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            巨貿(mào)儀器(北京)有限公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第18年

            18610631478

            半導(dǎo)體可靠性環(huán)境箱
            電池試驗(yàn)箱
            鋰電池專用試驗(yàn)箱
            電機(jī)測(cè)試平臺(tái)環(huán)境艙
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            鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)
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            跌落試驗(yàn)臺(tái)
            振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)

            ORT測(cè)試規(guī)范

            時(shí)間:2014/1/16閱讀:9663
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            1. 目的:
            本試驗(yàn)為確認(rèn)和監(jiān)督產(chǎn)品于量產(chǎn)階段的可靠度仍符合設(shè)計(jì)要求.
            2. 適用范圍:
            本程序適用于公司量產(chǎn)階段生產(chǎn)的產(chǎn)品。
            3. 名詞釋義:
            ORT(On Going Reliability Test):持續(xù)可靠度測(cè)試
            4. 支持文件:
            4. 1 可靠性試驗(yàn)規(guī)范 ( W-MQ0813 )
            4. 2 例行可靠性測(cè)試規(guī)范 ( W-MQ0814 )
            5. 權(quán)責(zé):
            5.1 研發(fā)和工程單位負(fù)責(zé)對(duì)新產(chǎn)品的開發(fā),設(shè)計(jì),改良。
            5.2 品管在量產(chǎn)制令批中和外購(gòu)電源進(jìn)料批中取樣5pcs樣品至QA。
            5.3 QA執(zhí)行產(chǎn)品ORT驗(yàn)證.
            5.4儀器設(shè)備,測(cè)試方法及不良分析由工程,制造單位進(jìn)行協(xié)助。
            6. 程序:
            6.1 品管IPQC依據(jù)DIP制造生產(chǎn)制令按批號(hào)抽取5PCS EASM半成品樣品至QA
            品管IQC依據(jù)外購(gòu)電源或Adapter進(jìn)料批抽取5PCS樣品至QA
            6.2 QA依據(jù)產(chǎn)品填寫樣品紀(jì)錄于ORT測(cè)試記錄表(F-MQ0861)
            6.3 QA依ORT測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試條件執(zhí)行ORT測(cè)試。
            6.4 測(cè)試過程發(fā)現(xiàn)問題后知會(huì)工程及相關(guān)部門進(jìn)行問題改善.
            6.5 測(cè)試OK后知會(huì)品管,測(cè)試結(jié)案.

            6.6 產(chǎn)品測(cè)試項(xiàng)目,數(shù)量,條件,方法及判定如下:

            測(cè)試項(xiàng)目數(shù)目測(cè)試
            目的
            測(cè)試
            儀設(shè)
            測(cè)試條件及方法判定
            A-1
            開關(guān)機(jī)測(cè)試
            2pcs確認(rèn)待測(cè)物在規(guī)定使用下開關(guān)機(jī)能正常操作.可調(diào)變壓器
            網(wǎng)絡(luò)線
            輸入電壓:
            Switch Power:90Vac&255Vac
            Adapter:110Vac或220Vac
            測(cè)試溫度:25℃
            1. 將待測(cè)物各port短接
            2. 待測(cè)物通電ok后斷掉輸入電源.5秒一個(gè)循環(huán).開關(guān)機(jī)30次.
            3. 改變輸入電壓重復(fù)第2步驟.
            待測(cè)物測(cè)試過程中LED顯示正常
            A-2 高溫?zé)龣C(jī)測(cè)試1pcs檢測(cè)待測(cè)物在不同溫度&濕度環(huán)境是否能正常工作.可調(diào)變壓器
            Microtest
            網(wǎng)絡(luò)線
            恒溫恒濕箱
            測(cè)試溫度:50℃
            輸入電壓:
            Switch Power:90Vac&255Vac
            Adapter:110Vac或220Vac
            測(cè)試周期:高溫環(huán)境4小時(shí)
            1.待測(cè)物放于高溫實(shí)現(xiàn)室,輸入電壓90Vac .
            2.Microtest各 Port連接至待測(cè)物,傳輸zui高模式Random封包
            3. 循環(huán)結(jié)束后紀(jì)錄測(cè)試數(shù)據(jù)
            4.更換輸入電壓為255Vac重復(fù)第2,3步驟
            1. 確認(rèn)待測(cè)物沒有當(dāng)機(jī),且其傳送封包狀況無Failure
            2. 確認(rèn)測(cè)試后注意銘版及貼紙是否會(huì)有翹起之
            現(xiàn)象
            A-3
            冷開機(jī)測(cè)試
            2pcs測(cè)試待測(cè)物置于低溫環(huán)境下一段時(shí)間后開機(jī)是否能動(dòng)作正常啟動(dòng)可調(diào)變壓器
            Smartbits 2000
            網(wǎng)絡(luò)線
            恒溫恒濕箱
            輸入電壓:
            Switch Power:90Vac&255Vac
            Adapter:110Vac或220Vac
            1. 將 Smartbits 2000Port連
            接至待測(cè)物.待測(cè)物斷電.
            2. 在-5℃下冷藏半小時(shí).然后
            接通電源
            3. 傳輸zui高模式Random封
            包3.000,000筆.
            確認(rèn)待測(cè)物沒有當(dāng)機(jī),且其傳送封包狀況無異常和丟包現(xiàn)象
            A-4 振動(dòng)測(cè)試5pcs測(cè)試當(dāng)待測(cè)物在經(jīng)強(qiáng)烈振動(dòng)后是否有發(fā)生零組件脫落,松動(dòng)或機(jī)器故障振動(dòng)模擬機(jī): LD-L & LD-HL
            Smartbits 2000
            測(cè)試溫度:25℃
            1. 啟動(dòng)電源先校正振動(dòng)模擬機(jī)至5檔.
            2. 校正結(jié)束后將待測(cè)物放至振動(dòng)模擬機(jī)上并固定
            3. 測(cè)試時(shí)間:各30分鐘
            4. 待振動(dòng)測(cè)試結(jié)束后打開待測(cè)物上蓋檢查內(nèi)部是否有零件松動(dòng).在用Smartbits 2000對(duì)傳zui高模式滿載的封包并紀(jì)錄測(cè)試結(jié)果
            確認(rèn)待測(cè)物內(nèi)部是否有零件松脫,松動(dòng)并且傳送封包必須沒有Packet loss
            A-5
            溫升測(cè)試
            1pcs確認(rèn)待測(cè)物的各元器件在常溫滿載工作時(shí)的溫度溫升儀
            網(wǎng)絡(luò)線
            輸入電壓:
            Switch& Power:90Vac&255Vac
            測(cè)試溫度:常溫(QA辦公室測(cè)試)
            1. 將待測(cè)物各port短接
            2. 將溫升儀與待測(cè)物的主要發(fā)熱組件相接,并接通電源。工作正常后記錄溫度變化。
            3. 記錄各點(diǎn)的溫度變化,直到穩(wěn)定為止。
            待測(cè)物測(cè)試過程中,待測(cè)物工作正常,并且各主要元器件的zui后穩(wěn)定溫度在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。

             

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