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            產(chǎn)品展廳

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            SpectraRay/4 薄膜計(jì)量光譜儀軟件

            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 公司名稱(chēng) 深圳市矢量科學(xué)儀器有限公司
            • 品牌 SENTECH
            • 型號(hào) SpectraRay/4
            • 產(chǎn)地
            • 廠(chǎng)商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
            • 更新時(shí)間 2024/9/5 11:16:05
            • 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 265
            產(chǎn)品標(biāo)簽

            計(jì)量軟件偏振光譜

            聯(lián)系方式:謝澤雨查看聯(lián)系方式

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            深圳市矢量科學(xué)儀器有限公司是集半導(dǎo)體儀器裝備代理及技術(shù)服務(wù)的高新技術(shù)企業(yè)。

            致力于提供半導(dǎo)體前道制程工藝裝備、后道封裝裝備、半導(dǎo)體分析測(cè)試設(shè)備、半導(dǎo)體光電測(cè)試儀表及相關(guān)儀器裝備維護(hù)、保養(yǎng)、售后技術(shù)支持及實(shí)驗(yàn)室整體服務(wù)。

            公司目前已授實(shí)用新型權(quán)利 29 項(xiàng),軟件著作權(quán) 14 項(xiàng),是創(chuàng)新型中小企業(yè)、科技型中小企業(yè)、規(guī)模以上工業(yè)企業(yè)。










            冷熱臺(tái),快速退火爐,光刻機(jī),納米壓印、磁控濺射,電子束蒸發(fā)

            1. 產(chǎn)品概述

            SpectraRay/4 是 SENTECH 有的光譜橢圓偏振儀軟件,包括橢圓、反射和透射數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)采集、建模、擬合和擴(kuò)展報(bào)告。它支持可變角度、多實(shí)驗(yàn)和組合光度測(cè)量。 包括一個(gè)基于 SENTECH 厚度測(cè)量和文獻(xiàn)數(shù)據(jù)的龐大而全面的材料數(shù)據(jù)庫(kù)。大量的色散模型允許對(duì)幾乎任何類(lèi)型的材料進(jìn)行建模。

            2. 映射

            我們的光譜橢圓偏振儀的映射選項(xiàng)具有預(yù)定義或用戶(hù)定義的模式、廣泛的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)以及以 2D 顏色、灰色、等高線(xiàn)、+/- 與平均值的偏差和 3D 繪圖等圖形顯示數(shù)據(jù)。

            3. 模擬

            測(cè)量參數(shù)可以模擬為波長(zhǎng)、光子能量、倒數(shù)厘米、入射角、時(shí)間、溫度、薄膜厚度測(cè)量和其他參數(shù)的函數(shù)。

            4. 交互模式

            設(shè)置測(cè)量參數(shù)并開(kāi)始薄膜厚度測(cè)量

            通過(guò)從材料庫(kù)拖放或從現(xiàn)有的色散模型中拖放來(lái)構(gòu)建模型

            定義和改變參數(shù),使計(jì)算出的光譜與測(cè)量的光譜擬合

            以交互方式改進(jìn)模型,實(shí)現(xiàn)佳品質(zhì)因數(shù)

            通過(guò)從預(yù)定義或自定義的模板中進(jìn)行選擇,將結(jié)果報(bào)告為 word 文檔

            將所有實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)、實(shí)驗(yàn)方案和注釋保存在一個(gè)實(shí)驗(yàn)文件中

            5. 配方模式

            SpectraRay/4 配方模式的優(yōu)點(diǎn)是兩步操作:

            選擇和

            從庫(kù)中執(zhí)行預(yù)定義的配方。

            配方包括厚度測(cè)量參數(shù)、模型、擬合參數(shù)和報(bào)告模板。 

            6. 靈活性和模塊化

            SpectraRay/4 具有單軸和雙軸各向異性材料測(cè)量、薄膜厚度測(cè)量和層測(cè)量功能。該軟件可處理去化、不均勻性、散射(Mueller 矩陣)和背面反射等樣品效應(yīng)。

            該軟件包括通用光譜橢圓偏振法軟件包的所有實(shí)用程序,用于數(shù)據(jù)導(dǎo)入和導(dǎo)出(包括 ASCII)、文件管理、光譜的算術(shù)操作、顯示、打印和報(bào)告(Word 文件格式 *.doc)。腳本編寫(xiě)功能使其非常靈活,可以自動(dòng)執(zhí)行常規(guī)測(cè)量,為要求苛刻的應(yīng)用進(jìn)行定制,并控制第三方硬件,如傳感器、加熱臺(tái)、樣品池或低溫恒溫器。



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