UVISEL Plus HORIBA 研究級經(jīng)典型橢偏儀
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 優(yōu)尼康科技有限公司
- 品牌 HORIBA/堀場
- 型號 UVISEL Plus
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2023/6/6 10:11:27
- 訪問次數(shù) 2004
產(chǎn)品標(biāo)簽
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池 |
|---|
HORIBA 研究級經(jīng)典型橢偏儀簡介：
橢圓偏振光譜是一種無損無接觸的光學(xué)測量技術(shù)，基于測量線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變，通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學(xué)性質(zhì)等等，可測厚度范圍為幾埃至幾十微米。此外，還可以測試材料的反射率及透過率。
技術(shù)參數(shù)：
* 光譜范圍: 190-885 nm（可擴(kuò)展至2100nm）
* 微光斑可選50μm-100μm-1mm
* 探測器：分別針對紫外，可見和近紅外提供優(yōu)化的PMT和IGA探測器
* 自動樣品臺尺寸：多種樣品臺可選
* 自動量角器：變角范圍40° - 90°，全自動調(diào)整，小步長0.01°
主要特點：
* 50KHz 高頻PEM 相調(diào)制技術(shù)，測量光路中無運動部件
* 具備超薄膜所需的測量精度，超厚膜所需的高光譜分辨率
* 具有毫秒級超快動態(tài)采集模式，可用于在線實時監(jiān)測
* 自動平臺樣品掃描成像、變溫臺、電化學(xué)反應(yīng)池、液體池、密封池等多種附件
* 配置靈活
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