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面銅膜厚儀測(cè)厚儀
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點(diǎn)擊：
- 2025年4月2日
- 2025年10月2日
- 廣東深圳市
- 美國(guó)
- 410次
【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】
【詳細(xì)說明】
面銅膜厚儀測(cè)厚儀
深圳市方源儀器有限公司提供的這款多用途的面銅膜厚儀測(cè)厚儀配有探針防護(hù)罩，確保探針的耐用性，即使在惡劣的使用條件下也可以照常進(jìn)行檢測(cè)。它可測(cè)試高/低溫的PCB銅箔，專為PCB銅箔制造商設(shè)計(jì)。
儀器配置：
CMI165主機(jī)、SRP-T1探頭、NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片。
的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)：
●耗損的SRP-T1探頭可自行更換，
●儀器具有照明功能方便測(cè)量時(shí)定位，
●SRP-T1探頭具有透明保護(hù)罩防止探針損壞和測(cè)量時(shí)定位，
●儀器具有溫度補(bǔ)償功能，測(cè)量結(jié)果不受溫度影響；即使剛從電鍍槽中取出的PCB也可即時(shí)測(cè)量，
●儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)，現(xiàn)場(chǎng)無需校正，
●使用普通AA電池供電，一定時(shí)間不操作自動(dòng)關(guān)閉儀器，
●測(cè)試數(shù)據(jù)通過USB2.0和特定軟件實(shí)現(xiàn)高速傳輸至電腦，可保存為Excel文件（選配功能）。
工作原理：
應(yīng)用良好的微電阻測(cè)試技術(shù)，符合EN14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。SRP-T1探頭由四支探針組成，AB為正極CD為負(fù)極；測(cè)量時(shí)，電流由正極到負(fù)極會(huì)有微小的電阻，通過電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚，不受絕緣板層和線路板背面銅層影響。
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