霍爾效應測試儀，是用于測量半導體材料的載子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù)，而這些參數(shù)是了解半導體材料電學性預掌控的，因此是理解和研究半導體器件和半導體材料電學性的具。
介紹
霍爾效應測試儀介紹
該儀器為性能穩(wěn)定、能強大、性價比的霍爾效應儀,在內校、研究所及半導體業(yè)界擁有廣泛的用戶和度。
儀器輕巧方便，易于攜帶，主要用于量測電子材料之重要性參數(shù)，如載子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或體材料均可，其原理主要依據(jù)范德堡法則。
除了用來判斷半導體材料之型態(tài)(n或p)以外，它也可應用于LED磊晶層的質量判定，也可以用來判斷在HEMT組件中二維電子氣是否形成，此未還可以用于太陽能電池片的制程輔助。
可說是套能強大、應用廣泛的系統(tǒng)，再加上平實的價格， 相信能受到各界用戶之肯定與愛用。
廣泛應用于半導體廠商。
主要點
1、度電源
輸出電之度可達2nA，如此微小之電可用于半緣材料之量測，即電阻值材料之量測。
2、度電表
使用度電表，電壓量測能力可達nV等，上限可達300V，適合用于量測低電阻值材料。
3、外型簡、操作簡單
外型輕巧、美觀大方，磁鐵組之性更換也很靈活容易，之液氮容器，可確保低溫量測之穩(wěn)定性*。
4、I-V曲線
采用圖表的方式，測量探針四點(A、B、C、D)間電-電壓曲線，藉此評判樣品的歐姆接觸好壞。
5、單純好用之操作畫面
使用者只需在同張操作畫面中，就可以成所有的設定，實驗結果由軟件自動計算得到，并在同張畫面中顯示出來，省卻畫面切換的麻煩，結果可同時得到體載子濃度(Bulk Carrier Concentration)、表面載子濃度(Sheet Carrier Concentration)、遷移率(Mobility)、電阻率(Resistivity)、霍爾系數(shù)(Hall Coefficient)、等重要實驗數(shù)據(jù)。
6、自行開發(fā)之彈簧樣品夾具，殊之彈簧探針，其強度加強可改善探針與接觸點之電氣接觸，提量測之可靠度。
