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            化工儀器網>產品展廳>分析儀器>X射線儀器>X射線定向儀>Freiberg-Omega/Theta XRD Omega/Theta XRD Mapping面掃功能

            Freiberg-Omega/Theta XRD Omega/Theta XRD Mapping面掃功能

            具體成交價以合同協(xié)議為準
            • 公司名稱 束蘊儀器(上海)有限公司
            • 品牌 Freiberg Instruments
            • 型號 Freiberg-Omega/Theta XRD
            • 產地 德國
            • 廠商性質 代理商
            • 更新時間 2025/4/10 14:04:49
            • 訪問次數 1819

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            束蘊儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與德國布魯克(BRUKER)、衍射數據中心(ICDD)、德國Freiberg等實驗室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應商。

            我們擁有一支積極樂觀,正直誠信的年輕團隊,我們熱忱的信仰科學,相信科學技術能為我們的客戶帶來高品質的生活,為社會的進步起到積極的促進作用。

            束蘊儀器為各類客戶提供優(yōu)質的實驗室和工業(yè)檢測儀器及過程控制設備,專業(yè)的應用支持及完善的售后服務,在中國大陸的諸多領域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗機構、及工業(yè)企業(yè)。產品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個行業(yè)。

            公司的宗旨:為客戶量身打造合適的綜合解決方案、技術支持和現(xiàn)場服務,優(yōu)質的客戶培訓,快速及時的售后服務。

             

            束蘊儀器,讓世界更清晰!

            主營儀器設備:

            --高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀          (ESR/EPR)、臺式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學輪廓儀等 -- 德國布魯克Bruker 授權代理商

            --PDF衍射數據庫、JADE軟件--衍射數據中心(ICDD)授權代理商

            --晶圓片壽命檢測儀、在線晶圓片/晶錠點掃或面掃檢測、晶圓片在線面掃檢測儀、臺式PID潛在誘導退化測試儀、釋光測定儀等--德國Freiberg Instruments授權代理商

            --BPCL化學發(fā)光儀--微光科技華東區(qū)總代理

             


             單位名稱:束蘊儀器(上海)有限公司

            詳細地址:上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602室

             

             

             

             

             

            MicroCT,顯微CT,微焦點CT,骨骼成像,顯微CT材料學檢測,微納顯微CT,X射線斷層掃描,TOC,元素檢測

            價格區(qū)間 面議 儀器種類 雙晶衍射
            應用領域 化工,能源,電子/電池,航空航天,電氣

            Omega/Theta XRD Mapping面掃功能

            Omega/Theta XRD Mapping面掃功能掃臺允許使用受控的網格模式來探索整個樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉盤頂部容納額外的XY定位平臺。樣品表面可以根據用戶定義的網格進行掃描。由于樣品上X射線光斑的大小,小的網格間距約為1毫米。


             


            繪圖階段可以與Omega掃描結合起來,以獲得晶體方向圖,或與搖擺曲線測量結合起來,以獲得表面的扭曲圖。可提供用于顯示和分析的軟件包。

             

            Omega/Theta XRD Mapping面掃功能

            是診斷晶體生長過程中和制造過程中出現(xiàn)的質量問題的一個寶貴工具


            即使在單晶中,晶體取向也可以在表面上表現(xiàn)出微小的變化,這是由晶格缺陷引起的內部應變造成的。有序生長的薄膜也可以有一個有趣的面內取向分布。

            繪制一個表面需要大量的測量。在這里,歐米茄掃描方法可以提供其速度方面的優(yōu)勢。圖中顯示的是在一個(Si,Ge)固溶體晶片上測量的取向圖。較大的方向差是0.03°。同心圓是按照晶體的生長環(huán)進行的。



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