耦合多電極陣列系統(tǒng)（CMAS）由于成分的偏析，微觀晶粒結構的不一致性，表面狀態(tài)的不一致性，導致金屬表面微觀區(qū)域的電化學電位不一致，即整個表面就是由微觀的陽極區(qū)和微觀的陰極區(qū)組成。在電解質溶液里，這些微觀的陽極區(qū)和陰極區(qū)通過金屬本體構成的內電路以及外部電解質溶液構成的外電路，形成完整的電化學通路，無數(shù)個腐蝕微電池在金屬表面耦合地進行各自的電子轉移。

耦合多電極陣列系統(tǒng)（CMAS）

• 0.1mm～3mm）來模擬金屬表面的微小電化學性能各異的區(qū)域。通過測量流過每根金屬絲的電流大小以及方向，可以判別該金屬絲的陰陽極性，以及作為陽極時腐蝕的深度（由FARADYS ‘LAW準確計算）。是目前唯能定量測量局部腐蝕（點腐蝕和縫隙腐蝕）擴展速率的測量儀器。