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PP-1000 小角激光散射儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 大塚電子（蘇州）有限公司
品牌 OTSUKA/日本大塚
型號 PP-1000
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時間 2020/6/12 16:13:18
訪問次數(shù) 1957

產(chǎn)品標(biāo)簽

小角激光散射儀 Hv散射聚合物結(jié)晶 Vv散射球晶徑

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公司介紹 主營產(chǎn)品

大塚電子（蘇州）有限公司成立于2007年4月，致力于讓中國客戶能安心使用已有50年歷史的日本大塚電子所研發(fā)與生產(chǎn)的測量與分析設(shè)備。

我們的產(chǎn)品涵蓋LED、OLED等光源和照明行業(yè)，產(chǎn)品包括有液晶和有機(jī)EL顯示行業(yè)的光學(xué)特性評估與檢測設(shè)備；用于測量半導(dǎo)體晶圓和薄膜化學(xué)品厚度的設(shè)備；以及評估墨水、研磨劑、醫(yī)藥和化妝品材料的納米顆粒（粒徑和ζ電位測量）設(shè)備，這些設(shè)備均應(yīng)用了我們的“光”技術(shù)。

在日本，我們的產(chǎn)品擁有眾多交付實(shí)績。為提供全面的售前和售后支持，我們設(shè)立了技術(shù)和維護(hù)中心，努力提供快速、令客戶滿意并能使客戶感受到關(guān)懷和價值的服務(wù)。

我們致力于不斷提升產(chǎn)品價值和支持服務(wù)，做到讓客戶能主動向他人推薦大塚電子的產(chǎn)品。

我們是大塚集團(tuán)的一員，繼承了集團(tuán)的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health worldwide」

以及大塚集團(tuán)歷代的3個思想，即「流汗悟道」「實(shí)證」「創(chuàng)造性」，并以此行動。我們推出創(chuàng)新產(chǎn)品，開展業(yè)務(wù)，為社會做出貢獻(xiàn)。

對于那些挑戰(zhàn)可能性邊界的人來說，天空是無限的。超越它，就會有一個全新的前沿世界。

利用大塚電子的技術(shù)“光”的力量，為業(yè)界提供解決方案是我們的使命。

Otsuka-people creating new products for better health worldwide

傳承大塚的“實(shí)證與創(chuàng)造”精神，時刻為了實(shí)踐“因?yàn)槭谴髩V所以能做到”、"只有大塚才能做到"的口號而努力奮斗。

大塚電子，通過革新的且富有創(chuàng)造性的產(chǎn)品（設(shè)備)服務(wù)，在「健康和生活」的領(lǐng)域，不斷地為人民的生活做著貢獻(xiàn)。

展開

zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng)，晶圓在線測厚系統(tǒng)，線掃描膜厚儀，顯微分光膜厚儀，線掃描膜厚儀，分光干涉式晶圓膜厚儀，相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備，非接觸光學(xué)膜厚儀，小角激光散射儀，多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)，量子效率測量系統(tǒng)

詳細(xì)信息 在線詢價

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	價格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	化工,石油,包裝/造紙/印刷,制藥/生物制藥

小角激光散射儀 PP-1000利應(yīng)用了小角光激光光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡稱SALS），可以對高分子材料和薄膜進(jìn)行原位檢測，實(shí)時解析。與SAXS和SANS的裝置相比，檢測范圍更廣。利用偏光板的Hv散射測量可以進(jìn)行光學(xué)各向異性的評價，解析結(jié)晶性膠片的球晶半徑，Vv散射測量可以進(jìn)行聚合物混合的相關(guān)距離的分析。

特點(diǎn)

l0.33 ~ 45°散射角度的測量,短測試時間10 毫秒
l檢測范圍0.1μm ~數(shù)十微米
l可以在溶液單元中測量溶液樣本
lHv散射，Vv散射測量可以在軟件上輕松切換

用途

1）l高分子材料評價

→結(jié)晶性膠片

·結(jié)晶化溫度、球晶直徑、結(jié)晶化速度

·配光、光學(xué)異方性

→聚合物混合

·相分離過程和相關(guān)距離(分散度)

→高分子凝膠

·三維架橋結(jié)構(gòu)的大小

→樹脂

·熱硬化樹脂和UV硬化樹脂的硬化速度

2）l粒子物性評價

粒子直徑，凝聚速度

檢測原理

小角激光散射儀由光源、偏振系統(tǒng)、樣品臺和記錄系統(tǒng)組成。單色激光照射到樣品時發(fā)生散射現(xiàn)象，散射光投射到屏幕上并被拍攝下來，得到樣品的散射條紋圖。

操作過程：

1．在樣品臺上放置樣品。

2．根據(jù)想要測量的對象調(diào)整檢偏片。

3．來自樣品的散射圖案會被相機(jī)記錄下來。

當(dāng)起偏片與檢偏片的偏振方向正交時，得到的光散射圖樣叫做Hv散射；當(dāng)起偏片與檢偏片的偏振方向均為垂直方向時，得到的光散射圖樣叫做Vv散射。從這些散射圖形中可以獲取球晶半徑、相分離結(jié)構(gòu)、分散相顆粒平均粒徑、配向狀態(tài)等信息。

lHv散射

球晶半徑解析：

R = 4.09 / qmax

(R:球晶半徑，qmax:散射光強(qiáng)度大的散射向量)

q = 4πn/λsin(θ/ 2)

(q:散射向量,λ:介質(zhì)中的波長，n:樣品折射率，θ:散射角)

lVv散射

ü對聚合物混合的相分離過程的評價

ü連續(xù)相與分散相的大小，分散相顆粒平均粒徑

ü粒子直徑的評價

ü相分離構(gòu)造與相關(guān)距離檢測

小角激光散射儀 PP-1000技術(shù)參數(shù)

測定原理	小角光散射法
光源	半導(dǎo)體激光器（波長785nm）
檢測器	CMOS照相機(jī)
測定散亂角度	0.33°～45°
散射圖樣	Hv光散射、Vv光散射
光斑直徑	約1mm
動態(tài)范圍	120db以上（使用HDR功能時）
測定時間	10msec～^※
解析項(xiàng)目	球晶半徑、相關(guān)距離