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日本HORIBA崛場高光光澤度計(jì)檢查儀IG-410
日本HORIBA崛場高光光澤度計(jì)檢查儀IG-410
概述
高光澤度檢查儀 IG-410 是一種便于現(xiàn)場工作的便攜式類型，只需將與顯示單元分開的測量單元應(yīng)用于被攝體即可進(jìn)行測量。以近紅外線為光源，測定光澤度1000（鏡面反射率100%）。
無需預(yù)熱。它非常適合對表面光澤度要求高的產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量控制，例如汽車前燈等照明用反射器、復(fù)印機(jī)用反射器和硅晶片。
特征
即使在金屬等高光澤區(qū)域也能量化“模糊"
可以測量金屬等高光澤區(qū)域的 IG-410 已被添加到光澤檢查器 IG 系列的陣容中。測量范圍為 0 到 100，是傳統(tǒng)型號(hào)的 10 倍。也可以測量鏡面樣品。小巧輕便的設(shè)計(jì)，便于現(xiàn)場測量 重量
僅為 350g，便于攜帶。由于它是一鍵式操作，因此只需將其帶到生產(chǎn)現(xiàn)場即可輕松測量。
由于采用LED作為光源，因此無需擔(dān)心光源的壽命。低光澤度可以通過
在 2 個(gè)范圍之間切換來測量?？梢栽?0 到 100 和 0 到 100 的 2 個(gè)范圍之間切換。每個(gè)范圍都有自己的校準(zhǔn)板。
IG-410 不僅可以測量高光澤金屬，還可以測量低光澤區(qū)域，例如涂在金屬板上的樣品。
應(yīng)用示例
用于檢查金屬產(chǎn)品表面狀態(tài)的光潔度
用于檢查軋制鋁板和不銹鋼板的外觀
用于檢查電鍍產(chǎn)品的外觀
用于檢查硅晶片的表面光潔度
* 由于光澤度是通過光的反射來測量的，因此測量點(diǎn)必須是平坦的。
規(guī)格
光學(xué)系統(tǒng) | 入射角 60° -接收角 60° |
|---|---|
測量區(qū)域 | 3 x 6 毫米橢圓 |
光源 | LED（波長890nm） |
受光部分 | SPD（硅光電二極管） |
測量范圍 | 100 范圍：0.00 到 100.0（顯示分辨率 0.1） |
重復(fù)性 | 滿量程的 ± 1% |
電源 | AA 電池 x 4 |
電池壽命 | 200 小時(shí)或更長時(shí)間（使用堿性電池） |
工作溫度限制 | 10-40℃ |
尺寸 | 機(jī)身：75W x 34D x 140H mm |
大量的 | 約350g（內(nèi)置電池） |
其他功能 | 自動(dòng)校準(zhǔn)、自動(dòng)關(guān)機(jī) |
配件 | 用于 100 范圍和 1000 范圍的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)板 |