Genius IF

SDD / LE

具有二次靶激發(fā)模式的臺(tái)式EDXRF光譜儀

Ø 優(yōu)化輕元素檢測(cè)

Ø 硅漂移探測(cè)器

Ø 定性和定量元素分析

Ø 快速無(wú)損分析方法

Ø 微量元素分析

【特點(diǎn)】

• 無(wú)損元素分析范圍從C(6)—Fm(100)，含量范圍從次PPM—*。
• *的結(jié)構(gòu)結(jié)合了8個(gè)二次靶和8個(gè)定制的光管濾光片，快速精確地測(cè)定微量元素。
• *的計(jì)數(shù)率和分辨率的硅漂移探測(cè)器(SDD)，分辨率低至123eV，并有輕元素優(yōu)化探測(cè)器可選。
• 8/16位的樣品盤
• 強(qiáng)大的軟件分析包

Genius IF

Xenemetrix的Genius IF（二次靶）EDXRF光譜儀為目前的元素分析市場(chǎng)提供高性價(jià)比的解決方案。

該分析儀可進(jìn)行無(wú)損定性和定量分析，其分析范圍從C(6)—Fm(100)，含量范圍從次ppm-*。

Genius IF有著功能強(qiáng)大的組成部分：

• 集成電腦系統(tǒng)。
• 高分辨率硅漂移探測(cè)器。
• 高功能X射線光管，檢測(cè)光斑尺寸可變，專為適應(yīng)多尺寸的樣品而設(shè)計(jì)。
• 8個(gè)二次靶和8個(gè)定制的光管濾光片，快速精確地測(cè)定微量元素。

Genius IF也可以傳統(tǒng)的直接激發(fā)模式。這個(gè)小型的光譜儀可置于傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)臺(tái)上，也適用于移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室—鑒于其堅(jiān)固的設(shè)計(jì)。

同事，它也符合沖擊試驗(yàn)的MIL 810E規(guī)格。

硅漂移探測(cè)器（SDD）：高計(jì)數(shù)率，高分辨率（低至123eV）和快速的反應(yīng)時(shí)間，大大節(jié)約了操作時(shí)間。
SDD LE：超薄探測(cè)器窗為低原子序數(shù)元素的分析提供了更*的性能。

重要應(yīng)用

應(yīng)用范圍包括分析：

• 石油化工
• 聚合物
• 冶金樣品
• 合金
• 環(huán)境
• 石油，燃料，柴油&液體
• 礦業(yè)和地質(zhì)（含稀土元素）
• 法鑒
• 鑒定&貴金屬
• 藥學(xué)與生物醫(yī)學(xué)

二次靶

Genius IF有著結(jié)構(gòu)，由8個(gè)二次靶和8個(gè)定制的光管濾管片相結(jié)合，在直接激發(fā)模式中使用，*激發(fā)所有在EDXRF中能檢測(cè)的元素。

WAG（廣角結(jié)構(gòu)）的二次靶技術(shù)能*地分析大量，少量及微量元素。

X射線管激發(fā)的二次靶（純?cè)兀㎏特征線，以做到“單色”激發(fā)樣品。

使用二次靶可以*的降低某些元素的檢出限。

極低的檢出限使得Genius IF應(yīng)用更為廣泛，使其能進(jìn)入傳統(tǒng)EDXRF無(wú)法使用的領(lǐng)域，成為zui多功能元素分析儀。