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便攜式膜厚測(cè)試儀CMI250X射線熒光測(cè)厚儀
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點(diǎn)擊：
- 2025年4月2日
- 2025年10月2日
- 廣東深圳市
- 美國(guó)
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【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】
【詳細(xì)說(shuō)明】
便攜式膜厚測(cè)試儀CMI250X射線熒光測(cè)厚儀
深圳市方源儀器提供的便攜式膜厚測(cè)試CMI250X射線熒光測(cè)厚儀有著測(cè)量結(jié)果、日期及時(shí)間、統(tǒng)計(jì)分析等儲(chǔ)存后可通過(guò)連接線發(fā)送到您的電腦技術(shù)。該儀器還支持雙功能技術(shù)磁感應(yīng)和渦流感應(yīng)，渦流技術(shù)測(cè)量如鋁、黃銅或銅等有色金屬上的非導(dǎo)電涂層：特富龍、搪瓷、環(huán)氧樹脂、陽(yáng)極氧化膜、粉末涂料、油漆等。磁感應(yīng)技術(shù)用于測(cè)量鋼鐵底材上的非磁性涂層：鋅、鎘、油漆、涂料等。
便攜式膜厚測(cè)試儀CMI250X射線熒光測(cè)厚儀參數(shù)：
| 產(chǎn)品名稱：膜厚測(cè)試儀CMI250 產(chǎn)品型號(hào)：CMI250 產(chǎn)品產(chǎn)地：美國(guó) 測(cè)試范圍：0.001-2.04mm（0.1-80mils）、0.001——1.52mm（0.1-60mils) 測(cè)試精度：參考不同的標(biāo)準(zhǔn)片±（2µm+3%讀數(shù)） 測(cè)試時(shí)間：2S 保修時(shí)間：1年 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)： （磁感應(yīng)）符合AST M B499和B530、DIN 50981、ISO 2178及BS 5411標(biāo)準(zhǔn)第9和11部分的計(jì)量方法 （渦流感應(yīng)）符合AST M B244和B529、DIN 50984、ISO 2360及BS 5411標(biāo)準(zhǔn)第3部分的計(jì)量方法 |
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)： | |
--自動(dòng)識(shí)別底材 | |
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