原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的應用體驗，具有高水平的性能、功能和配件選擇， 其測試功能強大，操作簡便易行。我們齊集數十年的技術經驗，廣大客戶反饋，結合工業(yè)領域的設備需求，進行了全面革新。全新的系統設計，實現了低漂移和低噪音水平?，F在，用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。
原子力顯微鏡優(yōu)秀的分辨率，與*的電子掃描算法相結合，顯著提升了測量速度與質量。它是針尖掃描技術的新革新，一直處于先進地位。該系統配置溫度補償位置傳感器，實現了Z軸亞埃級和XY軸埃級的低噪音水平，將這個性能應用在 90 微米掃描范圍、大樣品臺系統上，效果甚至超過高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設計使儀器在較高掃描速度工作時，圖像質量也不會被損壞，實現了更大的數據采集輸出量。
分類：
1、接觸式：利用探針和待測物表面之原子力交互作用，此作用力很小，但由于接觸面積很小，因此過大的作用力仍會損壞樣品，尤其對軟性材質，不過較大的作用力可得較佳分辨率，所以選擇較適當的作用力便十分的重要。由于排斥力對距離非常敏感，所以較易得到原子分辨率。
2、非接觸式：為了解決接觸式之AFM可能破壞樣品的缺點，便有非接觸式之AFM被發(fā)展出來，這是利用原子間的長距離吸引力來運作，由于探針和樣品沒有接觸，因此樣品沒有被破壞的問題，不過此力對距離的變化非常小，所以必須使用調變技術來增加訊號對噪聲比。在空氣中由于樣品表面水模的影響，其分辨率一般只有55nm，而在超高真空中可得原子分辨率。
3、輕敲式：將非接觸式AFM改良，將探針和樣品表面距離拉近，增大振幅，使探針再振蕩至波谷時接觸樣品由于樣品的表面高低起伏，使的振幅改變，再利用接觸式的回饋控制方式，便能取得高度影像。分辨率介于接觸式和非接觸式之間，破壞樣品之機率大為降低，且不受橫向力的干擾。不過對很硬的樣品而言，針尖仍可能受損。
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