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奧林巴斯手持合金分析儀知識(shí)點(diǎn)介紹
點(diǎn)擊次數(shù)：243 發(fā)布時(shí)間：2022-10-31
合金分析儀誕生于x射線理論，主要用于航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料元素的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。隨著世界經(jīng)濟(jì)的興起，它是工業(yè)和航天制造領(lǐng)域不ke缺少的快速成分識(shí)別工具。
合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，可適用于確認(rèn)和量化物質(zhì)中的特定元素的。此設(shè)備可以根據(jù)X射線發(fā)射的波長(zhǎng)（ω）和能量（E）從而來(lái)確定特定的元素，并通過(guò)測(cè)量相應(yīng)的射線密度來(lái)確定元素的數(shù)量。這樣，XRF度普術(shù)就可以確定物質(zhì)元素的組成。
其實(shí)每一個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子（負(fù)電顆粒）在核周圍的軌道上進(jìn)行著運(yùn)行。電子的數(shù)量相當(dāng)于核中質(zhì)子（正電顆粒）的數(shù)量。我們可以從元素周期表中的原子數(shù)中知道質(zhì)子的數(shù)量。每個(gè)原子數(shù)對(duì)應(yīng)于固定元素的名稱，如鐵、FE和26個(gè)原子數(shù)。
在X射線分析中，放射在X射線發(fā)射管中的高能初級(jí)光子會(huì)影響樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量來(lái)影響內(nèi)層的電子脫軌，即K層或L層。此時(shí)，原子成為不穩(wěn)定的離子。由于電子本能尋求穩(wěn)定性，外L層或M層的電子進(jìn)入以彌補(bǔ)內(nèi)層空間。當(dāng)這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層時(shí)，它們釋放能量，我們稱之為二次X射線光子。整個(gè)過(guò)程被稱為熒光輻射。每個(gè)元素的二次輻射都有自己的特點(diǎn)。X射線光子輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量約為6.4千電子伏。X射線的數(shù)量或密度可用于測(cè)量X射線在一定時(shí)間內(nèi)輻射的特定元素。典型的X射線能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布。