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            JSM-7200F 高速分析熱場發(fā)射電鏡

            具體成交價以合同協(xié)議為準

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            北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司

              北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司是一家專注于科學研究領(lǐng)域及工業(yè)應用領(lǐng)域的儀器渠道商和系統(tǒng)解決方案提供商,我們?yōu)楦咝?、科研院所、企業(yè)等各類客戶提供全面的儀器設備解決方案。2012年公司注冊成立于中關(guān)村科技園區(qū),總部設在北京,在廣州、武漢、沈陽、長春、甘肅、安徽等地設有多個辦事處,能為客戶提供及時、優(yōu)質(zhì)的售后服務體驗。


              培科創(chuàng)新,與多家世界儀器制造商建立了良好的戰(zhàn)略合作關(guān)系,不斷優(yōu)化提升公司自身的營運和服務質(zhì)量,致力于向用戶提供*的產(chǎn)品、優(yōu)化的解決方案和高品質(zhì)的專業(yè)服務,承擔著科技產(chǎn)業(yè)助推器的責任,服務并推動科學研究和科技產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。


              培科創(chuàng)新,秉承高度負責和誠信的原則展開業(yè)務,努力營造員工和客戶之間互相尊重、坦誠溝通、高效互動的健康環(huán)境。我們了解客戶的實際需求,并提供合理優(yōu)質(zhì)的解決方案,并盡力滿足客戶的近期和長期需求。培科創(chuàng)新在客戶的關(guān)注和員工們的努力中不斷進步,擁有遍布全國的營銷渠道和服務網(wǎng)絡、專業(yè)化的技術(shù)服務團隊。


              優(yōu)秀的團隊、科學的管理、高效的營運、便捷的信息網(wǎng)絡、多年的行業(yè)經(jīng)驗和先進的經(jīng)營理念,是我們服務于客戶的基礎和保證!

             

            日本電子電子顯微鏡,德國Xhuber公司G670系列大型快速高分辨X射線粉末衍射儀,美國ISS公司穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀,德國Hilgers公司Fossil全自動煤巖分析系統(tǒng)

            價格區(qū)間 250萬-300萬 儀器種類 熱場發(fā)射
            應用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,地礦,能源,電子

            JSM-7200F高速分析熱場發(fā)射電鏡產(chǎn)品介紹:

            JSM-7200F是日本電子株式會社(JEOL Ltd.)于2015年推出的一款多功能、簡單易用的分析型場發(fā)射掃描電鏡,這款高分辨率掃描電鏡是進行樣品納米級圖像顯微分析與微區(qū)化學成分分析的理想選擇。

                通過光闌角控制透鏡技術(shù),JSM-7200F可以在任意加速電壓下實現(xiàn)小束斑尺寸的大分析束流進而可以輕松實現(xiàn)100nm以內(nèi)的高空間分辨率分析。

                JSM-7200F/LV配有大樣品倉,非常適合于搭載的能譜儀、波譜儀、EBSD相機、CL陰極發(fā)光探測器、拉伸臺、EBL以及SXES(JEOLzhuan利技術(shù),通過探測低能量的波長從而獲得樣品的化學價態(tài)信息)等分析探測器。同時,JSM-7200F具有抽屜式樣品倉可以安裝諸如加熱、拉伸以及冷凍樣品臺進行原位分析。

            JSM-7200F高速分析熱場發(fā)射電鏡特點:

            浸沒式肖特基電子槍

                浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍為日本電子的zhuan利技術(shù),通過對電子槍和低像差聚光鏡進行優(yōu)化,能有效利用從電子槍中發(fā)射的電子,即使電子束流很大也能獲得很細的束斑。因而可以實現(xiàn)高通量分析(EDS、WDS面分析、EBSD分析等)。

             

            TTLS(through-the-lens系統(tǒng))

                TTLS(through-the-lens系統(tǒng))是利用GB(Gentle Beam 模式)在低加速電壓下能進行高分辨率觀察和信號選擇的系統(tǒng)。 利用GB(Gentle Beam 模式)通過給樣品加以偏壓,對入射電子有減速、對樣品中發(fā)射出的電子有加速作用,即使在低加速電壓(入射電壓)下,也能獲得信噪比良好的高分辨率圖像。 
            此外,利用安裝在TTLS的能量過濾器過濾電壓,可以調(diào)節(jié)二次電子的檢測量。這樣在極低加速電壓的條件下,用高位檢測器(UED)就可以只獲取來自樣品淺表面的大角度背散射電子。因過濾電壓用UED沒有檢測出的低能量電子,可以用高位二次電子檢測器(USD,選配件)檢測出來,因此JSM-7200F能同時獲取二次電子像和背散射電子像。

             

            混合式物鏡(電磁場疊加)

                JSM-7200F的物鏡采用了本公司新開發(fā)的混合式透鏡。 
            這種混合式透鏡是組合了磁透鏡和靜電透鏡的電磁場疊加型物鏡,比傳統(tǒng)的out-lens像差小,能獲得更高的空間分辨率。 JSM-7200F仍然保持了out-lens的易用性,所以可以觀察和分析磁性材料樣品。

             

             JSM-7200F高速分析熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡規(guī)格

              JSM-7200F SM-7200F/LV
            分辨率 1.0 nm(20kV),1.6 nm(1kV) 1.0 nm(20kV),1.6 nm(1kV),1.8nm (30kV,  LV )
            放大倍率 ×10~×1,000,000(120mm x 90mm photograph size); ×30~×3,000,000(1280 x 960pixels display);
            加速電壓 0.01kV~30kV
            束流 1pA~300nA
            自動光闌角zei佳控制透鏡ACL 內(nèi)置
            大景深模式 內(nèi)置
            檢測器 高位檢測器(UED)、低位檢測器(LED)
            樣品臺 5軸馬達驅(qū)動樣品臺
            樣品移動范圍 X:70mm  Y:50mm  Z:2mm~41mm 傾斜-5~+70°  旋轉(zhuǎn)360°
            低真空范圍 - 10pa~300pa

             

            主要選配件:

            • 可插拔式背散射電子探頭(RBED)

            • 高位二次電子探頭(USD)

            • 低真空二次電子探頭(LV-SED)

            • 能譜儀(EDS)

            • 波譜儀(WDS)

            • 電子背散射衍射系統(tǒng)(EBSD)

            • 陰極熒光系統(tǒng)(CLD)

            • 樣品臺導航系統(tǒng)(SNS)

            • 電子束曝光系統(tǒng)
              更多有關(guān)
              JSM-7200F高速分析熱場發(fā)射電鏡價格歡迎前來咨詢!

             



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