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            深圳市安川測量儀器有限公司

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            日本SANKO接觸式膜厚計SWT-7000 Ⅲ

            參考價面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準

            產(chǎn)品型號:

            品       牌:

            廠商性質(zhì):代理商

            所  在  地:深圳市

            更新時間:2024-08-14 18:50:11瀏覽次數(shù):1963

            聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
            日本SANKO接觸式膜厚計SWT-7000 Ⅲ
            總代理:sanko三高,涂層測厚儀/金屬探知器/水分計
            EISEN愛森,針規(guī)/三線規(guī)/螺紋規(guī)
            RIKEN理研,水平儀/偏擺儀/直角尺

            日本SANKO接觸式膜厚計SWT-7000 Ⅲ

            日本SANKO接觸式膜厚計SWT-7000 Ⅲ

            SWT-7000+FN325探頭:可進行鐵材和非鐵材為基材上的涂層厚度。

            新的兩用探測頭FN-325可用于SWT系列的產(chǎn)品(7000、8000、9000)可測量鐵與非鐵底材為基體的涂層厚度。

            SWT-7000Ⅲ系列機型

            機型

            SWT-7000Ⅲ

            SWT-7100Ⅲ

            SWT-7200Ⅲ

            測量范圍

            連接的探測頭不同測量范圍也不同。

            顯示方式

                 液晶顯示LCD(數(shù)據(jù)·提示信息)、背光燈

            檢量線校正

            2點校正方式(零校正、標準校正)

            檢量線存儲

            鐵、非鐵各1根

            10根

            測量值存儲

            20,000點

            數(shù)據(jù)傳送

            USB

            USB

            統(tǒng)計功能

            內(nèi)藏

             

            附加功能

            ●背光燈   ●測量模式的切換(普通/連續(xù))   ●檢量線、校正值的刪除

             ●自動關(guān)機功能(約3分以上不操作時,機器會自動關(guān)機) ●分辨率的切換  

             ●上下限值的設定(SWT-7200Ⅲ)

            電源

            單3電池 ×2

            單3電池 ×2     電源線

            使用溫度

            0~40C°(不結(jié)露)

            機體尺寸·重量

            72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g

            附屬品

            干電池、收納袋子

            干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件(CD)

            追加產(chǎn)品

            鐵材金屬用探測頭(Fe)、非鐵材金屬用探測頭(NFe)

            鐵·非鐵材用探測頭(FN-325)

             

             

            SWT系列探頭可互換。 

             ◆ 兩用型 : FN-325  

             ◆ 鐵材用 : Fe 系列        

             ◆ 非鐵材 : NFe 系列

            探測頭型號

            FN-325

            測量方式

            電磁式·渦電流式兩用(鐵·非鐵底材自動識別)

            測量范圍

            鐵底材:0~3.00mm、非鐵底材:0~2.50mm

            表示分辨率

            1μm:0~999μm的切換(鐵·非鐵共通)

                  0.1μm:0~400μm(鐵·非鐵共通)

                  0.5μm:400~500μm(鐵·非鐵共通)

            0.01mm:1.00~3.00mm(鐵底材)

            0.01mm:1.00~2.50mm(非鐵底材)

            測量精度

            (平滑表面)

            0~100μm::1μm(鐵·非鐵共通)

            或者是指示值的±2%以內(nèi)

            101μm~3.00mm:±2%以內(nèi)(鐵底材)

            101μm~2.50mm:±2%以內(nèi)(非鐵底材)

            探測部

            1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g

            選擇產(chǎn)品

            V形探測頭套有3種(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

            附屬品

            標準校正板、試驗用零校正板、(鐵用·非鐵用)

            測量對象

            鐵底材:鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、

                    電鍍(電解鎳除外)等

            非鐵底材:鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等

                      一般較普遍的測量物用

             

             

            SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(1)(Fe)

            型號

            Fe-2.5/2.5L

            Fe-2.5LwA

            Fe-0.6Pem

            測量方式

            電磁感應式

            測量范圍

            0~2.50mm

            0~600μm

            表示分解率

            1μm:0~999μm

            切換

                          0.1μm:0~400μm

             0.5μm:400~500μm

                          0.01mm:1.00~2.50mm

            1μm:0~600μm

            切換

            0.1μm:0~400μm

              0.5μm:400~500μm

             

            測量精度

            (平滑面)

            0~100μm:±1μm

            又或者時顯示值的±2%以內(nèi)

                          101μm~2.50mm:±2%

            0~100μm:±1μm

            又或者時顯示值的±2%以內(nèi)

            101μm~600μm:±2%

            探測部

            1點定壓接觸式

            V形口套頭

               2.5:φ13×48mm

               2.5L:18×23×67mm

            1點定壓接觸式

            測量部:約20×57mm

            全長:約550~ 1.550mm

                 (伸縮式)

            1點定壓接觸式

                  Φ5.6×94mm

            選擇產(chǎn)品

            V形套頭/—

            (φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

            附屬品

            標準校正片

            試驗用零校正板

            (鐵用)

            標準校正片

            試驗用零校正板(鐵用)

            收納袋子

            標準校正片

            試驗用零校正板

                    (鐵用)

            測量對象

            鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層(電解鎳的電鍍層除外)等等

            鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個的皮膜、襯層等等手不能進去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。

            鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。

             

            SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(2)(Fe)

            型號

            Fe-10

            Fe-20

            測量方式

            電磁感應式

            測量范圍

            0~10mm

            0~20mm

            表示分解率

             

            1μm:0~999μm

            0.01mm:1~10mm

             

              1μm:0~999μm

            0.01mm:1~5mm

            0.1mm:5~20mm

            測量精度

            (平滑面)

            0~3mm:±(5μm+顯示值的3%)

                          3.01mm:顯示值的±3%

            探測部

            1點定壓接觸式

            V形口套頭

            φ18×47mm

            1點定壓接觸式

            V形口套頭

            φ35×59mm

            選擇產(chǎn)品

            附屬品

            標準校正片、試驗用零校正板(鐵用)

            測量對象

            鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用

            鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用

             探測頭要根據(jù)需要購買。

            SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測頭(NFe)

            型號

            NFe-2.0/NFe-2.0L

            NFe-06

            NFe-8

            測量方式

            渦電流式

            測量范圍

            0~2.00mm

            0~600μm

            0~8mm

             

            表示分解率

            1μm:0~999μm

             切換

            0.1μm:0~400μm

              0.5μm:400~500μm

              0.01mm:1.00~2.00mm

            1μm:0~600μm

             切換

            0.1μm:0~400μm

             0.5μm:400~500μm

             

             

            1μm:0~999μm

            0.01mm:1~8mm

             

             測量精度

            (平滑表面)

            0~100μm:±1μm

            又或者時顯示值的

            ±2%以內(nèi)

            101μm~2.00mm:

                      ±2%以內(nèi)

            0~100μm:±1μm

            又或者時顯示值的

            ±2%以內(nèi)

            101μm~600μm:

                      ±2%以內(nèi)

            0~100μm:±1μm

            ±(±1μm+顯示值的±2%)

            101μm~8mm:

                      ±2%以內(nèi)

             

            探測部

            1點定壓接觸式

            V形口套頭

            2.0:φ13×47mm

            2.0L:18×23×67mm

            1點定壓接觸式

            V形口套頭

            φ11×48mm

             

            1點定壓接觸式

            V形口套頭

            φ35×61mm

             

            選擇產(chǎn)品

            V形套頭/-

            附屬品

            標準校正片、試驗用零校正板(非鐵用)

            測量對象

            鋁、銅等非磁性金屬底材

            上的絕緣性皮膜等一般普

            通測量物用。

            鋁、銅等非磁性金屬底

            材上的絕緣性皮膜等

            細小的圓棒、細管、小

            物件等的高安定性用。

            鋁、銅等非磁性金屬

            底材上的絕緣性皮膜等

            比較厚的測量物用。

            探測頭要根據(jù)需要購買。

             

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