事件相關電位系統(tǒng)使其能夠增加更多的通道、更高的數(shù)字分辨率，更廣的輸入范圍以及更快的采樣率，但在儀器的大小尺寸和耗電量方面卻沒有任何得增加。電極帽體積更加小巧而且輕便，同時還可以得到更好的采集信號。
事件相關電位系統(tǒng)的測試方法：
事件相關電位屬于長潛伏期誘發(fā)電位，測試時一般要求被試者清醒，并在一定程度上參與其中。引出ERPs的刺激是按研究目的不同編制而成的不同刺激序列，包括兩種及兩種以上的刺激，其中一個刺激與標準刺激產(chǎn)生偏離，以啟動被試的認知活動過程。
如果由陽性的物理刺激啟動，除了由認知活動產(chǎn)生的內(nèi)源性成分，尚包括外源性刺激相關電位；如由陰性刺激來啟動心理活動過程，則引出由認知加工而產(chǎn)生的內(nèi)源性成分。
P3為ERPs中重要的內(nèi)源性成分，現(xiàn)時對它的研究較為廣泛。多為神經(jīng)精神學科研究，如精神分裂癥、腦血管疾病和癡呆癥、智力低下等，通過研究P3的潛伏期、波幅、波形變化，反映認知障礙或智能障礙及其程度，同時尚應用于測謊研究。另有人將P3、CNV用作觀察神經(jīng)精神藥物治療效果的指標。
事件相關電位的另一內(nèi)源性成分N2為刺激以后200毫秒左右出現(xiàn)的負向波，反映大腦對刺激的初步加工，該波并非單一成分，而是一復合波，由N2a和N2b兩部分組成，N2a不受注意的影響，反映對刺激物理特性的初步加工。
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