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            產(chǎn)品展廳

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            馬爾文帕納科

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            X光鍍層測(cè)厚儀,熒光膜厚儀

            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 公司名稱 深圳喬邦儀器有限公司
            • 品牌 其他品牌
            • 型號(hào)
            • 產(chǎn)地
            • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
            • 更新時(shí)間 2024/4/27 13:48:23
            • 訪問(wèn)次數(shù) 1509

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            深圳喬邦儀器有限公司是一家集光譜,色譜,質(zhì)譜,電化學(xué)儀器銷售維修、鹵素升級(jí)、二手光譜儀買賣租賃及儀器數(shù)據(jù)校正為一體的綜合服務(wù)企業(yè)。公司本著“專業(yè)的人做專業(yè)的事,選擇專業(yè) 更顯價(jià)值”的經(jīng)營(yíng)合作理念,為您提供快速優(yōu)質(zhì)的技術(shù)服務(wù)。公司相比原廠同類配件維修價(jià)格有優(yōu)勢(shì),有效的幫助客戶降低光譜儀的綜合使用成本。我們不懈追求只為得到您的滿意 !

             

            快速熱裂解ROHS儀,RoHS2.0檢測(cè)儀,波長(zhǎng)色散光譜儀,能量色散光譜儀,膜厚儀,液相色譜,ICP,

            價(jià)格區(qū)間 面議 行業(yè)專用類型 通用
            儀器種類 臺(tái)式/落地式 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,印刷包裝

            XAU光譜分析儀儀器簡(jiǎn)介:

            XAU光譜分析儀是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度*的光譜分析儀,采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì),是一款一機(jī)多用型光譜儀。

            應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù),既保留了專用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的性能,又可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及成分分析。

            被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。


            產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):

            • 微小樣品檢測(cè):最小測(cè)量面積0.03mm2(加長(zhǎng)測(cè)量時(shí)間可小至0.01mm2)

            • 變焦裝置算法:可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品,變焦距離可達(dá)0-30mm

            • 自主研發(fā)的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元素,甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量

            • *解譜技術(shù):減少能量相近元素的干擾,降低檢出限

            • 高性能探測(cè)器:SDD硅漂移窗口面積25/50mm2探測(cè)器

            • 光路系統(tǒng):微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦、光路交換裝置


            應(yīng)用領(lǐng)域:

            廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、新能源行業(yè)、5G通訊、五金建材、航天航空、環(huán)保行業(yè)、汽車行業(yè)、貴金屬檢測(cè)、精密電子、電鍍行業(yè)等多種領(lǐng)域

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            多元迭代EFP核心算法ZL號(hào):2017SR567637)

            專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上,計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開(kāi)發(fā)出EFP核心算法,結(jié)合*光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標(biāo)樣來(lái)校正儀器因子,可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。

            單涂鍍層應(yīng)用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

            多涂鍍層應(yīng)用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

            合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

            合金成分應(yīng)用:如NiP/Fe,通過(guò)EFP算法,在計(jì)算鎳磷鍍層厚度的同時(shí),還可精準(zhǔn)分析出鎳磷含量比例。

            重復(fù)鍍層應(yīng)用:不同層有相同元素,也可精準(zhǔn)測(cè)量和分析。

            如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,第一層Ni和第三層Ni的厚度均可測(cè)量。


            國(guó)產(chǎn)X射線熒光鍍層測(cè)厚儀為什么好快速:1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度,并達(dá)到測(cè)量精度要求。
            方便:X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口國(guó)際上的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器,能量分辨率更優(yōu)于135eV,測(cè)試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補(bǔ)充液氮,操作使用更加方便,并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。
            無(wú)損:測(cè)試前后,樣品無(wú)任何形式的變化。
            直觀:實(shí)時(shí)譜圖,可直觀顯示元素含量。
            測(cè)試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從Na到U。
            可靠性高:由于測(cè)試過(guò)程無(wú)人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以,其測(cè)量的可靠性更高。
            滿足不同需求:測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、功能強(qiáng)大,軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種*分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。
            性價(jià)比高:相比化學(xué)分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的,可以讓更多的企業(yè)和接受。
            簡(jiǎn)易:對(duì)人員技術(shù)要求較低,操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。

            技術(shù)指標(biāo)

            元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)中間的任意金屬鍍層

            一次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層
            *薄可測(cè)試0.005μm
            分析含量一般為2ppm到99.9% 
            鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
            任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
            相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
            多變量非線性回收程序
            長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性高

            工作環(huán)境:
            度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
            電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
            儀器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
            重量:90 kg

            檢測(cè)實(shí)例

            鍍鎳器件是比較常見(jiàn)的電鍍器件,其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測(cè)試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說(shuō)明此款儀器的測(cè)試效果




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