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            產(chǎn)品展廳

            產(chǎn)品求購(gòu)企業(yè)資訊會(huì)展

            發(fā)布詢價(jià)單

            化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測(cè)>工業(yè)CT>v|tome|x 微焦點(diǎn)工業(yè)CT CT檢測(cè) CT檢測(cè)服務(wù) 工業(yè)CT

            v|tome|x 微焦點(diǎn)工業(yè)CT CT檢測(cè) CT檢測(cè)服務(wù) 工業(yè)CT

            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 公司名稱 艾因蒂克科技(上海)有限公司
            • 品牌 其他品牌
            • 型號(hào) v|tome|x
            • 產(chǎn)地
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
            • 更新時(shí)間 2024/12/19 15:23:34
            • 訪問次數(shù) 4725

            聯(lián)系方式:張經(jīng)理查看聯(lián)系方式

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            艾因蒂克科技(上海)有限公司于2013年在上海成立, 是一家具有科技創(chuàng)新基因的 “國(guó)家高新技術(shù)企業(yè)”、“科技小巨人”、“專精特新”企業(yè),主要業(yè)務(wù)涉及超聲無損檢測(cè)儀器,超聲陣列探頭,醫(yī)療超聲傳感器、超聲掃查器以及智能檢測(cè)系統(tǒng)。公司在上??偛吭O(shè)立研發(fā)中心和實(shí)驗(yàn)室、廣州科學(xué)城設(shè)立儀器研發(fā)中心、長(zhǎng)沙設(shè)立傳感器研發(fā)中心和生產(chǎn)基地。

            公司創(chuàng)始人員被聘為“全國(guó)無損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)委員”、“全國(guó)鋼標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)無損檢測(cè)分會(huì)委員”、“全國(guó)焊接標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)分技術(shù)委員會(huì)委員”、“中國(guó)無損檢測(cè)學(xué)會(huì)超聲專業(yè)委員會(huì)委員”、“中國(guó)金屬學(xué)會(huì)無損檢測(cè)分會(huì)委員”、“上海市科委專家?guī)斐蓡T”、“南昌航空大學(xué)客座教授”、“杭州電子科技大學(xué)兼職教授”等。


            艾因蒂克超聲波相控陣探傷儀Phaseye,艾因蒂克品牌相控陣系統(tǒng)集成板卡Phaselink,艾因蒂克醫(yī)療超聲探頭,曼圖電子超聲相控陣探頭,艾因蒂克編碼器及掃查裝置,艾因蒂克超聲波仿真軟件系統(tǒng),奈克斯特汽車點(diǎn)焊檢測(cè)儀,NEXTNDT超聲波點(diǎn)焊分析儀,超聲波點(diǎn)焊耦合劑

            產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 200萬-500萬
            應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

            微焦點(diǎn)工業(yè)CT CT檢測(cè) CT檢測(cè)服務(wù) 工業(yè)CT

             

            隨著制造業(yè)日益復(fù)雜,微焦點(diǎn)工業(yè)CT CT檢測(cè) CT檢測(cè)服務(wù) 工業(yè)CT自動(dòng)化成為標(biāo)準(zhǔn),兼顧精度和效率的檢測(cè)呈現(xiàn)的比以往任何時(shí)候都更加重要。GE專注于變革無損檢測(cè)領(lǐng)域中的3D檢測(cè)和尺寸控制,致力于實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、高效的檢測(cè)目標(biāo)。

            通過將工業(yè)CT技術(shù)應(yīng)用于滿足工業(yè)需求,并將其與強(qiáng)大的X射線技術(shù)、自動(dòng)化機(jī)械手、全自動(dòng)軟件和GE  CT技術(shù)相結(jié)合,我們已經(jīng)研發(fā)出一系列高精度CT產(chǎn)品,在保證質(zhì)量的檢測(cè)下,檢測(cè)時(shí)間由幾個(gè)小時(shí)縮短到幾分鐘。

            全新phoenix v|tome|x m 將這項(xiàng)變革向前推進(jìn)了一大步,可以為你提供通用、精確的微焦點(diǎn)CT系統(tǒng),用于無損檢測(cè)、3D尺寸測(cè)量和分析。這種高生產(chǎn)率的系統(tǒng),可以在高速的檢測(cè)速度下,獲得更高的精度,極大優(yōu)化你的實(shí)驗(yàn)、測(cè)試過程,滿足現(xiàn)如今日益增長(zhǎng)的需求。

             

            相同圖像質(zhì)量下,有效節(jié)約掃描時(shí)間

            v|tome|x m是*可以搭載GE突破性的散射線校正技術(shù)、dynam ic41數(shù)字化探測(cè)器 和高通量鎢靶的微焦點(diǎn)工業(yè)CT系統(tǒng),使得掃描速度更快或圖像質(zhì)量更高,并真正革新了檢測(cè)方法。

             

            提供多種配置和可選項(xiàng),幫助您在高度準(zhǔn)確的前提下,提高生產(chǎn)率,例如ruby|plate(紅寶石標(biāo)準(zhǔn)件) 和 true|position(機(jī)械軸精準(zhǔn)定位)可用于提高測(cè)量精度、流程化操作, helix|CT(螺旋CT)可用于提高圖像質(zhì)量,簡(jiǎn)單、高效地提高樣品檢測(cè)率。

             

            1. scatter|correct 技術(shù)

            有效減少散射線偽影,相比同等效果的傳統(tǒng)扇束速度提高近100倍。

            掃描時(shí)間從60分鐘減少至6分鐘

            2. dynamic 41 數(shù)字平板探測(cè)器相同速度下分辨率提高一倍,或與200μm DXR探測(cè)器相同質(zhì)量下,檢測(cè)效率提高一倍。

            掃描時(shí)間從6分鐘減少至3分鐘

            3. high-flux|target高通量靶

            提高微米CT檢測(cè)效率,或者在更小的焦點(diǎn)尺寸下,實(shí)現(xiàn)更高的功率進(jìn)而獲得近乎2倍的圖像質(zhì)量。

            3分鐘減少至1.5分鐘

            4. helix|CT 螺旋CT

            采用螺旋CT提升圖像質(zhì)量,在高效、易操作的前提下,提高檢測(cè)概率。

            5. offset|CT 偏置CT

            在原有基礎(chǔ)上,增加100%的檢測(cè)范圍。

            6. 全自動(dòng)機(jī)器人

            很大程度地提高檢測(cè)速度和準(zhǔn)確性,極大節(jié)約運(yùn)行成本。

            7. phoenix datos|x CT軟件

            圖像采集、數(shù)據(jù)處理、樣品評(píng)估全自動(dòng)化進(jìn)行。

             

             

            微焦點(diǎn)工業(yè)CT主要參數(shù)

             

            phoenix v|tome|x s phoenix v|tome|x m

            射線管類型

            開放式設(shè)計(jì),反射式高功率微焦點(diǎn)X射線源,配置封閉式水冷系統(tǒng)。

            選配投射式高功率納米焦點(diǎn)射線源(開放式設(shè)計(jì))

            大電壓 / 功率

            240 kV/ 320 W

            300 kV/ 500 W.

            240 kV/ 320 W (選配)

            選配納米CT的雙源設(shè)計(jì)®: 180 kV / 20 W 配置鉆石靶的高功率納米焦點(diǎn)射線源 | 高精度氣浮轉(zhuǎn)臺(tái)| 雙源一鍵式切換系統(tǒng)

            幾何放大倍率 (3D)

            1.46 倍至100 倍; 選配納米射線源后增大至200 倍

            1.3 倍至100 倍; 選配納米射線源后增大至200 倍

            細(xì)節(jié)檢測(cè)能力

            < 1 μm (微米焦點(diǎn)射線源); 0.2 μm (選配納米焦點(diǎn)射線源)

            小體素尺寸

            2 μm(微焦點(diǎn))

            2 μm (微焦點(diǎn)), 1 μm(選配dyn. 41|100)

            <1 μm(選配納米焦點(diǎn)射線源)

            <0.5 μm (納米射線源 + dyn. 41|100)

            測(cè)量精度

            參考VDI 2630聲明精度

            4+L/100μm參考VDI 2630-1.3

            探測(cè)器類型

            (依據(jù)ASTM E2597 標(biāo)

            準(zhǔn))

            溫度穩(wěn)定型GE DXR平板探測(cè)器, 200 μm像素尺寸, 1,000 x 1,000 像素?cái)?shù)量, 200 x 200 mm (8”), 支持2倍虛擬放大

            溫度穩(wěn)定型GE dynamic 41|200平板探測(cè)器, 410 x 410 mm (16” x 16”), 200 μm像素尺寸, 2036 x 2036

            像素?cái)?shù)量 (4 MP), 高動(dòng)態(tài)范圍 > 10000:1

            選配 400 x 400 mm (16”) , 4 MPixel DXR 探測(cè)器

            (無2倍虛擬放大)

            選配GE dynamic 41|100 探測(cè)器, 410 x 410 mm (16” x 16”), 100 μm 像素尺寸, 4048 x 4048 像素?cái)?shù)量

            (16 MP),分辨率提高2倍

            機(jī)械系統(tǒng)

            5軸高精度機(jī)械系統(tǒng),

            *設(shè)計(jì)優(yōu)化穩(wěn)定性

            大理石基座的4軸機(jī)械系統(tǒng)

            焦距

            800 mm (8”探測(cè)器) | 930 mm (16” 探測(cè)器)

            800 mm

            大樣品直徑 x 高度

            大3D掃描尺寸 260 mm Ø x 420 mm, 大

            400 mm Ø 選配offset|CT和 8” 探測(cè)器

            360 mm x 600 mm; 限制移動(dòng)范圍500 x 600 mm ,

            大3D 掃描范圍 420 mm Ø x 400 mm

            大樣品重量

            10 kg (22 lbs.)

            50 kg (110 lbs.), 高精度CT:20 kg (44 lbs.)

            大物距

            545 mm(微焦點(diǎn))

            600 mm (微焦點(diǎn))

            系統(tǒng)尺寸 W x H x D

            2,170 mm x 1,690 mm x 1,500 mm (85.4” x 66.5” 59” )

            2,620 mm x 2,060 mm x 1,570 mm (103” x 81” x

            62”); D 2,980 mm (117.3”)包含控制面板和發(fā)生器

            系統(tǒng)重量

            約2,900 kg /6,400 lbs. (不含附件)

            約7,960 kg /17,550 lbs. (不含附件)

            溫度穩(wěn)定性

            射線源冷卻系統(tǒng)| 溫度穩(wěn)定型探測(cè)器

            射線源冷卻系統(tǒng)|溫度穩(wěn)定型探測(cè)器|溫度穩(wěn)定型鉛

            選配scatter|correct 硬件及軟件模塊 (可升級(jí))

             

            小化散射線偽影,達(dá)到線陣列同等水平圖像質(zhì)量;大掃描直徑: 260 mm, 幾何放大倍率1,51

            倍 - 100倍

            選配高通量靶

            檢測(cè)效率提高2倍或檢測(cè)效果提高2倍; 射線源功率為100 W

            選配2D 檢測(cè)模塊

            配置傾斜軸,檢測(cè)樣品重量10 kg (22 lbs.) | 2D 檢測(cè)軟件+ datos|x CT軟件

            選配測(cè)量版本 (可升級(jí))

             

            2 標(biāo)準(zhǔn)件

            可選多標(biāo)準(zhǔn)件

             

             

            選配螺旋CT & 擴(kuò)展CT

            采用高級(jí)掃描模式,提升掃描范圍和圖像質(zhì)量,螺旋CT:用于長(zhǎng)樣品掃描,并有效減少偽影;擴(kuò)展CT:可   以掃描更大尺寸的樣品,或者獲得更高的分辨率

            選配 click&measure|CT

            用于全自動(dòng)數(shù)據(jù)處理

            已包含

            選配 production|edition

             

            根據(jù)需求配置全自動(dòng)機(jī)器人

            軟件

            phoenix datos|x 3D圖像采集和數(shù)據(jù)重建軟件,擁有不同的3D軟件包,用于尺寸測(cè)量、失效分析和結(jié)構(gòu)檢

            測(cè)。

            輻射安全防護(hù)

            全封閉式自屏蔽防護(hù)鉛房,類型滿足德國(guó)RöV,適用于法國(guó)NFC 74 100 和美國(guó)21 CFR ,當(dāng)?shù)胤ㄒ?guī)要求的其他許可。



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