型號規(guī)格

JQ-B240

測試系統(tǒng)

測試模組/成像模組 / 暗室模組

檢測時間 （S）

1~5S

檢測對象

晶體硅組件；單晶/多晶

檢測方式

白天暗室檢測/夜晚支架上組件直接檢測

可判斷缺陷類型

隱裂/斷柵/黑心/黑邊/低效率片/燒結(jié)網(wǎng)紋/碎片/邊緣過刻/材料缺陷

成像系統(tǒng)

分辨率：2400W，

自動對焦

內(nèi)置無線傳輸模組/外接遠程無線wifi

暗室系統(tǒng)

暗室?guī)づ?/span>

面積(mm)：2200*2200*1300（可定制）

上電電源（可選）

直流穩(wěn)壓電源 60V10A（標配）

便攜式發(fā)電機（可選）

多組件供電電源（可選）

上電模式

手動連接組件上電

序號

系統(tǒng)名稱

規(guī)格

數(shù)量

單位

1

成像系統(tǒng)

紅外相機

1

套

2

平板電腦

1

套

3

無線wifi

1

套

4

暗室系統(tǒng)

暗室?guī)づ?/span>

1

套

5

組件放置架

1

套

6

暗室支架

1

件

7

相機支架

1

件

8

電源

直流穩(wěn)壓電源

1

臺

9

外接線

外接延長線

1

根

10

其他

拉桿箱   

1

件

11

其他

手提包  

1

件