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            產(chǎn)品展廳

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            化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測(cè)厚儀>白光干涉測(cè)厚儀> KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測(cè)量?jī)x

            KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測(cè)量?jī)x

            參考價(jià)50000-999999/臺(tái)
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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            FIRSTNANO成立于2012年,一家由三位材料學(xué)博士共同創(chuàng)辦的德國(guó)公司?;?/span> Science is international”的想法,“全球協(xié)同實(shí)驗(yàn)室”成為三位博士追逐的夢(mèng)想。

            公司愿景是從科學(xué)家到科學(xué)家,科學(xué)開創(chuàng)美好未來(lái)。

            FIRSTNANO深耕于半導(dǎo)體技術(shù)、材料科學(xué)、生命科學(xué)等科研領(lǐng)域,始終秉承“前沿、專業(yè)、科學(xué)”的宗旨,將前沿技術(shù)引進(jìn)到協(xié)同實(shí)驗(yàn)室。我們的產(chǎn)品覆蓋了微納加工制程;材料科學(xué)的檢測(cè)、分析;生命科學(xué)成像,腦科學(xué)與行為認(rèn)知等相關(guān)領(lǐng)域。作為全球科技前沿的儀器供應(yīng)商,FIRSTNANO具有全球技術(shù)視野、優(yōu)質(zhì)供應(yīng)體系、以及嚴(yán)格的質(zhì)量管控系統(tǒng),能為客戶提供前沿的技術(shù)解決方案。

            公司服務(wù)的客戶領(lǐng)域廣泛,其中包括消費(fèi)電子、航空、航天、醫(yī)藥技術(shù)、半導(dǎo)體行業(yè)、光電子行業(yè)、高校和研究機(jī)構(gòu)。

            在成長(zhǎng)的過(guò)程中,我們腳踏實(shí)地、奮勇向前。自2015年香港(中華區(qū))公司成立以來(lái),我們一相繼在香港、深圳、上海和武漢設(shè)立了分支機(jī)構(gòu)。

            我們真誠(chéng)邀請(qǐng)業(yè)內(nèi)英才加入FIRSTNANO TEAM,一起為夢(mèng)想揚(yáng)帆起航!

             

             

             

             

            半導(dǎo)體儀器和電子產(chǎn)品耗材耗材

            產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 50萬(wàn)-100萬(wàn)
            應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合

            走在前端 以較低的價(jià)格

            KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測(cè)量?jī)x現(xiàn)在可以很容易地測(cè)量曲面樣品,包括眼鏡和其他光學(xué)鏡片的防反射涂層, 僅需其他設(shè)備一小部分的的價(jià)格就能在幾秒內(nèi)得到精確的色彩讀值和反射率測(cè)量. 您也可選擇升級(jí)薄膜厚度測(cè)量軟件, 操作上并不需要嚴(yán)格的訓(xùn)練, 您甚至可以直覺的藉由設(shè)定任何波長(zhǎng)范圍最大, 最小和平均值.去定義顏色和反射率的合格標(biāo)準(zhǔn).

            KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測(cè)量?jī)x


            容易設(shè)定. 易於維護(hù)

            只需將KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測(cè)量?jī)x插上到您計(jì)算機(jī)的USB端口, 感謝Filmetrics的創(chuàng)新, F10-ARc幾乎不存在停機(jī)時(shí)間, 加上40,000小時(shí)壽命的光源和自動(dòng)板上波長(zhǎng)校準(zhǔn),你不需擔(dān)心維護(hù)問(wèn)題。

            獲得精確的測(cè)量.

            • 自動(dòng)基準(zhǔn)功能大大增加基準(zhǔn)間隔時(shí)間, 量測(cè)準(zhǔn)確性優(yōu)於其他光纖探頭反射測(cè)量系統(tǒng)5倍

            • 可選擇UPG - F10-AR - HC軟件升級(jí) 測(cè)量0.25-15μm硬涂層的厚度. 即使在防反射涂層存在時(shí)仍可測(cè)量硬涂層厚度

            • 我們探頭設(shè)計(jì)可排除98%背面反射,當(dāng)鏡片比1.5mm 更厚時(shí), 可排除比例更高

            • 修正了硬膜層造成的局部反射扭曲現(xiàn)象




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