CCD光電性能測試系統(tǒng)又稱CCD成像電子學(xué)系統(tǒng)光電聯(lián)試定量測試設(shè)備。本系統(tǒng)能夠解決空間光學(xué)遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設(shè)計及輻射校正設(shè) 計及為光電成像器件受輻照后性能變化的機(jī)理研究提供檢測手段等諸多科學(xué)問題；同時能夠在業(yè)界對光電成像器件抗輻射性能評價的標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)范化起到積極推進(jìn)作用。

CCD光電性能測試系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)：

工作波段：380nm～1000nm(其他波長范圍可選)

動態(tài)范圍：≥80dB

光譜分辨率：≤0.5nm

峰值波長(測量精度)：優(yōu)于±1nm

中心波長(測量精度)：優(yōu)于±1.2nm

光譜帶寬(測量精度)：優(yōu)于±2nm

相對光譜響應(yīng)度(測量精度)：優(yōu)于2%

有效測量區(qū)域：≤Φ120mm

暗噪聲：優(yōu)于±0.5mv

信噪比(測量精度)：優(yōu)于±5dB

飽和輸出電壓(測量精度)：優(yōu)于±20mV

響應(yīng)非均勻性(測量精度)：優(yōu)于1%

響應(yīng)非線性(測量重復(fù)性)：優(yōu)于2%

噪聲等效曝光量(測量精度)：優(yōu)于2%

光輻射響應(yīng)度(測量精度)：優(yōu)于2%

測試項(xiàng)目：

飽和輸出電壓(SV：Saturation Voltage)

暗噪聲或固態(tài)圖像噪聲(VNOISE  or VFPN)

暗信號(DS：Dark Signal)

信噪比(SNR：Signal Noise Ratio)

響應(yīng)度非均勻性(PRNU：Photo Response Non Uniformity)

光輻射響應(yīng)度(R)

相對光譜響應(yīng)度(RS)

電荷轉(zhuǎn)移效率(CTE)

噪聲等效曝光量(NEE)

飽和曝光量(SE)

動態(tài)范圍(DR)

非線性度(NL)