6433P光波元件分析儀
- 公司名稱 上海昊量光電設(shè)備有限公司
- 品牌 昊量光電
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/4/11 16:05:03
- 訪問次數(shù) 58
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上海昊量光電設(shè)備有限公司
Aunion Tech Co., Ltd
專業(yè)源自專注 專注成就未來
自2008年成立以來，昊量光電專注于光電領(lǐng)域的技術(shù)服務(wù)與產(chǎn)品經(jīng)銷，致力于引進(jìn)guo外*先進(jìn)性與創(chuàng)新性的光電技術(shù)與可靠產(chǎn)品，為國內(nèi)Z前沿的科研與工業(yè)領(lǐng)域提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)，助力中國智造與中國創(chuàng)造! 目前，昊量光電已經(jīng)與來自美國、歐洲、日本的多家光電產(chǎn)品制造商建立了緊密的合作關(guān)系。其代理品牌均處于相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展前沿，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測(cè)量設(shè)備、精密光學(xué)元件等，所涉足的領(lǐng)域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究與國防等。
昊量光電堅(jiān)持“專業(yè)源自專注，專注成就未來”的經(jīng)營理念。近年來，我們專注于前沿的細(xì)分市場(chǎng)，為量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、精密加工、先進(jìn)激光制造等領(lǐng)域的客戶提供系統(tǒng)解決方案。
作為一家以技術(shù)溝通與技術(shù)服務(wù)見長的高科技企業(yè)，我們所有的銷售與技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì)成員都具有理工科方面的專業(yè)背景，并在公司接受相關(guān)領(lǐng)域的專業(yè)培訓(xùn)，在售前技術(shù)溝通、售后產(chǎn)品安裝培訓(xùn)、產(chǎn)品問題解決、軟硬件增值服務(wù)等方面為客戶提供更加專業(yè)化的服務(wù)！我們專業(yè)高效的商務(wù)與物流部門憑借多年積累的貿(mào)易經(jīng)驗(yàn)與規(guī)范化的制度流程，保障每一筆訂貨準(zhǔn)時(shí)安全到達(dá)目的地，免除客戶的后顧之憂！
秉承誠信、高效、創(chuàng)新、共贏的核心價(jià)值觀，昊量光電堅(jiān)持以誠信為基石，憑借高效的運(yùn)營機(jī)制和勇于創(chuàng)新的探索精神為我們的客戶與與合作伙伴不斷創(chuàng)造價(jià)值，實(shí)現(xiàn)各方共贏！
立足于光電產(chǎn)業(yè)，昊量光電始終堅(jiān)持價(jià)值創(chuàng)造與創(chuàng)新，贏得客戶與合作伙伴的認(rèn)可，不斷拓展業(yè)務(wù)領(lǐng)域的新邊疆，立志打造的代理服務(wù)品牌！
激光器調(diào)制器,激光測(cè)量加工設(shè)備,光學(xué)部件,光譜儀,光纖器件,晶體,精密定位系統(tǒng)掃描系統(tǒng),探測(cè)器光子計(jì)數(shù)器,專用實(shí)驗(yàn)設(shè)備,相機(jī)
| 價(jià)格區(qū)間 | 1萬-5萬 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學(xué)元件 |
6433P光波元件分析儀
（調(diào)制頻率范圍覆蓋： 10MHz~110GHz）
一、6433P光波元件分析儀概述
6433P 光波元件分析儀是面向高速電光器件、光電器件及光光器件調(diào)制特性測(cè)試的儀器，頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測(cè)試、電光測(cè)試、光電測(cè)試及光光測(cè)試4種測(cè)試模式，6433P 光波元件分析儀具有對(duì)數(shù)/線性幅度、相位、群時(shí)延、Smith圓圖、極坐標(biāo)等多種顯示格式，能夠精確測(cè)量光電網(wǎng)絡(luò)的幅/相頻特性，主要應(yīng)用于高速電光器件（電光強(qiáng)度調(diào)制器、直接調(diào)制激光器、光發(fā)射組件）、光電器件（探測(cè)器、光發(fā)射組件、探測(cè)器芯片）及光光器件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時(shí)延等頻響參數(shù)的測(cè)試。
二、6433P 光波元件分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)
10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋；
頻率分辨率1Hz；
測(cè)試功能豐富，具備傳輸、反射等多種參數(shù)測(cè)試功能；
一體化多功能測(cè)試界面；
向?qū)叫?zhǔn)及一鍵式快速掃頻測(cè)試；
多窗口顯示及快速分析；
自動(dòng)夾具移除，快速獲取探針數(shù)據(jù)；具有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試
三、6433P 光波元件分析儀功能描述
10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋
6433P 光波元件分析儀調(diào)制頻率高達(dá)110GHz，頻率分辨率為1Hz，可實(shí)現(xiàn)高速寬頻帶光器件及光芯片調(diào)制特性測(cè)試
一體化多功能測(cè)試向?qū)Ы缑?/span>
6433P 光波元件分析儀具備電電、電光、光電、光光四種測(cè)量模式，功能模式之間可任意切換，可滿足光器件的S參數(shù)、阻抗、時(shí)域等參數(shù)測(cè)量需求。一體化多功能界面方便用戶快速完成測(cè)量模式、光波參數(shù)、光路去嵌入?yún)?shù)、射頻去嵌入等參數(shù)的設(shè)置。
向?qū)叫?zhǔn)及一鍵式測(cè)試
6433P 光波元件分析儀進(jìn)行微波域的電電校準(zhǔn)及光波域的光路校準(zhǔn)時(shí)，采用向?qū)叫?zhǔn)，方便用戶對(duì)儀器進(jìn)行快速校準(zhǔn)，獲得被測(cè)件準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。同時(shí)采用一體化集成設(shè)計(jì)方案，利用核心算法，實(shí)現(xiàn)電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快速掃頻測(cè)試。
多窗口快速顯示及分析
6433P 光波元件分析儀支持64個(gè)測(cè)量通道，32個(gè)測(cè)量窗口，每個(gè)窗口可同時(shí)顯示16條測(cè)試軌跡，可實(shí)現(xiàn)結(jié)果的多窗口、多格式顯示。
高分辨率多點(diǎn)觸控電容屏可快速實(shí)現(xiàn)各種輸入和選擇操作，快捷高效，便于用戶快速分析數(shù)據(jù)，為用戶提供全新的光波元件分析儀操作體驗(yàn)。
自動(dòng)夾具移除，快速獲取探針數(shù)據(jù)
6433P 光波元件分析儀利用自動(dòng)夾具移除功能可快速解決光芯片S參數(shù)測(cè)試難題。測(cè)試時(shí)，將高頻探針等效為夾具，通過自動(dòng)夾具移除功能測(cè)量高頻探針的時(shí)域參數(shù)，利用信號(hào)流圖提取頻域參數(shù)，形成s2p文件，進(jìn)而通過射頻去嵌入，實(shí)現(xiàn)光芯片的高精度S參數(shù)測(cè)試。
四、6433P 光波元件分析儀產(chǎn)品參數(shù)
五、6433P 光波元件分析儀典型應(yīng)用
單端光器件測(cè)試
針對(duì)電光調(diào)制器、直接調(diào)制激光器等電光器件的S11參數(shù)和S21參數(shù)測(cè)試，利用多窗口顯示可快速獲取測(cè)試對(duì)象的各頻點(diǎn)反射和傳輸特性；針對(duì)光電探測(cè)器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數(shù)和S21參數(shù)測(cè)試，利用光標(biāo)功能可快速分析3dB帶寬，評(píng)估器件的頻響特性；針對(duì)光纖濾波器等光光器件的S21參數(shù)測(cè)試，可快速實(shí)現(xiàn)損耗、平坦度等指標(biāo)的測(cè)量。
幅頻特性測(cè)試）
利用儀器提供的多種顯示模式,可實(shí)現(xiàn)相位、群時(shí)延等信息的顯示，可快速實(shí)現(xiàn)相頻特性等指標(biāo)的測(cè)量。
（相頻特性測(cè)試）
平衡光器件測(cè)試
光波元件分析儀通過配置四端口機(jī)型，實(shí)現(xiàn)平衡光發(fā)射或光接收器件對(duì)差分增益和共模抑制參數(shù)的測(cè)試需求，更加貼合現(xiàn)有和未來高速光纖通信領(lǐng)域中多端口參數(shù)的測(cè)量場(chǎng)合。
光芯片在片測(cè)試
6433P 光波元件分析儀搭配探針臺(tái)及高頻探針，可實(shí)現(xiàn)電光/光電芯片的頻響參數(shù)的測(cè)試。
自動(dòng)化測(cè)試
6433P 光波元件分析儀提供標(biāo)準(zhǔn)的SCPI程控指令集，方便用戶進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。通過網(wǎng)口，只需完成設(shè)備的互聯(lián)，發(fā)送命令即可實(shí)現(xiàn)一體化的自動(dòng)測(cè)試方案，方便用戶將光波元件分析儀與溫控、數(shù)字源表及被測(cè)件等共同搭建光芯片測(cè)試系統(tǒng)。
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