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            產(chǎn)品展廳

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            KIF-202L(KIF-202L) 小型激光干涉儀

            具體成交價以合同協(xié)議為準

            聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


            元中銳科集成檢測技術(shù)有限公司是工業(yè)檢測技術(shù)和系統(tǒng)集成商。是日本奧林巴斯(OLYMPUS)株式會社三維超景深顯微鏡,正立金相顯微鏡,小型系統(tǒng)顯微鏡,數(shù)碼光學顯微鏡,激光共焦顯微鏡,工業(yè)顯微鏡的代理商。還是德國UHL產(chǎn)品在北方的總代理。致力于為工業(yè)制造和科研領(lǐng)域用戶提供顯微分析、圖像分析、缺陷識別和檢驗、無損探查、品質(zhì)管理、計量,過程控制等專業(yè)檢測設(shè)備,依托強有力的技術(shù)資源及完善專業(yè)的售后服務(wù)與維修體系,向用戶提供專業(yè)成熟細致的服務(wù)及全面地解決方案 。
            服務(wù)對象涵蓋科研院校,航空航天、冶金、電力、地質(zhì),石油石化等材料研究行業(yè),機械及微機械領(lǐng)域,以及電子領(lǐng)域、光電顯示制造、電子零件制造、半導體、液晶及MEMS,NANO等諸多領(lǐng)域,為用戶提供*的儀器和完善的解決方案,為用戶工作提供Z強有力的技術(shù)支持。
            我們的技術(shù):可見光、激光、深紫外、紅外、偏光、掃描、共聚焦等多種顯微術(shù)、精密量測技術(shù)、全自動顯微觀察及測量、數(shù)字圖象處理和識別,自動控制等。
            我們的宗旨:秉承 創(chuàng)新Innovation; 技術(shù) Technology集成 Integration;服務(wù) Service的理念,
            堅持專業(yè)周到細致的服務(wù),不斷努力創(chuàng)新,更好地創(chuàng)造顧客價值和公司價值,成為工業(yè)檢測和質(zhì)量及過程控制方面的優(yōu)秀的公司之一。

            激光共聚焦顯微鏡

            小型·操作簡便
              充分考慮作業(yè)現(xiàn)場內(nèi)的使用環(huán)境,占地空間小,方便操作。

            可測量倍率(1×、2.5×)
              測定倍率擴大到2.5×,可簡單測量小件物體。與Φ60-Φ15(可選件)的孔徑轉(zhuǎn)換器組合匹配使用的話,可zui大擴大10倍。(平面測定時)

            參照鏡片λ/20 高精度
              因為本社加工技術(shù),參照鏡為λ/20高精度鏡片。根據(jù)客戶選擇的需要,也可提供λ/30 的產(chǎn)品。

            豐富的附屬備件群
              我社準備了豐富的附屬備件。如使用干涉條紋解析裝置(KIF-FSPC/FS2000),可進行高精度條紋解析。

            主要用途:
            · 鏡片研磨面的面精度的測定。
            · 塑料成型件的面精度的測定。
            · 各種金屬切削面的面精度的測定。 

            規(guī)格:  

            測定方法 斐佐型干涉方式
            口徑 Φ60(使用可選件為Φ6-Φ102)mm
            被檢物大小 Φ6-Φ102(平面測定時)mm
            倍率 1×、2.5×(本體2 段切換)
            4×、10×(使用Φ60-Φ15的孔徑轉(zhuǎn)換器時)
            參照面精度 λ/20(球面以及平面)
            光源 He-Ne(632.8nm)激光
            電源 AC100V 50/60Hz
            本體外形尺寸 220(W)×360(D)×740(H)mm
            本體重量 約33kg
            標準附屬品 9型TV顯示器、5軸調(diào)整受臺
            * 特殊定單,我社可對應(yīng)15Omm沖程延長樣式。
            各參照鏡可測量范圍(表示KIF-202L標準規(guī)格樣式時的可測定范圍) 
            參照鏡                檢查可能曲率半徑                              檢查可能zui大口徑                             
            FNO zui終 R R/D
            0.6 16.8 0.65 1~16 1~295 24.6 200
            0.7 26.2 0.75 2~26 2~298 34.6 200
            1.0 45.5 1.02 2~45 3~283 44.1 200
            1.5 75.2 1.51 2~75 2~251 49.7 166.2
            2.0 105.0 2.0 2~105 2~220 52.5 110
            3.0 163.8 3.0 2~163 2~159 54.3 53
            6.0 347.6 6.0 16~347 - 57.8 -
            ※凹面?zhèn)鹊臏y定可能曲率半徑將會根據(jù)定盤的大小、干涉儀的設(shè)置方向(縱橫)等機械的尺寸、以及線性卡尺、解析裝置的安裝而不同。
            ●如必須測定曲率半徑在R2以下的場合,我社可以提供更加適合的規(guī)格,請與我社。
            各標準規(guī)格參照鏡的可測定范圍
            KIF-202L (標準規(guī)格)樣式時的測定可能范圍(mm) 
            參照鏡     KIF-202L(標準規(guī)格樣式)
            型號 zui終R R/D 測定可能曲率半徑       測定可能zui大口徑      
                  干擾條紋掃描機組無                    干擾條紋掃描機組有                  干擾條紋掃描機組無                    干擾條紋掃描機組有                   
                  凸 
            F0.6 16.8 0.65 1~16 1~295 1~16 1~205 24.6 200 24.6 200
            F0.7 26.2 0.75 2~26 2~298 2~26 2~208 34.6 200 34.6 200
            F1.0 45.5 1.02 2~45 2~283 2~45 2~193 44.1 200 44.1 189.2
            F1.5 75.2 1.51 2~75 2~251 2~75 2~161 49.7 166.2 49.7 106.6
            F2.0 105.0 2.0 2~105 2~220 2~105 2~130 52.5 110 52.5 65
            F3.0 163.8 3.0 2~163 2~159 2~163 2~69 54.3 53 54.3 23
            F6.0 347.6 6.0 16~347 - 106~347 - 57.8 - 57.8 -

            表示被檢物的厚度為零時的數(shù)值。
            各特別規(guī)格參照鏡的測定可能范圍(受注生產(chǎn)品)
            *本社準備了2 英寸的特別規(guī)格參照鏡,可用于較大曲率半徑的測定。
            *凹鏡片測定用(發(fā)散型)樣式有4 種,凸鏡片測定用(集光型)樣式有3 種。可供您隨意選擇。
            KIF-202L (標準規(guī)格)樣式時的測定可能范圍(mm) 

            特別規(guī)格參照鏡     KIF-202L(標準規(guī)格樣式)
            型號 zui終R     R/D     測定可能曲率半徑       測定可能zui大口徑                                       
                  干擾條紋掃描機組無   干擾條紋掃描機組有   干擾條紋掃描機組無   干擾條紋掃描機組有  
                  凸      
            RS60-C150 -150.3 1.93 - 160~464 - 160~370 - 200 - 191.7
            RS60-C300 -300.1 4.62 - 310~626 - 310~530 - 135.4 - 114.7
            RS60-C390 -389.3 6.03 - 400~715 - 400~620 - 118.5 - 102.8
            RS60-C490 -482.9 7.54 - 495~806 - 495~711 - 106.8 - 94.2
            RS60-V520 519.1 8.85 193~509 - 290~509 - 57.5 - 57.5 -
            RS60-V670 664.1 11.56 338~654 - 433~654 - 56.5 - 56.5 -
            RS60-V750 750.3 13.08 426~740 - 521~740 - 56.5 - 56.5 -

            表示被檢物的厚度為零時的數(shù)值。
            KIF-202LL(長距離:150mm沖程延長規(guī)格)樣式時的測定可能范圍(mm) 

            特別規(guī)格參照鏡     KIF-202LL(長距離:150mm 沖程延長規(guī)格)樣式
            型號 zui終R R/D 測定可能曲率半徑       測定可能zui大口徑      
                  干擾條紋掃描機組無   干擾條紋掃描機組有   干擾條紋掃描機組無   干擾條紋掃描機組有  
                  凸      
            RS60-C150 -150.3 1.93 - 160~614 - 160~520 - 200 - 200
            RS60-C300 -300.1 4.62 - 310~776 - 310~680 - 167.9 - 147.1
            RS60-C390 -389.3 6.03 - 400~865 - 400~770 - 143.4 - 127.6
            RS60-C490 -482.9 7.54 - 495~956 - 495~861 - 126.7 - 114.1
            RS60-V520 519.1 8.85 43~509 - 140~509 - 57.5 - 57.5 -
            RS60-V670 664.1 11.56 188~654 - 283~654 - 56.5 - 56.5 -
            RS60-V750 750.3 13.08 276~740 - 371~740 - 56.5 - 56.5 -

            表示被檢物的厚度為零時的數(shù)值。
            注明:測定可能zui大曲率半徑以及測定可能zui大口徑,將會根據(jù)干涉儀的受臺夾具等機械尺寸、被檢鏡片的大小以及減振板、線性卡尺等的安裝而改變。但是歸根結(jié)底因為目視,故不能保證。



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