SurfaceSeer I-101 SIMS二次離子質(zhì)譜儀
- 公司名稱 那諾中國(guó)有限公司
- 品牌 KORE
- 型號(hào) SurfaceSeer I-101
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/15 15:56:20
- 訪問次數(shù) 1778
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ALD，PECVD，RIE，磁控濺射，熱蒸鍍，電子束，離子束，晶圓清洗機(jī)，PA-MOCVD，飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 飛行時(shí)間 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,地礦,電子/電池,制藥/生物制藥 | 原始束流或速能量 | 25kV |
| 質(zhì)量分辨率 | > 3000 m/δm | 質(zhì)量分析范圍 | ~10000U |
Kore SurfaceSeer I是一款高靈敏度、高質(zhì)量范圍、高分辨率的SIMS二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS），可以用于絕緣、導(dǎo)電表面的成像分析與化學(xué)成分分析。SurfaceSeer I是研究表面化學(xué)的分析利器，適用于研發(fā)和工業(yè)質(zhì)量控制應(yīng)用。
SIMS二次離子質(zhì)譜儀主要通過離子源發(fā)射離子束濺射樣品表面進(jìn)行分析。離子束作為一次離子源，經(jīng)過一次離子光學(xué)系統(tǒng)的聚焦和傳輸，到達(dá)樣品表面。樣品表面經(jīng)過濺射，產(chǎn)生二次離子，系統(tǒng)將產(chǎn)生的二次離子提取和聚焦，并將二次離子送入離子飛行系統(tǒng)。在離子飛行系統(tǒng)中，不同種類的二次離子由于質(zhì)荷比不同，飛行速度也不同，在飛行系統(tǒng)分離，通過檢測(cè)這些離子進(jìn)行相關(guān)分析。
靜態(tài)SIMS是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，能在只消耗樣品單層一小部分的情況下，獲得詳細(xì)的質(zhì)譜圖。被分析的分子來自固體表面前幾層，這對(duì)于探討材料關(guān)鍵區(qū)域例如附著力或催化等性質(zhì)至關(guān)重要。
SurfaceSeer I 使用與 SurfaceSeeer S 相同的 TOF-MS 技術(shù)，但配備了高亮度、高空間分辨率的 25kV 液態(tài)金屬離子槍（LMIG）作為主要離子源。LMIG 的探頭尺寸≤ 0.5µm，可實(shí)現(xiàn)高分析空間分辨率。全自動(dòng)計(jì)算機(jī)控制，允許在質(zhì)譜采集期間掃描離子槍，從而可以收集到化學(xué)圖像或圖譜。另外還提供了一個(gè)二次電子探測(cè)器（SED），用 于調(diào)諧初級(jí)電子束和 SED 圖像捕獲。
帶有12.7µm重復(fù)單元的銅格柵
SurfaceSeer I 儀器特點(diǎn)：
配備25KV液態(tài)金屬離子槍（LMIG）作為主要離子源，檢測(cè)能力更強(qiáng)，質(zhì)量分辨率更高；
具備表面成像和深度剖析功能；
提供的SIMS材料譜庫包含上千種材料的質(zhì)譜數(shù)據(jù)，可識(shí)別未知的化合物和材料；
可同時(shí)分析所有元素及有機(jī)物，可消除有機(jī)物和元素干擾，使譜圖更清晰，檢測(cè)限更低，能更有效地分析材料樣品。
專用數(shù)據(jù)處理軟件允許分析數(shù)據(jù)和樣品的化學(xué)構(gòu)成信息進(jìn)行全面的交互提取，其所有儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)都能用于溯源性分析。
表面分析靈敏度高達(dá) 1x109 atoms/cm2
SurfaceSeer I 應(yīng)用領(lǐng)域:
表面涂層和處理
電子元件和半導(dǎo)體
電極與傳感器
潤(rùn)滑劑
催化劑
粘合劑
薄膜等包裝材料
腐蝕研究
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