以快速地重復執(zhí)行內部結構的四維和原位研究，使這些技術的應用面更廣。在諸如數(shù)字巖石物理技術等有針對性的應用中，Xradia 810 Ultra 可用于評估油氣鉆探的可行性，在數(shù)小時內提供測量數(shù)據(jù)來表征關鍵性參數(shù)，如孔隙度。