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X-Cite-X-Cite臺式EDXRF光譜儀
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
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- 2024年11月21日
- 2025年5月21日
- 上海上海市
- 美國
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【產(chǎn)品簡介】
6定制的濾光片，讓您更快更精確地測量微量元素
低至123eV的分辨率
【詳細(xì)說明】
特點
無損元素分析，分析范圍從F(9)—Fm(100)，元素，含量次ppm~*
6定制的濾光片，讓您更快更精確地測量微量元素
低至123eV的分辨率
設(shè)計堅固、小巧
8/16位樣品盤
專有的nEXtTM軟件包，操作方便
性能強(qiáng)大，檢測快速
可選：高計數(shù)率，高分辨率硅漂移探測器（SDD），適用于高原子序數(shù)和低原子序數(shù)元素的檢測。
X-CITE
Xenemetrix的X-Cite能量色散X射線熒光光譜儀（EDXRF）提供高性價比地元素分析方案。
緊湊型外型設(shè)計便于放置在傳統(tǒng)的實驗臺，儀器內(nèi)集成完整的計算機(jī)系統(tǒng)。堅固耐用的外型設(shè)計也適合移動實驗室。
Xenemetrix的X-Cite采用了高分辨率的探測器和功能強(qiáng)大的X射線管，具有不同尺寸的檢測光斑，以適應(yīng)不同尺寸的樣品。
該分析儀應(yīng)用于無損定性和定量檢測，元素分析范圍從F(9）到Fm(100)。檢測結(jié)果，能夠在現(xiàn)在和未來提供強(qiáng)大的分析結(jié)果。在用限的樣品量或者樣品必須完整保存的應(yīng)用中，這種檢測方法是極其有價值的。
該創(chuàng)新裝置優(yōu)于傳統(tǒng)的耗資又復(fù)雜的需液氮制冷的系統(tǒng)。
集成的計算機(jī)系統(tǒng)能進(jìn)性全面的數(shù)據(jù)分析和傳輸。
硅漂移探測器(SDD)：
硅漂移探測器有更高的計數(shù)率,更佳的分辨率, 分辨率低至123eV，及更快速的檢測速度。
PD（Pin 二極管）探測器：
超薄的探測器窗對低原子序數(shù)元素提高有好的檢測性能。基本和可靠的探測器，分辨率≥ 150eV。
1、內(nèi)置計算機(jī)系統(tǒng) 5、自動進(jìn)樣器
2、高壓電源 6、樣品讀取位置
3、樣品室 7、電制冷硅PIN檢測器
4、 X射線管 8、控制板
重要應(yīng)用：
- 石化
- 聚合物
- 學(xué)術(shù)/教育
- 建筑
- 冶金
- 合金
- 環(huán)保
- 采礦及地質(zhì)
- 法鑒
- 鑒定及貴金屬
- 醫(yī)藥與生物醫(yī)學(xué)