LDJD-C 絕緣介電常數(shù)測試儀
| 參考價 | ￥ 29900 |
| 訂貨量 | ≥1套 |
- 公司名稱 北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 LDJD-C
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/6/28 12:12:42
- 訪問次數(shù) 2032
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| 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材/家具,電子/電池,包裝/造紙/印刷,航空航天,電氣 |
|---|---|---|---|
| 品牌 | 航天偉創(chuàng) |
絕緣介電常數(shù)測試儀
絕緣介電常數(shù)儀
一、產(chǎn)品介紹
絕緣介電常數(shù)測試儀用于測試電氣絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗（tanδ）。介電常數(shù)又稱電容率或相對電容率，表征電介質(zhì)或絕緣材料電性能的一個重要數(shù)據(jù)，常用ε表示。它是指在同一電容器中用同一物質(zhì)為電介質(zhì)和真空時的電容的比值，表示電介質(zhì)在電場中貯存靜電能的相對能力。
絕緣介電常數(shù)儀由S916測試裝置（夾具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入QBG-3E/QBG-3F的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的最佳解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)的主機則是一臺阻抗測量設(shè)備（高頻Q表）。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用QBG-3E/3F或AS2853A數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。
二、適用標(biāo)準(zhǔn)
1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法
3 ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測試方法
三、主要測試材料
介電常數(shù)及介質(zhì)蒜損耗測試系統(tǒng)主要測試材料:
1 絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等
LDJD-B 型 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
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