DektakXT 臺階儀
| 參考價 | ￥ 500000 |
| 訂貨量 | ≥1套 |
- 公司名稱 鉑悅儀器（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 DektakXT
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/1/2 16:12:55
- 訪問次數(shù) 1877
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鉑悅儀器自2004年成立以來，憑借與世界各大儀器品牌的戰(zhàn)略合作關系，以及不斷優(yōu)化公司自身經營管理，提高服務質量，成為中國國內的儀器供應商。鉑悅儀器所提供的產品均屬于高科技行業(yè)，產品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產設備，以及配套的耗材和配件，這些產品廣泛應用于工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質、半導體、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術考古、刑偵等各個領域并服務于各大院校、研究所、檢測機構、及政府部門等。
鉑悅儀器不僅擁有高品質的產品，更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、應用支持和售后服務團隊。本著客戶至上的原則，從客戶的實際需求出發(fā)，鉑悅儀器為客戶提供儀器銷售，安裝培訓，應用支持，代檢測服務及儀器短期租賃服務等綜合解決方案，并提供持續(xù)而良好的售后服務，由此也獲得了廣大客戶的信任與認可。
企業(yè)文化Corporate Culture： CREDIT
C- Confidence: 自信
R- Responsibility: 責任心
E- Efficiency: 效率
D- Diligence: 勤奮
I- Intelligence: 機智
T- Trust: 信任
鉑悅儀器持續(xù)為您提供：儀器銷售，安裝培訓，應用支持，代檢測服務及儀器短期租賃服務。
行業(yè)涵蓋：
工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質、半導體、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術考古、刑偵
應用范圍：
材料成份分析（定性/定量）
大面積材料元素分布
材料表面/形貌分析
3D掃描--快速3D成像
CT--3D內部結構分析
太陽能IV檢測
產品：
-- 直讀光譜儀
-- 手持式XRF分析儀 S1 TITAN
-- 科研級手持式XRF分析儀TRACER
-- 便攜式熒光光譜儀 ELIO
-- 便攜臺式XRF分析儀 CTX
-- 微區(qū)X射線熒光光譜儀-元素掃描M4 TORNADO
-- 巖芯分析儀
-- 臺階儀、光學輪廓儀、原子力顯微鏡AFM
-- 臺式X射線熒光測厚儀
-- X射線透射系統(tǒng)/3D斷層掃描系統(tǒng) （CT ）
-- 3D掃描儀
-- 便攜式IV曲線檢測儀
巖芯分析儀，微區(qū)X射線熒光光譜儀，直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺階儀,光學輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀，藝術與考古分析儀
| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 | 探針尖半徑 | ?50nm~25um |
| 臺階高度重復性 | 測量重復性可以到5? | 1??測量樣品最大尺寸? | 50mm |
德國布魯克DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以到5?。臺階儀這項性能的到了過去四十年Dektak技術，更加鞏固了其行業(yè)。不論應用于研發(fā)還是產品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學領域。
臺階儀DektakXT能實現(xiàn)：
1、 使用溫度條件：10-30℃；
2、很好的性能，臺階高度重現(xiàn)性低于4埃
3、Single-arch設計提供掃描穩(wěn)定性
4、的“智能電子器件”設立了新低噪音基準
5、新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時間縮短
6、64-bit，Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度高了10倍
7、頻率，操作簡易
8、直觀的Vision64用戶界面，操作簡易
9、針尖自動校準系統(tǒng)
10、布魯克（Bruker）以實惠的配置實現(xiàn)高的性能
11、單傳感器設計，提供單一平面上低作用和寬掃描范圍
建立在40多年的探針輪廓技術的知識和經驗薄膜測試儀，在基于微處理器的輪廓儀，和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是single-arch設計的探針輪廓儀，內置真彩高清光學攝像機，及安裝64-bit并行處理架構已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀
當需要臺階高度、表面粗糙度、測量時，人們就會借助Dektak。引進DektakXT，Bruker能讓您進一步獲得表面測量
數(shù)據(jù)采集和分析速度
直接驅動掃描平臺，Dektak XT減少了掃描間的時間，而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時的）的掃描速度。在行業(yè)的質量和重現(xiàn)性前提下，DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度。另外，DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64，它可以大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析。Vision64還具有行業(yè)內的直觀用戶界面，簡化了實驗操作設置，自動完成多掃描模式，讓重復和常規(guī)的實驗操作變得更快速簡潔。
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