SR-SCOPE DMP 30 德國FISCHER菲希爾面銅測厚儀
| 參考價 | ￥ 38500 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 深圳市泰立儀器儀表有限公司
- 品牌 Helmut Fischer/德國菲希爾
- 型號 SR-SCOPE DMP 30
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/1/2 11:16:47
- 訪問次數(shù) 456
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超聲波測厚儀，超聲波探傷儀，渦流探傷儀，超聲波相控陣探傷儀，電導(dǎo)率儀，磁導(dǎo)率儀，汽車車身點焊檢測儀，COMET工業(yè)射線機，工業(yè)內(nèi)窺鏡，工業(yè)CR/DR數(shù)字射線系統(tǒng)，熱分析儀
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,綜合 |
德國FISCHER菲希爾面銅測厚儀SR-SCOPE DMP 30
銅厚接觸式測量專家 - SR-SCOPE DMP 30 銅厚測量
堅固耐用、功能強大的手持設(shè)備，用于測量印刷電路板上的銅厚。數(shù)字探頭 D-PCB-具有出色的精度和最大的可重復(fù)性，并與設(shè)備一起通過 USB-C 接口和藍牙實現(xiàn)智能連接，堅固耐用、防磨損的探頭電極可確保長期獲得精確的測量結(jié)果，適用于測量多層電路板或?qū)訅喊迳系谋°~層，不會受到隔離的深層銅層的影響。
功能全面，外殼堅固耐用，采用現(xiàn)代設(shè)計和直觀的Tactile Suite®軟件。我們的 SR-SCOPE® DMP®30 是測量 PCB 銅層的專家。在您的生產(chǎn)過程中，無論是來貨還是出貨，都能精確可靠地檢測銅層厚度，而不受底層的影響。
優(yōu)點
經(jīng)久耐用 - 采用全鋁外殼，質(zhì)量和耐用性更上一層樓
貼合 - 電池更換快捷方便，可全天候測量全面測量控制 - 通過燈光、聲音和振動反饋測量值是否在公差范圍內(nèi)。
數(shù)字探頭 - 全數(shù)字化探頭，可完成難以完成測量任務(wù)
功能強大的 軟件 - 自動識別設(shè)備，輕松導(dǎo)出數(shù)據(jù)，提供全面報告
探頭
數(shù)字探頭 D-PCB-具有出色的精度和最大的可重復(fù)性，并與設(shè)備一起通過 USB-C 接口和藍牙實現(xiàn)智能連接。
可更換和充電的鋰離子電池可使測量工作持續(xù) 24 小時以上。這既經(jīng)濟又可持續(xù)。
Tactile Suite@是接觸式涂鍍層厚度測量領(lǐng)域最直觀的軟件。傳輸、評估和導(dǎo)出數(shù)據(jù)從未如此簡單。
使用符合 DIN EN 14571 標準的4點電阻法可靠地測量涂鍍層厚度。
堅固耐用、防磨損的探頭電極可確保長期獲得精確的測量結(jié)果。
適用于測量多層電路板或?qū)訅喊迳系谋°~層，不會受到隔離的深層銅層的影響。
德國FISCHER菲希爾面銅測厚儀SR-SCOPE DMP 30
特點：
測量方法：微電阻率法
使用符合 DIN EN 14571 標準的 4 點電阻法測量涂鍍層厚度
測量范圍：0.5 - 10 微米或 5 - 120 微米
測量值記憶：2,500 個應(yīng)用中的 250,000 個
通過 USB-C 和藍牙自動檢測設(shè)備并輕松傳輸數(shù)據(jù)
堅固的鋁制外殼，防護等級 IP64
可更換鋰離子電池，工作時間 > 24 小時
提供數(shù)字探頭 D-PCB
通過燈光、聲音和振動監(jiān)測限值
應(yīng)用案列：
測量印刷電路板和多層板頂面的銅厚，而不會受到位于更深處的絕緣銅層的影響。
銅層厚度范圍為 0.5 - 10 µm 和 5 - 120 µm
測量方法：
微電阻率法
精確測定印刷電路板上的銅厚度。
微電阻率法適用于根據(jù) ISO 14571 測量絕緣基板上導(dǎo)電層的厚度。它通常用于檢查印刷電路板和多層印刷電路板上的銅涂層。該方法的優(yōu)點是，印刷電路板上的其他層或夾層對測量沒有影響，因此即使層數(shù)很薄，也能精確測量厚度。
微電阻率法的工作原理。
這種方法使用的探針底部有四根排成一行的針。將探針置于表面時，電流會在兩根外針之間流動。涂層就像一個電阻，通過兩個內(nèi)針測量其上的電壓降。隨著涂層厚度的減小，電壓降和電阻也隨之增大，反之亦然。控制印刷電路板和多層印刷電路板上的銅涂層
所有電磁測量方法都是比較法。這意味著測量信號要與設(shè)備中存儲的特性曲線進行比較。為確保結(jié)果正確，必須根據(jù)當前條件調(diào)整特性曲線。這可以通過校準用于涂層厚度測量的測量設(shè)備來實現(xiàn)。
哪些因素會影響測量結(jié)果？
所有電磁測量方法都是比較法。這意味著測量信號要與設(shè)備中存儲的特性曲線進行比較。為確保結(jié)果正確，必須根據(jù)當前條件調(diào)整特性曲線。這可以通過校準用于涂層厚度測量的測量設(shè)備來實現(xiàn)。
正確校準帶來不同
影響涂層厚度測量的因素主要有：銅層的比電阻率（間接影響溫度）、測量表面或?qū)щ娐窂降拇笮∫约般~層上的附加層。
比電阻率和溫度
除涂層厚度外，銅的電阻率也會影響測量針之間的電壓降。電阻率會因金屬的合金和加工工藝而異。此外，它在不同溫度下也會變化。因此有必要在測量條件下進行溫度補償或校準。
測量面的大小
對于窄的測量表面，例如導(dǎo)電路徑，電流的運行與寬的物體不同。這種與理論電流的偏差會導(dǎo)致涂層厚度測量的系統(tǒng)誤差。因此，對樣品的最小尺寸或到樣品邊緣的最小距離有專門的探頭規(guī)格。
附加層
如果銅上還有其他鍍層，如錫，探頭會根據(jù)銅厚度的比例測量其鍍層厚度。測量誤差的大小取決于銅和涂層材料的比電導(dǎo)率之比。
重要提醒
為避免測量結(jié)果出錯，還必須考慮以下影響因素：
特別軟的涂層（如磷酸鹽涂層）造成的壓痕誤差。
探針桿磨損導(dǎo)致散射增加；建議定期檢查
為避免測量結(jié)果出錯，還必須考慮以下影響因素：
特別軟的涂層（如磷酸鹽涂層）造成的壓痕誤差。
探針桿磨損導(dǎo)致散射增加；建議定期檢查
執(zhí)行標準
微電阻法，符合 ISO 14571 標準
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