[供應(yīng)]FT160 XRF鍍層分析儀返回列表頁

貨物所在地：上海上海市

更新時間：2025-05-15 21:00:07

有效期：2025年5月15日 -- 2025年11月15日

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直讀光譜儀: 臺式直讀光譜儀便攜式直讀光譜儀移動式直讀光譜儀固定式直讀光譜儀落地式直讀光譜儀

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供應(yīng)簡介

FT160 臺式 XRF 分析儀旨在測量當(dāng)今 PCB、半導(dǎo)體和微連接器上的微小部件。準(zhǔn)確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產(chǎn)率并避免代價高昂的返工或元件報廢。

FT160 的多毛細管光學(xué)元件可以測量小于 50 µm 的特征上的納米級鍍層，先進的檢測器技術(shù)可為您提供高精度，同時保持較短的測量時間。其他功能，例如大樣品臺、寬樣品艙門、高清樣品攝像頭和堅固的觀察窗，可以輕松裝載不同尺寸的物品并在大

詳情介紹

FT160 臺式 XRF 分析儀旨在測量當(dāng)今 PCB、半導(dǎo)體和微連接器上的微小部件。準(zhǔn)確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產(chǎn)率并避免代價高昂的返工或元件報廢。

FT160 的多毛細管光學(xué)元件可以測量小于 50 µm 的特征上的納米級鍍層，先進的檢測器技術(shù)可為您提供高精度，同時保持較短的測量時間。其他功能，例如大樣品臺、寬樣品艙門、高清樣品攝像頭和堅固的觀察窗，可以輕松裝載不同尺寸的物品并在大型基板上找到感興趣的區(qū)域。該分析儀易于使用，與您的 QA / QC 流程無縫集成，在問題危機發(fā)生前提醒您。

產(chǎn)品亮點

FT160 的光學(xué)和檢測器技術(shù)專為微光斑和超薄鍍層分析而設(shè)計，針對最小的特征進行了優(yōu)化。

用于從安全距離查看分析的大觀察窗
測量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 標(biāo)準(zhǔn)
IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性鍍層檢測
用于快速樣品設(shè)置的自動特征定位
為您的應(yīng)用優(yōu)化的分析儀配置選擇

在小于 50 µm 的特征上測量納米級鍍層
將傳統(tǒng)儀器的分析通量提高一倍
可容納各種形狀的大型樣品
專為長期生產(chǎn)使用的耐用設(shè)計

	FT160	FT160L	FT160S
元素范圍	Al – U	Al – U	Al – U
探測器	硅漂移探測器 (SDD)	硅漂移探測器 (SDD)	硅漂移探測器 (SDD)
X射線管陽極	W 或 Mo	W 或 Mo	W 或 Mo
光圈	多毛細管聚焦	多毛細管聚焦	多毛細管聚焦
孔徑大小	30 µm @ 90% 強度（Mo tube） 35 µm @ 90% 強度（W tube）	30 µm @ 90% 強度（Mo tube） 35 µm @ 90% 強度（W tube）	30 µm @ 90% 強度（Mo tube） 35 µm @ 90% 強度（W tube）
XY軸樣品臺行程	400 x 300 mm	300 x 300 mm	300 x 260 mm
最大樣品尺寸	400 x 300 x 100 mm	600 x 600 x 20 mm	300 x 245 x 80 mm
樣品聚焦	聚焦激光和自動聚焦	聚焦激光和自動聚焦	聚焦激光和自動聚焦
測試點識別	?	?	?
軟件	XRF Controller	XRF Controller	XRF Controller