產(chǎn)品特點(diǎn)

　　1、精確性和控制：手動探針臺可以實(shí)現(xiàn)1微米的精確控制，確保在微米尺度上的精確定位。

　　2、靈活性：使用時可以手動旋轉(zhuǎn)、上下、左右或傾斜探針或樣品臺，以滿足不同實(shí)驗(yàn)需求，適應(yīng)不同樣品的形狀和大小。

　　3、實(shí)時反饋：配備顯微鏡和尼康CCD（可見光至中近紅外波段），允許實(shí)時觀察探針和樣品的相對位置，確保準(zhǔn)確對準(zhǔn)。

　　4、簡單操作：設(shè)計(jì)直觀，操作簡單，容易上手。

　　5、穩(wěn)定性：結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)堅(jiān)固，采用高質(zhì)量材料制成，測量時全設(shè)備密封無塵，確保長期穩(wěn)定運(yùn)行。

　　6、兼容性：能夠配合多種探針和光電測量系統(tǒng)，可外接皮秒、飛秒激光器，進(jìn)行光電流探測?？赏饨永沃C波等光學(xué)無損測量。

　　7、可定制性：可根據(jù)用戶的特定需求定制，比如探針的長度、角度以及臺座的大小等，以滿足特殊應(yīng)用條件。

　　產(chǎn)品部件

　　1.穩(wěn)定的基座

　　由硬質(zhì)鋁合金板制成，確保整體結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性和減少外部振動的影響。

　　2.探針臂

　　探針頭：用于直接接觸樣品進(jìn)行測量的部分，可以更換以適應(yīng)不同的測量需求。

　　微調(diào)機(jī)構(gòu)：包括用于微調(diào)探針位置的精密螺旋，允許精細(xì)調(diào)整探針頭的位置和角度，以實(shí)現(xiàn)精確對準(zhǔn)。

　　3.探針

　　針尖類型：根據(jù)測量需求，探針的材質(zhì)、形狀和尺寸可以更換，如鎢針、金針等。

　　多通道探針：用于同時進(jìn)行多點(diǎn)測量或信號輸入/輸出。

　　4.樣品臺

　　微動臺：允許精細(xì)調(diào)整樣品的位置，以便于探針的對準(zhǔn)和接觸。

　　旋轉(zhuǎn)和傾斜機(jī)構(gòu)：用于調(diào)整樣品的角度，以適應(yīng)不同的測量需求。

　　5.顯微鏡放大設(shè)備

　　立體顯微鏡：用于放大和觀察探針與樣品之間的接觸區(qū)域。

　　攝像頭：配備攝像頭以方便用戶從屏幕上觀察操作。

　　6.光學(xué)和照明設(shè)備

　　光源：提供足夠的照明，幫助用戶更清晰地觀察樣品和探針。

　　偏光器、濾光片：用于特定的光學(xué)觀察和測量。

　　7.連接和接口

　　電纜和連接器：用于將探針臺與測量儀器或計(jì)算機(jī)連接，進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸和控制。

　　接地線：減少電氣干擾，提高測量的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

　　8.防振解決方案

　　防振臺：減少環(huán)境振動對測量的影響。

　　隔振墊或氣墊：用于進(jìn)一步降低振動和噪聲。

　　產(chǎn)品功能

　　半導(dǎo)體器件的特性測試：

　　在半導(dǎo)體器件制造過程中，用于測量和分析晶體管、二極管等微型器件的電學(xué)性能，如電流-電壓（I-V）特性。

　　納米材料的電學(xué)性能評估：

　　對于納米線、納米管等納米尺度材料，使用進(jìn)行電導(dǎo)率、電阻率等基本電學(xué)特性的測量。

　　薄膜材料的測試：

　　在研究薄膜太陽能電池、發(fā)光二極管（LED）等薄膜材料時，用于測試薄膜的電學(xué)性能和均勻性。

　　化學(xué)氣相沉積（CVD）制備的材料測試：

　　對于通過CVD技術(shù)制備的石墨烯、過渡金屬硫化物等二維材料，使用探針臺進(jìn)行電學(xué)特性測試，如場效應(yīng)遷移率的測定。

　　微電子機(jī)械系統(tǒng)（MEMS）的功能測試：

　　在MEMS設(shè)備的研發(fā)中，手動探針臺被用于測試微型機(jī)械元件的電學(xué)響應(yīng)，確保其性能符合設(shè)計(jì)要求。

　　光電材料的性能評估：

　　在研究有機(jī)光電材料時，例如有機(jī)光伏材料和有機(jī)發(fā)光材料，探針臺用于測量材料的光電轉(zhuǎn)換效率和發(fā)光特性。