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            產(chǎn)品展廳

            產(chǎn)品求購(gòu)企業(yè)資訊會(huì)展

            發(fā)布詢價(jià)單
            徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司

            化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)顯微鏡>紅外顯微鏡>全類型 紅外金相顯微鏡芯片隱裂瑕疵紅外無損檢測(cè)

            全類型 紅外金相顯微鏡芯片隱裂瑕疵紅外無損檢測(cè)

            參考價(jià) 100000
            訂貨量 ≥1
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 公司名稱 蘇州銳納微光學(xué)有限公司
            • 品牌 Nikon/日本尼康
            • 型號(hào) 全類型
            • 產(chǎn)地
            • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
            • 更新時(shí)間 2023/12/1 15:04:57
            • 訪問次數(shù) 994

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            蘇州銳納微光學(xué)有限公司是一家從事光學(xué)、機(jī)械、電子精密測(cè)量?jī)x器集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的和服務(wù)等一體化高科技企業(yè)。
            銳納微光學(xué)以對(duì)高品質(zhì)的不斷追求,良好的客戶服務(wù),其雄厚的實(shí)力和在業(yè)界良好的信譽(yù),成為L(zhǎng)EICA,NIKON,OLYMPUS,UNION等光學(xué)顯微鏡銷售,工業(yè)測(cè)定儀器和相關(guān)電子元件等的合作伙伴。
            銳納微光學(xué)擁有一批專業(yè)應(yīng)用技術(shù)人員, 能給客戶提供Z為實(shí)用的專業(yè)咨詢, 維修工程師能提供更有成效的跟蹤售后服務(wù).對(duì)LCD、PCB、FPC、MEMS、半導(dǎo)體、顯示設(shè)備、IC封裝、Lead Frame、精密零件、光纖通訊、 LED產(chǎn)業(yè)醫(yī)療器械等行業(yè)所涉及到顯微檢查,測(cè)量尺寸,分析結(jié)果等應(yīng)用有成熟的經(jīng)驗(yàn)和獨(dú)到的見解。因此, 您有理由相信我們給您提供的產(chǎn)品必定給您帶來較大的效益, 為您節(jié)省更多的資源。讓我們成功的成為合作關(guān)系,共同努力進(jìn)取。
            專業(yè)的銷售人員有著多年光學(xué)儀器行業(yè)服務(wù)經(jīng)驗(yàn)。提供專業(yè)銷售,維修等服務(wù)。
            優(yōu)質(zhì)的供貨鏈保證的穩(wěn)定的供貨,快捷的交貨期。
            批發(fā)直銷的方式減少了貨品流通的中間環(huán)節(jié),保證了價(jià)格優(yōu)勢(shì)。
            和世界各大光學(xué)顯微鏡品牌廠家有著長(zhǎng)期良好的合作。
            專業(yè)的服務(wù)人員,為客戶提供設(shè)備的維護(hù) 保養(yǎng) 校正 等技術(shù)支持。




            奧林巴斯OLYMPUS BX51M,奧林巴斯OLYMPUS BX53M, 奧林巴斯OLYMPUS MX61,奧林巴斯OLYMPUS SZ61,尼康NIKON LV150N,尼康NIKON L200/L300N,尼康NIKON SMZ800N 奧林巴斯金相分析軟件, 清潔度檢測(cè), 奧林巴斯 OLYMPUS CCD,尼康NIKON CCD

            產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 10萬-30萬
            應(yīng)用領(lǐng)域 電子 紅外 全波段
              近紅外檢測(cè)應(yīng)用實(shí)例
             
              §Vcsel芯片隱裂(cracks)、InGaAs瑕疵紅外無損檢測(cè)
             
              §Vcsel芯片氧化孔徑測(cè)量
             
              §法拉第激光隔離器,Faraday Isolator近紅外無損檢測(cè)
             
              §die chip 失效分析
             
              §紅外透射Wafer正反面定位標(biāo)記重合誤差無損測(cè)量
             
              §硅基半導(dǎo)體Wafer、碲化鎘CdTe、碲鎘汞HgCdTe襯底無損紅外檢測(cè)
             
              §太陽能電池組件綜合缺陷紅外檢測(cè)
             
              n晶圓觀察完畢后,依次進(jìn)行如下操作:
             
              1. 將物鏡旋轉(zhuǎn)至最小倍率(5X)。
             
              2. 將晶圓從載物臺(tái)下取下。
             
              3. 將載物臺(tái)調(diào)整至中心位置。
             
              4. 關(guān)閉顯微鏡光源。
             
              5. 關(guān)閉顯微鏡電源。
             
              n另外,使用顯微鏡時(shí)需注意如下幾點(diǎn):
             
              1. 物鏡切換時(shí),依次從5X調(diào)整至10X、20X、50X,最后至100X,禁止從5X直接切換為100X。
             
              2. 顯微鏡使用完成,一定要關(guān)閉顯微鏡光源。
             
              3. 其他未介紹的顯微鏡按鈕開關(guān)是設(shè)備調(diào)試時(shí)使用,正常情況下禁止使用。
             
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