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            官方微信|手機(jī)版
            
			
			
            
				
			
            
		
            
  

              
            

            
			
				
			
			
            產(chǎn)品展廳
            
			
            產(chǎn)品求購(gòu)企業(yè)資訊會(huì)展
            
 			
            
				
				
				
			
            
			
            
				發(fā)布詢價(jià)單
			
            
         
		
            
  
            
    
            化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)測(cè)量?jī)x>橢偏儀>  自動(dòng)光譜橢偏儀SENDURO® 
            
  
            
  
            
  
    
      
            

			
              自動(dòng)光譜橢偏儀SENDURO®
            
			
            
			
			
							
				
            
													
            
							    							
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            
							
            
											
            
						
              
							
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								公司名稱
								北京瑞科中儀科技有限公司                      
                  
							
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								品牌
								其他品牌
							
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								型號(hào)
								
							
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								產(chǎn)地
								
							
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								廠商性質(zhì)
								經(jīng)銷商
							
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								更新時(shí)間
								2024/7/10 9:29:41
							
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								訪問(wèn)次數(shù)
								1134
							
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            北京瑞科中儀科技有限公司專注半導(dǎo)體材料研究分析設(shè)備的研發(fā)和應(yīng)用。專業(yè)的團(tuán)隊(duì)，專精的服務(wù)，提供理想的解決方案。
            我們長(zhǎng)期專注于半導(dǎo)體材料研究與分析設(shè)備的經(jīng)銷和代理，為高校、企業(yè)科研工作者提供專業(yè)的分析解決方案。以專業(yè)技能為導(dǎo)向，用科技來(lái)解決用戶在科研中遇到的難題。專業(yè)的技術(shù)工程師和科研工作者進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)演示和技術(shù)交流，打消顧慮，彼此協(xié)作，為我國(guó)的科研領(lǐng)域譜寫新篇章。
            北京瑞科中儀科技有限公司長(zhǎng)期代理銷售供應(yīng)多種分子材料的研究分析設(shè)備，其中包括但不限于掃描電子顯微鏡、感應(yīng)耦合等離子體化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)、離子束刻蝕機(jī)、等離子清洗機(jī)、物理氣相沉積系統(tǒng)以及各品牌的光學(xué)顯微鏡以及實(shí)驗(yàn)室設(shè)備儀器。
            客戶至上的服務(wù)理念，以人為本的企業(yè)文化，我們始終為用戶提供專業(yè)的服務(wù)！
            合作丨共贏，選擇我們，選擇未來(lái)！
             
            
	  		
            
  		
            
		
  		
            
  		
            
  			
            
  			
            
  				
            半導(dǎo)體材料分析,材料刻蝕
            
  			
            
  		
            
  		
            
		
		
  	
            
  	
            
  		
	    
            
      		
            
			        
            
	    	                                	            
            
    	                	            產(chǎn)地類別
    	            國(guó)產(chǎn)
                        	                                    	            應(yīng)用領(lǐng)域
    	            化工,電子/電池
                        	            
            
    	                	            	    	   	 
            
			
            
    					
    
            自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)
            自動(dòng)光譜橢偏儀SENDURO®所有的全自動(dòng)光譜橢偏免除了用戶根據(jù)高度和傾斜度手動(dòng)地對(duì)準(zhǔn)樣品的麻煩，這對(duì)于高精度和可重復(fù)的光譜橢偏是必要的。該自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)傳感器大大減少了操作誤差，適用于透明和反射樣品，即使在彎曲的樣品上也可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)掃描。
            操作簡(jiǎn)單
            配方模式非常適合于生產(chǎn)，工藝監(jiān)控以及研發(fā)的常規(guī)應(yīng)用。該光譜橢偏儀帶有隨機(jī)可的配方數(shù)據(jù)庫(kù)，可以根據(jù)您的具體需要對(duì)其進(jìn)行修改。
            步進(jìn)掃描分析器
            自動(dòng)光譜橢偏儀SENDURO®步進(jìn)掃描分析器SSA是SENTECH光譜橢偏技術(shù)的一個(gè)特征。分析樣品的總時(shí)間只需幾秒鐘。
            SENDURO® 可測(cè)量透明和反射基片上單層薄膜和層疊膜的折射率和厚度。SENDURO® 自動(dòng)掃描則實(shí)現(xiàn)了較高的樣品速度，化安裝工作量和低的維護(hù)成本。該光譜橢偏儀的自動(dòng)掃描具有預(yù)定義或用戶定義的模式、允許廣泛的統(tǒng)計(jì)特性和數(shù)據(jù)圖形顯示。
            SENDURO® 是SENTECH自動(dòng)化，占地面積小，設(shè)計(jì)緊湊的橢偏儀的代表。測(cè)量臺(tái)包括橢偏儀光學(xué)部件、自動(dòng)傾斜和高度傳感器、電動(dòng)樣品臺(tái)和控制器電子設(shè)備，它們?nèi)烤o湊的組合。為了達(dá)到更高產(chǎn)量的要求，我們的光譜橢偏儀也提供了片盒站裝載尺寸到300 mm的大晶片。
            SENDURO® 以其高樣品測(cè)量速度，易于操作和自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)在工業(yè)應(yīng)用中表現(xiàn)出色。應(yīng)用范圍從半導(dǎo)體上的介質(zhì)膜到玻璃上的多層光學(xué)涂層。
            SENDURO® 優(yōu)異的光譜橢偏軟件具有配方模式和工程模式。配方模式致力于重復(fù)應(yīng)用程序的簡(jiǎn)單執(zhí)行。密碼控制的用戶登錄允許不同級(jí)別的用戶登錄。在交互模式下，橢偏測(cè)量通過(guò)交互式的，指導(dǎo)性的圖形用戶界面得到增強(qiáng)。此外，可以使用材料數(shù)據(jù)庫(kù)和散射模型修改已經(jīng)存在的配方或建立新的配方。
            Multi sample stage with semitransparent substratesMultilayer analysis by SpectraRay/3Compact housing of semi-automated ellipsometerCassette station for up to 300 mm waferSENDURO® 300 with cassette-to-cassette loadingApplicable measurement tool for R?&?DThickness map of spin coated photoresist / Si (substrate) with step size of 500 µm and 100 µmThickness map of Al2O3 / Si (substrate) according to SEMI standardApplicable for measurement in cleanroom environment

            
	    
            
		    
    
  	
            
  
            
  
            
    	
    
            
      
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