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            馬爾文帕納科

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            EDX-9000B PLUS 能量色散X熒光光譜儀

            具體成交價以合同協(xié)議為準
            • 公司名稱 蘇州英飛思科學儀器有限公司
            • 品牌 英飛思
            • 型號
            • 產地 唯新路69號一能科技園2幢407
            • 廠商性質 生產廠家
            • 更新時間 2024/10/29 21:37:38
            • 訪問次數(shù) 1333

            聯(lián)系方式:張經理查看聯(lián)系方式

            聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


            公司簡介:蘇州英飛思科學儀器有限公司,坐落于美麗而現(xiàn)代的蘇州工業(yè)園。公司專注于X射線熒光光譜儀的研發(fā),生產和應用?;诙嗄甑募夹g積累和沉淀,英飛思擁有整套XRF光譜儀的原生態(tài)研發(fā)和制造技術,包括50瓦,100瓦高壓發(fā)生裝置,50瓦光管的封裝工藝,數(shù)字多道分析器(DPP),控制電路板的設計和研發(fā),基本參數(shù)法(FP)軟件著作權等。

            我們不僅能提供整套光譜儀定制服務,而且能夠提供專業(yè)而系統(tǒng)的元素成分分析解決方案,以滿足客戶日益嚴苛而高標準的測試需求。

            公司英文全稱:Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd

            英文縮寫:ESI

            公司口號: Simply the best

            公司產品:XRF熒光光譜元素分析儀(臺式,便攜式,手持式,全系列光譜儀)

            XRF特點:無損測試,快速檢測,準確分析

            應用行業(yè)

            貴金屬,珠寶首飾,稀有金屬

            合金元素分析,牌號識別PMI,稀土,有色金屬

            礦產,地礦

            土壤重金屬

            石油,化工(石油中低硫測試,油品中金屬元素分析,船舶用油)

            有害元素檢測(RoHS 2.0,玩具,皮革,無鹵分析)

            鍍層測厚

            催化劑

            古董,考古

            食品安全,化妝品,藥品重金屬分析

            建材,水泥,陶瓷,玻璃

            液體及各種粉末等元素測試






            光譜儀,熒光光譜儀,XRF,Rohs檢測儀,合金分析儀,測金儀,測硫儀,古董分析儀,礦石分析儀,土壤分析儀,測厚儀,手持式光譜儀,鍍層測厚儀

            價格區(qū)間 面議 行業(yè)專用類型 通用
            儀器種類 臺式/落地式 應用領域 環(huán)保,石油,地礦,電子/電池,綜合

            EDX-9000B PLUS 能量色散X熒光光譜儀

            礦產礦石專用分析儀

            Simply the Best

            >*制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器

            >真空光路配備薄膜濾光片技術,提高輕元素檢出限

            >可同時分析40種元素

            >可分析固體,液體,粉末和泥漿

            >yuan裝進口X光管管芯提供可靠zhuo越樣品激發(fā)性能

            >無損檢測,快速分析(1-2分鐘出結果)

            >無需化學試劑,無耗材,更環(huán)保,更高效

            EDX-9000B PLUS 能量色散X熒光光譜儀

            ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業(yè)(勘探、開采、品位控制),工業(yè)礦物

            生產水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化學學術研究,考古。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動態(tài)范圍,可實現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行超高精度的過程控制和質量控制。

            具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器,對輕、中、重元素和常見氧化物(Na2O、MgO、Al2O?、SiO?、P2O5、SO?、K2O、CaOTiO?、Cr2O?、MnOFe2O?、ZnOSrO等)都可達到最佳分析效果。

            EDX9000B pluszhuo越的分析性能,使其可以輕松完成對以下礦種的測試:

            鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)

            銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)

            鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)

            鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)

            鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)

            鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)

            鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)

            鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)

            鋁土礦

            其它礦類

            產品特點

            1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析

            2.可同時分析40種元素

            3.采用多準直器多濾光片和扣背景zhuan利技術

            4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率

            5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設計,雙真空抽速機構,真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)

            6.標配基本參數(shù)法軟件,多任務,多窗口操作

            7.zhuan利薄膜濾光片技術,有效提高輕元素檢出限

            礦產元素檢測專家EDX9000B Plus

            >儀器參數(shù)

            儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm

            超大樣品腔:465mm*330mm*110mm

            半封閉樣品腔(抽真空時):Φ150mm×75mm

            儀器重量: 48Kg

            元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

            可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

            探測器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器

            探測器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV

            處理器類型:全數(shù)字化DP-5分析器

            譜總通道數(shù):4096

            X光管:高功率50瓦光管(yuan裝進口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻

            光管窗口材料:鈹窗

            準直器:多達8種選擇,最小0.2mm

            濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換

            高壓發(fā)生裝置:原裝美國高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA

            高壓參數(shù):最小5kv可控調節(jié),自帶電壓過載保護,輸出精度:0.01%

            樣品觀察系統(tǒng):500萬像素高清CCD攝像頭

            電壓:220ACV 50/60HZ

            環(huán)境溫度:-10 °C 35 °C


            儀器配置

            >標準配置

            >可選配置

            Ag初始化標樣

            磨樣機

            真空泵

            壓片機

            礦石專用樣品杯

            烘干箱

            USB數(shù)據線

            ESI-900XRF專用全自動熔樣機

            電源線

            電子秤

            測試薄膜

            礦石標準物質

            儀器出廠和標定報告

            交流凈化穩(wěn)壓電源

            保修卡

            150目篩子


            全新設計的XTEST分析軟件

            軟件內核包括基本參數(shù)法FP),經驗系數(shù)法(EC,可輕松分析各類樣品。

            *光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量

            *對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的*校正,即所有基質效應,增強和吸收。

            *譜顯示:峰定性,KLM標記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖

            *可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應,將光峰強度建模為高斯函數(shù)。

            *可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的最小二乘擬合進行定量分析。

            *基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標準,多個標準或沒有標準的樣品。

            鋁土礦樣品10次連續(xù)測試穩(wěn)定性報告

            樣品

            氧化鎂
            MgO

            三氧化二鋁
            Al2O3

            二氧化硅
            SiO2

            氧化鉀
            K2O

            氧化鈣
            CaO

            二氧化鈦
            TiO2

            氧化錳
            MnO

            三氧化二鐵
            Fe2O3

            Sample-1

            0.438

            84.577

            8.754

            0.196

            0.502

            3.753

            0.049

            1.966

            Sample-2

            0.442

            84.853

            8.88

            0.197

            0.522

            3.799

            0.052

            1.962

            Sample-3

            0.424

            84.508

            8.81

            0.197

            0.509

            3.852

            0.051

            1.983

            Sample-4

            0.427

            84.537

            8.636

            0.196

            0.513

            3.777

            0.051

            1.963

            Sample-5

            0.424

            84.501

            8.709

            0.197

            0.503

            3.791

            0.05

            1.973

            Sample-6

            0.415

            84.496

            8.737

            0.2

            0.513

            3.861

            0.051

            2.013

            Sample-7

            0.45

            84.818

            8.917

            0.197

            0.511

            3.854

            0.051

            1.966

            Sample-8

            0.423

            84.577

            8.689

            0.201

            0.501

            3.838

            0.05

            1.971

            Sample-9

            0.447

            84.381

            8.74

            0.199

            0.495

            3.853

            0.05

            1.971

            Sample-10

            0.453

            84.753

            8.893

            0.201

            0.517

            3.793

            0.052

            1.981

            Average        平均值

            0.434

            84.6

            8.776

            0.198

            0.509

            3.817

            0.051

            1.975

            Standard Deviation
            標準偏差

            0.013

            0.155

            0.094

            0.002

            0.008

            0.039

            0.001

            0.015

            RSD
            相對標準偏差

            3.10%

            0.18%

            1.08%

            0.97%

            1.63%

            1.02%

            1.91%

            0.76%


             

             

             



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