SGWX-4 顯微熔點儀
| 參考價 | ￥ 3500 |
| 訂貨量 | ≥1 |
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 上海恒磁電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 SGWX-4
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2015/10/23 21:41:51
- 訪問次數(shù) 1350
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物質(zhì)的熔點是指該物質(zhì)由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時的溫度，在有機化學領(lǐng)域中，熔點測定是辨認該物質(zhì)本性的基本手段，也是純度測定的重要方法之一。目視顯微熔點測定儀是研究、觀察物質(zhì)在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物質(zhì)三態(tài)轉(zhuǎn)化等物理變化過程的有力檢測手段。本儀器可用載玻片方法測定物質(zhì)的熔點、變形、色變等；也可用藥典規(guī)定的毛細管方法測其熔點，尤其對深色樣品，如醫(yī)藥中間體、顏料、橡膠促進劑等的熔點，并能自始自終觀察到其熔化的全過程。特別對大專院校和科研單位進行實驗使用。應用范圍： 測定物質(zhì)的熔點。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。
特點
1本儀器使用毛細管法和載玻片法兩種方法進行測量。號：ZL02215087.0
2根據(jù)特殊要求，本儀器也可用蓋玻片----載玻片法進行測量。
3本儀器采用LED數(shù)字顯示熔點溫度值。
4本儀器采用熱臺控制系統(tǒng)和顯微鏡組合成一體的結(jié)構(gòu)，簡單可靠，使用方便。
5升溫速率連續(xù)可調(diào)。我們建議你采用1℃/分的升溫速率測量熔點的溫度值，在*次使用時記錄下1℃/分的升溫速率時的波段開關(guān)和電位器的編號則以后用此位置就能得到你的所要求的升溫速率。
并請注意：
（1）室溫的影響：在同樣波段開關(guān)和電位器的編號下，室溫越低，升溫速率越慢。
（2）電子元件的影響：電子元件的老化，升溫速率一定時，其電位器的編號會有所變化，只要進行微調(diào)即可，編號越大，升溫速率越快。
性能指標：
熔點測量范圍：室溫至320℃
zui小讀數(shù)單位：1℃
測量重復性：±1℃（在<200℃時）
±2℃（在200～300℃時）
±2℃（在200～300℃時）
光學放大倍數(shù)：目鏡10X；物境4X
電源：AC220V±22V，50Hz
功率：80W
原理：基于光學零位原理的自動數(shù)字顯示旋光儀
調(diào)制器：法拉弟調(diào)制器
光源： 大功率發(fā)光二極管
工作波長：589.3 nm
可測樣品zui低透過率：1 ％
測量范圍：± 45°（旋光度） ± 120°Z（糖度）
zui小讀數(shù)：0.001°（旋光度） 0.01°Z（糖度）
準確度：0.02 級
示值誤差：±（0.005°+測量值×0.03 ％）
重復性（標準偏差s）：樣品透過率大于1﹪時≤ 0.002° （旋光度）
顯示方式：點陣式液晶顯示
試管：200 mm、100 mm 兩種
電源：220 V ± 22 V，50 Hz ± 1 Hz
儀器尺寸：718 mm × 342 mm × 220 mm
儀器凈重：32 kg
USB1.1 接口：56 位數(shù)據(jù)
調(diào)制器：法拉弟調(diào)制器
光源： 大功率發(fā)光二極管
工作波長：589.3 nm
可測樣品zui低透過率：1 ％
測量范圍：± 45°（旋光度） ± 120°Z（糖度）
zui小讀數(shù)：0.001°（旋光度） 0.01°Z（糖度）
準確度：0.02 級
示值誤差：±（0.005°+測量值×0.03 ％）
重復性（標準偏差s）：樣品透過率大于1﹪時≤ 0.002° （旋光度）
顯示方式：點陣式液晶顯示
試管：200 mm、100 mm 兩種
電源：220 V ± 22 V，50 Hz ± 1 Hz
儀器尺寸：718 mm × 342 mm × 220 mm
儀器凈重：32 kg
USB1.1 接口：56 位數(shù)據(jù)
儀器的保養(yǎng)
儀器應安放在干燥的地方，避免經(jīng)常接觸腐蝕性氣體，防止受到劇烈的振動。
經(jīng)過一段時間使用之后由于外界環(huán)境的影響，儀器的光學系統(tǒng)表面可能積灰或發(fā)霉，
影響儀器性能，可用小棒纏上脫脂棉花蘸少量無水乙醇或醋酸丁脂輕輕揩擦。
如有霉點可用棉花蘸酒精后，再蘸少量的氧化鈰（紅粉）或碳酸鈣輕輕揩擦，光學
零件一般勿輕易拆卸。光學零部件一經(jīng)拆卸就破壞了原來的光路，重調(diào)整，否則
儀器性能將受影響甚至無法工作。若因故拆卸更換光學零件，應送我廠解決。
光路的檢查
可用外徑為φ30 mm 的一個圓片放入試樣槽中測試光束的出口處，在較暗的室內(nèi)光
線下可以看到測試光束投射到此圓片上的光斑，此光斑應呈圓形且與圓片基本同心，如
光斑明顯不圓，或明顯偏離中心則必將影響儀器的性能，應送我廠處理。
儀器應安放在干燥的地方，避免經(jīng)常接觸腐蝕性氣體，防止受到劇烈的振動。
經(jīng)過一段時間使用之后由于外界環(huán)境的影響，儀器的光學系統(tǒng)表面可能積灰或發(fā)霉，
影響儀器性能，可用小棒纏上脫脂棉花蘸少量無水乙醇或醋酸丁脂輕輕揩擦。
如有霉點可用棉花蘸酒精后，再蘸少量的氧化鈰（紅粉）或碳酸鈣輕輕揩擦，光學
零件一般勿輕易拆卸。光學零部件一經(jīng)拆卸就破壞了原來的光路，重調(diào)整，否則
儀器性能將受影響甚至無法工作。若因故拆卸更換光學零件，應送我廠解決。
光路的檢查
可用外徑為φ30 mm 的一個圓片放入試樣槽中測試光束的出口處，在較暗的室內(nèi)光
線下可以看到測試光束投射到此圓片上的光斑，此光斑應呈圓形且與圓片基本同心，如
光斑明顯不圓，或明顯偏離中心則必將影響儀器的性能，應送我廠處理。
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