Zetasizer Pro納米粒度電位儀是一款功能強(qiáng)大、用途廣泛的常規(guī)實(shí)驗(yàn)室測量解決方案，可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比，其粒度測量速度超過以往的兩倍，大大加快了樣品處理速度。

由于采用非侵入背散射 (NIBS) 光學(xué)設(shè)計(jì)，該技術(shù)將背散射檢測技術(shù)與可變測量位置和高效光纖技術(shù)結(jié)合在一起，與傳統(tǒng)DLS相比，顯著增加了樣品濃度范圍和粒度的測量范圍。

濾光片轉(zhuǎn)盤提供熒光濾光片以及垂直和水平偏振片，以實(shí)現(xiàn)分析靈活性。

Zetasizer Pro納米粒度電位儀特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)

憑借以下優(yōu)勢，即使剛?cè)腴T的用戶也能使用 Zetasizer Pro 完成高質(zhì)量的測量：

動態(tài)光散射 (DLS)  用于測量從0.3 nm 到 10 m 的顆粒和分子的粒度及粒度分布

電泳光散射 (ELS)  用于測量顆粒和分子的Zeta電位，以顯示樣品穩(wěn)定性和/或團(tuán)聚傾向性

非侵入背散射 (NIBS) 技術(shù)顯著擴(kuò)大了動態(tài)范圍，即使是處理非常濃縮的樣品，也能實(shí)現(xiàn)高靈敏度

具有恒流模式的M3-PALS可以在高導(dǎo)電介質(zhì)中測量Zeta電位和電泳遷移率

以樣品為中心的ZS Xplorer軟件可以實(shí)現(xiàn)靈活的指導(dǎo)式使用，并可輕松構(gòu)建復(fù)雜的模型

“自適應(yīng)相關(guān)”算法能生成可靠且可重復(fù)的數(shù)據(jù)，同時(shí)計(jì)算速度超過以往的兩倍，可在減少樣品制備的情況下更快速地執(zhí)行更多可重現(xiàn)的粒度測量，實(shí)現(xiàn)更具代表性的樣品視圖

通過深度學(xué)習(xí)實(shí)現(xiàn)的數(shù)據(jù)質(zhì)量系統(tǒng)可以評估粒度數(shù)據(jù)質(zhì)量問題，并針對如何改進(jìn)結(jié)果提供明確的建議

濾光片轉(zhuǎn)盤提供熒光濾光片以及垂直和水平偏振片，以實(shí)現(xiàn)分析靈活性

如果您的需求發(fā)生改變，可現(xiàn)場升級到Zetasizer Ultra  

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