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            產(chǎn)品展廳

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            發(fā)布詢價單

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            FT110A XRF鍍層測厚儀

            具體成交價以合同協(xié)議為準

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            日立分析儀器是日立高新技術集團旗下的一家全球性公司。該公司總部位于英國牛津,在芬蘭、德國和中國有研發(fā)和組裝業(yè)務,在全球多個國家有銷售和支持業(yè)務。日立分析儀器的產(chǎn)品系列包括:

            §   微焦斑XRF鍍層分析儀FT230以及FT160、FT110AX-Strata920可測量單層和多層鍍層(包括合金層)的鍍層厚度,適用于質量控制或過程控制程序以及研究實驗室。

            §   專業(yè)RoHS分析儀:日立的EA1400EA1000AIII、EA6000VXHM1000A分析儀專為有害物質限制分析而設計,快速且易用,其靈活性能確保適應不斷發(fā)展的法規(guī)規(guī)定。

            §   鋰離子電池分析EA8000A X射線粒子污染物分析儀專用于快速有效地控制鋰離子電池生產(chǎn)的質量。

            §   熱分析熱分析系列儀器DSC600、DSC200、STA、TMA7100TMA7300DMA7100已經(jīng)過優(yōu)化,可檢測和顯示超小的反應,同時具有穩(wěn)定可靠和易用等特點。

            §   手持式分析儀:數(shù)以千計的企業(yè)使用X-MET8000的精密XRF技術以簡單、快速、無損分析的方式實現(xiàn)合金分析、廢金屬分揀和金屬牌號篩查。VulcanLIBS激光技術驅動,可在一秒鐘內(nèi)識別金屬合金;非常有利于企業(yè)處理大量金屬,是世界上超快速分析儀之一。

            §   多功能臺式XRF分析儀Lab-X5000X-Supreme8000為石油、木材處理、水泥、礦物、采礦和塑料等多個行業(yè)提供高度可靠的質量保證和過程控制。

            §   OES金屬分析儀:全球許多行業(yè)使用OE750、PMI-MASTER、FOUNDARY-MASTERTEST-MASTER系列直讀光譜儀進行高精密度金屬分析。





            XRF光譜儀,直讀光譜儀,鍍層測厚儀,熱分析,激光光譜儀

            產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
            應用領域 電子/電池,航空航天,汽車及零部件 產(chǎn)品參數(shù) 聯(lián)系我們了解更多

            高通量鍍層分析

            x熒光測厚儀 FT110A 是一款臺式 XRF 分析儀,旨在應對生產(chǎn)中鍍層分析的挑戰(zhàn)。強大的 X 射線熒光技術與自動定位功能相結合,有助于提高電鍍車間的生產(chǎn)力,同時確保組件符合最高標準。


            準確性和可靠性是支持質量控制的 XRF 分析的核心,而 FT110A 可提供當今電鍍組件所需的準確性。更新的成像系統(tǒng)、自動樣品定位和大樣品臺使該分析儀非常易于使用,提高了通量并減少了人為錯誤。功能強大的 FT110A XRF鍍層測厚儀能夠同時測量多達四層以及基材,將全天候支持您的設施滿足最高的行業(yè)電鍍規(guī)范。


            產(chǎn)品亮點

            專為高通量生產(chǎn)而設計,來看 FT110A XRF鍍層測厚儀如何支持您的質量控制。

            • 強大的高靈敏度技術可在幾秒鐘內(nèi)提供結果

            • 對成品安全的無損檢測

            • 自動化功能提高生產(chǎn)力

            • 分析多達四層和基材,加上電鍍液

            • 易于非專業(yè)操作員使用

            • 測量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987

            • 大樣品艙可容納各種樣品

            • 可定制的選項以適合您的應用


            FT110A

            元素范圍

            Ti – U

            探測器

            正比計數(shù)器系統(tǒng)

            樣品艙設計

            開閉式或開槽式

            準直器數(shù)量

            2 或 4

            最小準直器

            0.025 x 0.4 mm

            XY軸樣品臺選擇

            程控或固定

            XY軸樣品臺行程

            250 x 200 mm

            程控Z軸行程

            150 mm

            最大樣品尺寸

            500 x 400 x 150 mm

            樣品聚焦

            聚焦激光和可選的自動聚焦

            樣品視圖

            攝像頭視圖和可選的第二廣角攝像頭

            測量點識別

            可選

            軟件

            X-ray Station




             



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