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            深圳市安川測量儀器有限公司

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            [供應]UNIBOY-M-三高SANKO測厚儀UNIBOY-M

            貨物所在地:廣東深圳市

            產地:日本

            更新時間:2025-01-19 21:00:07

            有效期:2025年1月19日 -- 2025年7月19日

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            中央精機CHUO
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            日本ENDO遠藤
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            大菱OBISHI
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            CEDAR日本思達扭力工具
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            RIKEN日本理研
            SHOWA日本昭和振動計
            日本進口測量工具
            日本進口張力計
            TOHNICHI東日扭力工具
            SHINANO信濃氣動工具
            進口放大鏡
            KORI古里計數(shù)器
            TASCO溫濕度計
            FUJITOOL富士檢測工具
            SATO佐藤環(huán)境測試儀
            VICTOR勝利
            電動螺絲刀
            研磨工具
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            SHIMPO新寶閃頻儀
            KANON中村扭力批
            MEYER美國針規(guī)
            電子秤
            CONTENTS表面檢查燈
            Mitutoyo三豐
            日油技研
            TENSION TYPE-III皮帶張力計
            LEAF京葉光器
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            3M膠帶
            DNK日本科研
            FUJII DENKO藤井
            TECLOCK得樂
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            實驗室常用設備
            超聲波口罩點焊機
            粉體電阻率測試系統(tǒng)
            大澤吸塵槍/除塵器
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            SANKO膜厚儀UNIBOY-M|三高膜厚儀UNIBOY-M
            測量原理  采用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,

              

            磁感應膜厚儀

            來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭,測量感應電動勢的大小,儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g,利用磁阻來調制測量信號。還采用設計的集成電路,引入微機,使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達一個數(shù)量級)?,F(xiàn)代的磁感應測厚儀,分辨率達到0.1um,允許誤差達1%,量程達10mm。

             

              磁性原理測厚儀可應用來精確測量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

             SANKO膜厚儀UNIBOY-M|三高膜厚儀UNIBOY-M

            編輯本段電渦流測量原理

              高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小,也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較,主要區(qū)別是測頭不同,信號的頻率不同,信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣,渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。

             

              采用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量,如航天器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過校準同樣也可測量,但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導電體,但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適

             

              簡單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質中的元素信息(物質構成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質中的結晶信息。

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              具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽(氯化鈉=NaCl)時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質由鈉(Na)和氯(Cl)構成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質由氯化鈉(NaCl)的結晶構成。單純地看也許會認為能知道結晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當測定含多種化合物的物質時只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進行定性。

             厚儀,又叫膜厚計、膜厚測試儀,分為磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。 采用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。

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