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            產(chǎn)品展廳

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            發(fā)布詢價單
            馬爾文帕納科

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            Nexsa G2 表面分析系統(tǒng)

            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
            • 品牌 FEI/賽默飛
            • 型號
            • 產(chǎn)地
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
            • 更新時間 2025/3/21 9:16:08
            • 訪問次數(shù) 1514

            聯(lián)系方式:張怡玲查看聯(lián)系方式

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            FEI公司,2016年被賽默飛世爾科技收購,成為賽默飛材料與結(jié)構(gòu)分析(MSD) 電鏡事業(yè)部,是顯微鏡和微量分析解決方案的創(chuàng)新者和供應(yīng)商。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,結(jié)合先進(jìn)的軟件套件,運(yùn)用廣泛的樣本類型,通過將高分辨率成像與物理、元素、化學(xué)和電學(xué)分析相結(jié)合,使客戶的問題變成有效可用的數(shù)據(jù)。

            掃描電子顯微鏡,雙束電鏡,透射電子顯微鏡,冷凍電鏡,X射線光電子能譜儀,三維可視化軟件

            應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工

            自動表面分析和多功能的 X 射線光電子能譜儀

            Thermo Scientific Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀(XPS)系統(tǒng)可進(jìn)行全自動、高通量的表面分析,提供用于推進(jìn)研發(fā)或解決生產(chǎn)問題的數(shù)據(jù)。 集成 XPS 與離子散射譜(ISS)、紫外光電子能譜 (UPS)、反射電子能量損失譜(REELS)和拉曼光譜,讓您進(jìn)行真正的聯(lián)用分析。該系統(tǒng)現(xiàn)包含樣品加熱和樣品加偏壓功能選項,拓寬可進(jìn)行的實(shí)驗范圍。Nexsa G2 表面分析系統(tǒng)發(fā)掘了材料科學(xué)、微電子、納米技術(shù)開發(fā)和許多其他應(yīng)用領(lǐng)域的潛力。


            Nexsa G2 表面分析系統(tǒng)主要特點(diǎn)


            高性能   X 射線源

            全新的低功率 X 射線單色器,允許以 5µm為間隔、選擇10µm 到 400µm 之間的分析面積,確保從感興趣的特征區(qū)域收集數(shù)據(jù),同時使信號。

            樣品視圖

            使用Nexsa XPS 的光學(xué)觀察系統(tǒng)和 SnapMap 功能聚焦樣品特征區(qū)域,有助于快速定位感興趣的區(qū)域。

            深度剖析

            利用標(biāo)準(zhǔn)離子源或 MAGCIS(可選的雙模式單原子和氣體團(tuán)簇離子源)獲取表面之下的信息;離子源的自動校準(zhǔn)和氣體團(tuán)簇的處理確保了的性能和實(shí)驗的可重復(fù)性。

            數(shù)碼控制

            儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報告均由基于 Windows 的 Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)控制。

            優(yōu)異的電子光學(xué)系統(tǒng)

            高效的電子透鏡、半球形分析器和檢測器使其具有的檢測能力和快速的數(shù)據(jù)采集能力。

            絕緣樣品分析

            雙束中和源:既能出射低能離子,又能出射低能電子(小于1 eV)。在測試中能夠?qū)悠?,特別是絕緣樣品,進(jìn)行很好的中和,令數(shù)據(jù)分析簡單而可靠。

            可選樣品臺

            提供可選的各種特殊樣品臺,用于變角 XPS、樣品加偏壓測試或從手套箱惰性轉(zhuǎn)移樣品。

            NX 樣品加熱器模塊

            全軟件控制的樣品加熱功能選項,支持溫度相關(guān)研究。

            規(guī)格

            分析器類型
            • 180° 雙聚焦半球形分析器,128 通道探測器

            X 射線源類型
            • 單色化、微聚焦、低功率的 Al K-Alpha X 射線源

            X 射線光斑尺寸
            • 10-400 µm(以 5µm 為單位可調(diào))

            深度剖析
            • EX06 單原子離子源或 MAGCIS 雙模式離子源

            樣品最大面積
            • 60 x 60 mm

            樣品最大厚度
            • 20 mm

            真空系統(tǒng)
            • 兩個渦輪分子泵,配有自動鈦升華泵和前級泵

            可選配件
            • UPS、ISS、REELS、iXR 拉曼光譜儀、MAGCIS、樣品傾斜模塊、NX 樣品加熱模塊、樣品加偏壓模塊、真空轉(zhuǎn)移模塊、手套箱集成適配器







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