UltraTran 東譜科技多功能光電器件測(cè)試儀
- 公司名稱 東譜科技(廣州)有限責(zé)任公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) UltraTran
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/3/11 10:20:49
- 訪問次數(shù) 133
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞:深能級(jí)瞬態(tài)譜儀、深能級(jí)能譜儀、多功能載流子特性分析系統(tǒng)、半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試、載流子特性分析系統(tǒng)、強(qiáng)度調(diào)制光電流譜、強(qiáng)度調(diào)制光電壓譜、DLTS、線性增壓測(cè)試、線性增壓載流子抽取、阻抗譜分析儀、電容電壓測(cè)試
Product Keywords: Deep level transient Spectrometer, deep level energy spectrometer, multi-function carrier characteristic analysis system, semiconductor parameter testing, carrier characteristic analysis system, intensity modulated photocurrent spectrum, intensity modulated photovoltage spectrum, DLTS, linear boost test, linear boost carrier Extraction, impedance spectrum analyzer, capacitor voltage test
▌ 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
UltraTran是一款集成了多種光電測(cè)試功能的儀器設(shè)備,專門針對(duì)半導(dǎo)體材料和器件的電學(xué)與光電特性進(jìn)行精確測(cè)量,尤其適用于發(fā)光(OLED、PeLED等)與光伏器件(OPV、晶硅PV、異質(zhì)結(jié)疊層PV等),該設(shè)備核心功能包括:
1)斜坡電壓電流測(cè)試(Ramp-IV)、階梯電壓電流測(cè)試(Step- IV)和脈沖電壓電流測(cè)試(Pulse-IV)。這些測(cè)試模式使得用戶能夠以不同的電學(xué)激勵(lì)方式對(duì)樣品進(jìn)行掃描,從而獲得關(guān)于樣品在不同激勵(lì)下的電學(xué)性質(zhì)。Ramp-IV以連續(xù)的方式提供電壓掃描,適用于捕捉材料響應(yīng)的連貫變化;Step-IV則以逐步階梯的方式提供電壓,適合觀察材料在不同電壓階躍下的穩(wěn)態(tài)行為;而Pulse-IV通過短時(shí)的電壓脈沖,允許研究器件的動(dòng)力學(xué)IV特性,也可以有效減少器件的熱阻,增加器件的注入電流。
2)UltraTran還提供了開關(guān)瞬態(tài)光電流(on-off TPC)和開關(guān)瞬態(tài)光電壓(on-off TPV)測(cè)試,這些功能適合于研究材料在光照激發(fā)下的上升和下降過程【瞬態(tài)光電流/光電壓/光電荷測(cè)試參考我司TranPVC產(chǎn)品】。
3)暗注入瞬態(tài)特性測(cè)試(DIT)和深能級(jí)瞬態(tài)譜(DLTS)是可以用于探測(cè)和分析半導(dǎo)體中的陷阱和缺陷狀態(tài)。DLTS技術(shù)尤為擅長(zhǎng)于識(shí)別和量化材料中的微小缺陷濃度,為改善半導(dǎo)體材料質(zhì)量提供關(guān)鍵信息。
4)設(shè)備還支持暗態(tài)線性增壓電荷抽取測(cè)試(Dark-CELIV)和光態(tài)線性增壓電荷抽取測(cè)試(Photo-CELIV),這兩種模式能夠測(cè)定電荷在半導(dǎo)體內(nèi)的傳輸和復(fù)合機(jī)制,得到遷移率等參數(shù)。
5)等效電荷抽取測(cè)試(CE),可以研究器件的電荷濃度。
6)阻抗譜測(cè)試(IS)、電容電壓測(cè)試(CV)等功能則為設(shè)備增加了額外的維度,使其能夠全面評(píng)估材料的阻抗和介電性能。
7)強(qiáng)度調(diào)制光電流譜(IMPS)和強(qiáng)度調(diào)制光電壓譜(IMVS)為研究者提供了一種方法來探究材料對(duì)光強(qiáng)變化的頻率響應(yīng),這對(duì)于光伏材料和應(yīng)用尤為重要。
8)電致發(fā)射譜(ELS)為研究材料的電致發(fā)光特性,得到光譜、色坐標(biāo)等參數(shù)。
▌ 測(cè)試功能
□ 斜坡電壓電流測(cè)試(Ramp-IV);
□ 階梯電壓電流測(cè)試(Step-IV);
□ 脈沖電壓電流測(cè)試(Pulse-IV);
□ 開關(guān)瞬態(tài)光電流(on-off TPC);
□ 開關(guān)瞬態(tài)光電壓(on-off TPV);
□ 深能級(jí)瞬態(tài)譜(DLTS);
□ 暗注入瞬態(tài)特性測(cè)試(DIT);
□ 暗態(tài)線性增壓電荷抽取測(cè)試(Dark-CELIV)。
□ 光態(tài)線性增壓電荷抽取測(cè)試(Photo-CELIV);
□ 電荷抽取測(cè)試(CE);
□ 阻抗譜測(cè)試(IS);
□ 電容電壓測(cè)試(CV);
□ 強(qiáng)度調(diào)制光電流譜(IMPS);
□ 強(qiáng)度調(diào)制光電壓譜(IMVS);
□ 電致發(fā)射譜(ELS);
▌ 產(chǎn)品應(yīng)用
□ 半導(dǎo)體:有機(jī)半導(dǎo)體、金屬-有機(jī)框架、共價(jià)有機(jī)框、鈣鈦礦材料、二維材料、元素半導(dǎo)體(Si、Ge等)、化合物半導(dǎo)(InGaAs等)、寬帶隙第三代半導(dǎo)體、量子點(diǎn)半導(dǎo)體、其它半導(dǎo)體材料;
□ 光伏材料器件;
□ 發(fā)光材料器件;
□ 光催化材料器件。
▌ 功能模塊
多功能光電器件測(cè)試儀UltraTran | ||||
功能 | 是否標(biāo)配 | 電光轉(zhuǎn)換器件選配 | 光電轉(zhuǎn)換器件選配 | |
斜坡電壓電流測(cè)試(Ramp-IV) | ● | |||
階梯電壓電流測(cè)試(Step-IV) | ● | |||
脈沖電壓電流測(cè)試(Pulse-IV) | ● | |||
開關(guān)瞬態(tài)光電流(on-off TPC) | × | ● | ||
開關(guān)瞬態(tài)光電壓(on-off TPV) | × | ● | ||
暗注入瞬態(tài)特性測(cè)試(DIT) | ● | |||
深能級(jí)瞬態(tài)譜(DLTS) | ● | |||
暗態(tài)線性增壓電荷抽取測(cè)試(Dark-CELIV) | ● | |||
光態(tài)線性增壓電荷抽取測(cè)試(Photo-CELIV) | × | ● | ● | |
電荷抽取測(cè)試(CE) | × | ● | ||
阻抗譜測(cè)試(IS) | ● | |||
電容電壓測(cè)試(CV) | ● | |||
強(qiáng)度調(diào)制光電流譜(IMPS) | × | ● | ||
強(qiáng)度調(diào)制光電壓譜(IMVS) | × | ● | ||
電致發(fā)射譜(ELS) | × | ● | ||
性能參數(shù) | ||||
采樣率 | 250MS/s | |||
時(shí)間分辨率 | 5ns | |||
頻率范圍 | 10 mHz to 10 MHz | |||
電壓范圍 | ±12V | |||
電流范圍 | 0~100 mA | |||
最小電流分辨率 | ≤100pA | |||
光電探測(cè)模塊 | 波長(zhǎng)范圍:350nm-1100nm;上升時(shí)間:14ns。 | |||
LED光源模塊 | 色溫:6500K;波長(zhǎng)范圍:400nm-700nm; | |||
變溫模塊 | 根據(jù)需要配置液氮低溫恒溫器、液氦低溫恒溫器等 |